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NI推出6款用于NI CompactRIO及NI CompactDAQ平臺的I/O模塊

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)近日針對NI CompactRIO嵌入式控制系統 和 NI CompactDAQ模塊化數據采集系統推出了6款全新的C系列模塊。通過(guò)擴展C系列平臺, NI為工程師和科學(xué)家提供全新升級的用于廣泛嵌入式控制、監測和數據采集的各種選項。
  • 關(guān)鍵字： NI  測量平臺  嵌入式  

在無(wú)人機制導、導航與控制中應用半實(shí)物仿真

  • “使用NI PXI，我們能夠在實(shí)時(shí)狀態(tài)下以低延時(shí)完成復雜的無(wú)人機模型仿真，并完美地模擬了航空設備界面?！?/li>
  • 關(guān)鍵字： NI  HIL  LabVIEW  

使用LabVIEW、PXI、DAQ和DIAdem搭建聲納導流罩監測系統

  • “我們使用NI LabVIEW軟件和NI PXI數據采集硬件開(kāi)發(fā)聲納導流罩監測系統來(lái)采集、處理所有的相關(guān)板載數據，并使用NI DIAdem搭建了一個(gè)后處理系統?！?/li>
  • 關(guān)鍵字： NI  監測系統  LabVIEW  

Qualcomm使用NI VST進(jìn)行802.11ac測試，改進(jìn)測試速度和范圍

  • 就傳統儀器而言，每次測試大約會(huì )取得40個(gè)重要的WLAN收發(fā)器數據點(diǎn)。 NI PXI矢量信號收發(fā)儀的測試速度非?？?，因此能執行完整的增益表掃頻，進(jìn)而采集共300,000個(gè)數據點(diǎn)。
  • 關(guān)鍵字： NI  Qualcomm  測試  FPGA  

NI參加2012 TD-LTE測試技術(shù)研討會(huì )

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng)NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測試技術(shù)研討會(huì )。NI在此研討會(huì )上發(fā)表了題為"重新定義移動(dòng)通信測試——從研發(fā)驗證到制造測試"的精彩演講，演講人NI中國無(wú)線(xiàn)通信行業(yè)市場(chǎng)經(jīng)理湯敏被評為"企業(yè)演講最佳演講人"。
  • 關(guān)鍵字： NI  TD-LTE  通信  

NI PXI矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀助半導體移動(dòng)設備制造商降低測試成本

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)近日發(fā)布了NI NI PXIe-5632 VNA，它經(jīng)進(jìn)一步優(yōu)化，可幫助工程師滿(mǎn)足日益復雜的射頻測試要求，而其成本、尺寸和使用所需時(shí)間僅是傳統堆疊式解決方案的極小一部分。
  • 關(guān)鍵字： NI  分析儀  PXIe-5632  

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測試系統的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構讓測試設置變得更為容易，擴展了測試和報告的靈活性，讓工程師可在并行測試中同時(shí)進(jìn)行這兩項任務(wù)。
  • 關(guān)鍵字： NI  TestStand  測試系統  

儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)

  • 由美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI)舉辦的“NIDays全球圖形化系統設計盛會(huì )”中國站于11月16日在北京萬(wàn)達索菲特大飯店圓滿(mǎn)落幕。今年的NIDays以“儀器 ? 變革進(jìn)行時(shí)”為主題，向近千位來(lái)自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體全方位展示了NI在推動(dòng)測試測量、控制和設計領(lǐng)域及創(chuàng )新技術(shù)應用方面一直所做的努力。
  • 關(guān)鍵字： NI  測試測量  嵌入式  

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

  • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測試系統的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構讓測試設置變得更為容易，擴展了測試和報告的靈活性，讓工程師可在并行測試中同時(shí)進(jìn)行這兩項任務(wù)。
  • 關(guān)鍵字： NI  自動(dòng)化測試  

NI TestStand 2012采用新的模塊化框架

  • NI TestStand 2012采用全新的模塊化框架，能夠簡(jiǎn)化自動(dòng)化測試的開(kāi)發(fā)和報告生成。NI TestStand 2012包含新的異步數據記錄和報告生成方法，適用于并行測試，還能夠提升測試吞吐量。
  • 關(guān)鍵字： NI  測試  

復雜的汽車(chē)電子系統需要高效的測試解決方案

  • 美國國家儀器公司(NI)在汽車(chē)電子領(lǐng)域已經(jīng)耕耘了多年，在半導體技術(shù)與汽車(chē)融合的大趨勢下，他們有哪些舉措呢?為此，我們采訪(fǎng)了NI公司汽車(chē)電子方面的產(chǎn)品經(jīng)理Noah Reading，聽(tīng)他來(lái)講述NI公司在汽車(chē)電子方面的解決之道。
  • 關(guān)鍵字： NI  ECU  汽車(chē)電子  

LabVIEW系統設計軟件對數字開(kāi)發(fā)的影響

  • 長(cháng)期以來(lái)的預測趨勢揭示了整個(gè)系統設計流程中的設計和測試趨于統一，這兩個(gè)先前獨立的功能將被集成在一起。集成功能的明顯優(yōu)勢在于縮短了投入市場(chǎng)的時(shí)間并獲得更好的整體質(zhì)量，而這些優(yōu)勢都歸功于在創(chuàng )建設計的同時(shí)集成了測試定義和實(shí)現。在系統設計過(guò)程中，從仿真到實(shí)現以及最終系統部署，都可以對這些早期測試平臺進(jìn)行重用。
  • 關(guān)鍵字： NI  LabVIEW  FPGA  

整合高性能儀器和FPGA 實(shí)現最佳WLAN測量

  • 在下一代無(wú)線(xiàn)局域網(wǎng)白皮書(shū)中已經(jīng)討論了最新的802.11標準存在的一些問(wèn)題。眾所周知，測試工程師都想盡快找到測試該標準的測試設備。大多數測試工程師發(fā)現使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統方法已經(jīng)無(wú)法適用于該情況。出現該問(wèn)題的原因十分簡(jiǎn)單：測試工程師急需各種資源，主要包括時(shí)間、預算和空間。
  • 關(guān)鍵字： NI  FPGA  WLAN  

NI提供802.11ac WLAN和低耗電藍牙技術(shù)測試解決方案

  • 全新發(fā)布的針對802.11ac WLAN以及低耗電藍牙(BLE)技術(shù)測試的NI解決方案集成了NI WLAN測量套件，基于FPGA的NI PXIe-5644R矢量信號收發(fā)儀(VST)以及NI LabVIEW，可以幫助搭建高性能、基于軟件設計的測試系統。
  • 關(guān)鍵字： NI  FPGA  WLAN  

NI LabWindows/CVI 2012加速測試測量應用程序的開(kāi)發(fā)

  • NI LabWindows/CVI 2012，是用于測試測量應用的ANSI C集成開(kāi)發(fā)環(huán)境(IDE)的一個(gè)重要的升級更新，它增添了許多全新工具包并包含了許多經(jīng)過(guò)改善-了的工具包，能夠幫助工程師更加快速地開(kāi)發(fā)他們的系統。
  • 關(guān)鍵字： NI  LabWindows/CVI  測試測量  
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