NI參加2012 TD-LTE測試技術(shù)研討會(huì )

　　美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng)NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測試技術(shù)研討會(huì )。NI在此研討會(huì )上發(fā)表了題為"重新定義移動(dòng)通信測試——從研發(fā)驗證到制造測試"的精彩演講，演講人NI中國無(wú)線(xiàn)通信行業(yè)市場(chǎng)經(jīng)理湯敏被評為"企業(yè)演講最佳演講人"?！　?/p>本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/139899.htm

NI中國無(wú)線(xiàn)通信行業(yè)市場(chǎng)經(jīng)理湯敏正在進(jìn)行演講

　　在演講中湯敏為到場(chǎng)嘉賓介紹了NI是如何通過(guò)為無(wú)線(xiàn)通信領(lǐng)域的工程師和科學(xué)家提供豐富的軟硬件工具從而提高測試效率、加速設計創(chuàng )新。NI的無(wú)線(xiàn)通信測試方案，采用以軟件為中心的模塊化射頻儀器構架，基于現成可用的模塊化硬件設備，通過(guò)豐富的射頻與無(wú)線(xiàn)工具包以及IP共享，從TD-LTE到最新的802.11ac，工程師可快速實(shí)現從研發(fā)驗證到生產(chǎn)測試的一體化流程：對于研發(fā)驗證，通過(guò)提供基于軟件無(wú)線(xiàn)電架構的開(kāi)放式測試驗證平臺，助力企業(yè)和研究院所的自主創(chuàng )新和自主知識產(chǎn)權;對于制造測試，通過(guò)提供高速并行式產(chǎn)線(xiàn)測試平臺 ，為企業(yè)提供高性?xún)r(jià)比的一站式測試解決方案 。

　　NI還在現場(chǎng)設置了展臺，向到場(chǎng)的嘉賓展示了NI在無(wú)線(xiàn)通信領(lǐng)域的最新產(chǎn)品和技術(shù)，其中包括業(yè)界首款矢量信號收發(fā)儀(VST)，它在單個(gè)PXI模塊化儀器中，結合了矢量信號分析儀、矢量信號發(fā)生器與用戶(hù)可編程的FPGA模塊。對于射頻領(lǐng)域來(lái)說(shuō)，它可以進(jìn)行多協(xié)議多終端并行測試，方便地實(shí)現了單套測試系統并行測試四個(gè)待測終端，具體包括GSM的校準與綜測、WCDMA的校準與綜測、WiFi測試、Bluetooth測試以及GPS測試等，為進(jìn)一步提升測試效率降低測試成本提供了一站式解決方案?！　?/p>

與會(huì )嘉賓在參觀(guān)NI的展臺

　　測試技術(shù)是TD-LTE發(fā)展產(chǎn)業(yè)鏈上十分關(guān)鍵的一環(huán)，未來(lái)TD-LTE產(chǎn)業(yè)將面對多模多頻的終端發(fā)展方向以及移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)時(shí)代復雜的網(wǎng)絡(luò )環(huán)境，而未來(lái)商用智能終端尤其是TD-LTE終端的最大消費和生產(chǎn)國是中國，這對今天的測試技術(shù)、測試儀器提出了巨大挑戰。NI希望能抓住此機遇，為研發(fā)驗證及制造測試的工程師們提供一個(gè)統一的平臺，幫助他們降低測試成本，從而提高產(chǎn)品的市場(chǎng)競爭力，來(lái)為整個(gè)TD-LTE產(chǎn)業(yè)發(fā)展做好鋪墊。