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model-based design toolbox 文章 進(jìn)入model-based design toolbox技術(shù)社區
Kawasaki Microelectronics推出MIPS-Based Topaz先進(jìn)SoC計算子系統
- MIPS科技宣布，Kawasaki Microelectronics（K-micro）已采用 MIPS-Based™ Topaz 先進(jìn) SoC 計算子系統，進(jìn)軍快速增長(cháng)的無(wú)源光網(wǎng)絡(luò )（PON）市場(chǎng)。采用 MIPS32®24Kc™ 和 24Kf™ 處理器的 Topaz 有助于 PON 設計師更快更有效地推出高性能設備。K-m
- 關(guān)鍵字： Kawasaki Microelectronics MIPS-Based SoC Topaz 單片機 計算子系統 嵌入式系統 SoC ASIC
Synopsys公司Design Compiler拓樸繪圖技術(shù)助ST加速ASIC設計
- Synopsys宣布意法半導體在其90nm和65nm 的ASIC設計流程中，應用Design Compiler拓樸繪圖技術(shù)，縮短了整個(gè)設計時(shí)間。意法半導體在其ASIC方法集中應用Design Compiler拓樸繪圖技術(shù)，從而消除了設計的反復(Iteration)，實(shí)現了內部設計團隊和外部客戶(hù)整個(gè)設計環(huán)節工作的順暢。 在A(yíng)SIC模式下，設計能否按計劃完成，在很多程度上取決于設計收斂完成前，網(wǎng)表在客戶(hù)與ASIC供應商間反復時(shí)間的縮短。Design Compil
- 關(guān)鍵字： ASIC設計 Compiler拓樸繪圖技術(shù) Design ST Synopsys 單片機 嵌入式系統 EDA IC設計
Forte推出升級版Cynthesizer行為綜合方案
- Forte Design升級了Cynthesizer行為綜合方案，可提供更廣泛的生產(chǎn)ESL設計流程。Cynthesizer v2.5支持功率估計、形式驗證、模塊化接口IP、FPGA樣品及完整的設計報告子系統。這些新功率可使設計人員訪(fǎng)問(wèn)關(guān)鍵的設計信息，簡(jiǎn)化高層設計的采用，進(jìn)一步提高設計質(zhì)量。 在該公司與Sequence Design的合作下，Cynthesizer客戶(hù)可用Sequence的PowerTheater自動(dòng)測量RTL及門(mén)電荷下的功耗。通過(guò)測量系統至網(wǎng)表
- 關(guān)鍵字： Forte Design
EMA Design用于PSpice仿真器功率IC模型庫
- EMA Design Automation公司推出了適用于PSpice仿真器的功率IC模型庫，該模型庫由超過(guò)150個(gè)流行的功率IC和元件的時(shí)域仿真模型組成。每個(gè)模型均能模擬元件在實(shí)際工作條件下的開(kāi)關(guān)性能，這對當前開(kāi)關(guān)模式電源至關(guān)重要。同時(shí)這些模型也可精確模擬傳播延遲、開(kāi)關(guān)速度、驅動(dòng)容量、最大占空率和限流特性等非線(xiàn)性特性。 當前，對器件功能、開(kāi)關(guān)頻率和系統相互作用等設計要求日益增加，狀態(tài)空間模型不能揭示影響這些性能特性的重要非線(xiàn)性因素。而功率IC模型庫中的元件則能使用戶(hù)重復執行高速仿真以揭示各種性能
- 關(guān)鍵字： EMA Design Automation
談PS-based架構的線(xiàn)掃描(Line-scan)影像檢測系統
- 前言 機械視覺(jué)應用在各種產(chǎn)業(yè)的生產(chǎn)制造及品質(zhì)檢測已是行之有年, 利用機械視覺(jué)可以提升檢測精度或加速生產(chǎn)速度，因此逐漸變成許多生產(chǎn)檢測設備必備的一環(huán)。 目前市面上的影像檢測系統大多采用面掃描(Area-scan)的攝影機進(jìn)行影像的采集及分析, 但是隨著(zhù)產(chǎn)品尺寸的加大(例如:PCB, LCD面板, 晶圓), 在提高產(chǎn)能及精度的要求下, 面掃描攝影機的分辨率及取像速度無(wú)法滿(mǎn)足這些要求的事實(shí)開(kāi)始浮上枱面, 而系統業(yè)者也開(kāi)始意識到線(xiàn)掃描(Line-scan)攝影機的分辨率及取像速度才能滿(mǎn)足這些時(shí)勢所驅的產(chǎn)業(yè)需
- 關(guān)鍵字： PS-based 測試測量
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