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基于嵌基于μC/OS-II嵌入式實(shí)時(shí)操作系統的低功耗開(kāi)發(fā)

- 基于嵌基于μC/OS-II嵌入式實(shí)時(shí)操作系統的低功耗開(kāi)發(fā), 隨著(zhù)嵌入式系統應用的日益廣泛,如何實(shí)現嵌入式系統的低功耗開(kāi)發(fā)已經(jīng)成為嵌入式應用發(fā)展的關(guān)鍵技術(shù)之一,是近幾年來(lái)人們在嵌入式系統的設計中普遍關(guān)注的難點(diǎn)與熱點(diǎn)。嵌入式系統正被廣泛應用于移動(dòng)性較強的產(chǎn)品中去
- 關(guān)鍵字: 操作系統 實(shí)時(shí) C/OS-II 嵌入式 低功耗
半導體C-V測量基礎

- 通用測試 電容-電壓(C-V)測試廣泛用于測量半導體參數,尤其是MOSCAP和MOSFET結構。此外,利用C-V測量還可以對其他類(lèi)型的半導體器件和工藝進(jìn)行特征分析,包括雙極結型晶體管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏電池、MEMS器件、有機TFT顯示器、光電二極管、碳納米管(CNT)和多種其他半導體器件。 這類(lèi)測量的基本特征非常適用于各種應用和培訓。大學(xué)的研究實(shí)驗室和半導體廠(chǎng)商利用這類(lèi)測量評測新材料、新工藝、新器件和新電路。C-V測量對于產(chǎn)品和良率增強工程師也是極其重要的,
- 關(guān)鍵字: 吉時(shí)利 C-V測試 半導體 MOSFET MOSCAP
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