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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 雪崩

輕松了解功率MOSFET的雪崩效應

  • 在關(guān)斷狀態(tài)下,功率MOSFET的體二極管結構的設計是為了阻斷最小漏極-源極電壓值。MOSFET體二極管的擊穿或雪崩表明反向偏置體二極管兩端的電場(chǎng)使得漏極和源極端子之間有大量電流流動(dòng)。典型的阻斷狀態(tài)漏電流在幾十皮安到幾百納安的數量級。根據電路條件不同,在雪崩、MOSFET漏極或源極中,電流范圍可從微安到數百安。  額定擊穿電壓,也可稱(chēng)之為“BV”,通常是在給定溫度范圍(通常是整個(gè)工作結溫范圍)內定義的MOSFET器件的最小阻斷電壓(例如30V)。數據表中的BVdss值是在低雪崩電流(通常為
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大容量電池充放電管理模塊MOSFET選型及應用

  • 本文闡述了大容量鋰離子電池包內部功率MOSFET的配置以及實(shí)現二級保護的方案;論述了其實(shí)現高功率密度使用的功率MOSFET所采用的晶圓技術(shù)和CSP封裝技術(shù)的特點(diǎn);提出了保證電池包安全可靠工作,功率MOSFET必須具有的技術(shù)參數,以及如何正確測量MOSFET的工作溫度;最后,給出了輸出端并聯(lián)電阻以及提高控制芯片的輸出檢測電壓2種方案,避免漏電流導致電池包不正常工作的問(wèn)題。
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看懂MOSFET數據表,第1部分―UIS/雪崩額定值

  • 在看到MOSFET數據表時(shí),你一定要知道你在找什么。雖然特定的參數很顯眼,也一目了然(BVDS、RDS(ON)、柵極電荷),其它的一些參數會(huì )十分的含糊不清、模
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根據雪崩性能選擇肖特基二極管

  • 汽車(chē)電子模塊要求采取反向電池保護措施,以避免不良電池操作可能導致的損壞風(fēng)險。肖特基二極管是這種應用的首選器件,因為它們具有很低的前向
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雪崩光電二極管反向電流的測量

  • 雪崩光電二極管(APD)是一種高靈敏度、高速度的光電二極管。施加反向電壓時(shí),能啟動(dòng)其內部的增益機構。APD的增益可以由反向偏置電壓的幅度來(lái)控制。反向偏置電壓越大增益就越高。APD在電場(chǎng)強度的作用下工作,光電流的
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MOSFET的UIS和雪崩能量解析

  • 在功率MOSFET的數據表中,通常包括單脈沖雪崩能量EAS,雪崩電流IAR,重復脈沖雪崩能量EAR等參數,而許多電子工程師在設計電源系統的過(guò)程中,很少考慮到這些參數與電源系統的應用有什么樣的聯(lián)系,如何在實(shí)際的應用中評
  • 關(guān)鍵字: 解析  能量  雪崩  UIS  MOSFET  

功率MOSFET雪崩擊穿問(wèn)題分析

  • 摘要:分析了功率MOSFET雪崩擊穿的原因,以及MOSFET故障時(shí)能量耗散與器件溫升的關(guān)系。和傳統的雙極性晶體管相比,反向偏置時(shí)MOSFET雪崩擊穿過(guò)程不存在“熱點(diǎn)”的作用,而電氣量變化卻十分復雜。寄生器件在
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利用CompactRIO 和LabVIEW在法國阿爾卑斯山脈研究

  • 技術(shù)人員正在“減勢土墩”上安裝設備
    行業(yè):
    科研產(chǎn)品:
    實(shí)時(shí)模塊, FPGA模塊, CompactRIO挑戰:
    通過(guò)收集關(guān)于雪流速度和壓力的實(shí)時(shí)數據,確定雪崩中雪流規律以及雪崩阻滯屏障的有效性。解決
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MOSFET雪崩能量的應用考慮

  •  在功率MOSFET的數據表中,通常包括單脈沖雪崩能量EAS,雪崩電流IAR,重復脈沖雪崩能量EAR等參數,而許多電子工程師在設計電源系統的過(guò)程中,很少考慮到這些參數與電源系統的應用有什么樣的聯(lián)系,如何在實(shí)際的應用中
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MOSFET的UIS及雪崩能量解析

  • 在功率MOSFET的數據表中,通常包括單脈沖雪崩能量EAS,雪崩電流IAR,重復脈沖雪崩能量EAR等參數,而許多電子工程師在設計電源系統的過(guò)程中,很少考慮到這些參數與電源系統的應用有什么樣的聯(lián)系,如何在實(shí)際的應用中評
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理解功率MOSFET的UIS及雪崩能量

  • 在功率MOSFET的數據表中,通常包括單脈沖雪崩能量EAS,雪崩電流IAR,重復脈沖雪崩能量EAR等參數,而許多電子工程師在設計電源系統的過(guò)程中,很少考慮到這些參數與電源系統的應用有什么樣的聯(lián)系,如何在實(shí)際的應用中評定這些參數對其的影響,以及在哪些應用條件下需要考慮這些參數。本文將論述這些問(wèn)題,同時(shí)探討功率MOSFET在非鉗位感性開(kāi)關(guān)條件下的工作狀態(tài)。
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