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邊界掃描
邊界掃描 文章 進(jìn)入邊界掃描技術(shù)社區
邊界掃描和PXI Express(07-100)
- 如同開(kāi)發(fā)PXI做為PCI擴展來(lái)滿(mǎn)足測試測量界專(zhuān)門(mén)要求那樣，PXI Express是基于PCI Express，為了該標準提供相應擴展。因為這種緊密關(guān)系，所以，PCI Express進(jìn)一步改進(jìn)也將適合于PXI Express。
- 關(guān)鍵字： 邊界掃描 PXI Express
新型雷達數字電路便攜式自動(dòng)測試系統設計
- 摘要：以新型雷達裝備數字電路維修保障為背景，提出了“MERGE（組合）”邊界掃描測試模型的建立方法，基于此方法，設計了完善的便攜式數字電路自動(dòng)測試系統，解決了ICT測試、功能測試及傳統邊界掃描測試TPS開(kāi)發(fā)成本高，技術(shù)難度大，故障覆蓋率低的缺陷。該測試系統現已成功擔負新型雷達裝備數字電路的維修保障任務(wù)，應用表明，系統具有設計合理，性能穩定、可靠，故障隔離準確等優(yōu)點(diǎn)。 關(guān)鍵詞：邊界掃描；MERGE；數字電路；故障診斷；自動(dòng)測試系統； 引言 雷達，作為一種重要的軍事武
- 關(guān)鍵字： 邊界掃描 MERGE 數字電路 故障診斷 自動(dòng)測試系統 200902
邊界掃描與處理器仿真測試(05-100)
- 當前,PCB是越來(lái)越復雜,不言而喻,想要獲得滿(mǎn)意的測試覆蓋范圍也更困難了。而且每種測試方法都有其固有的局限性。于是,測試工程師們不得不另辟蹊徑,將幾種技術(shù)組合起來(lái)以達到他們所要求的測試覆蓋范圍。這正是IEEE 1149.1邊界掃描(俗稱(chēng)JTAG)和微處理器仿真測試所追求的。邊界掃描和處理器基仿真測試有各自的應用領(lǐng)域,每種技術(shù)都能達到某種程度的測試覆蓋范圍。然而將兩種技術(shù)無(wú)縫地組合在一起,就有可能達到更高的總測試覆蓋范圍,是任何一種單獨技術(shù)無(wú)法比擬的。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 邊界掃描 處理器
用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)
- 邊界掃描廣泛應用在板級測試和系統內編程中。這些應用典型地包含了具有邊界掃描能力的器件與群集器件測試之間的連接性測試，來(lái)驗證與非邊界掃描器件(存儲器和邏輯器件)的連接性。 測試性和可實(shí)現測試覆蓋范圍是UUT(被測單元)特定的，并依賴(lài)于邊界掃描實(shí)現的水平。特別是在產(chǎn)品測試中，利用連接到UUT上的外設I/O進(jìn)行測試來(lái)擴展邊界掃描測試覆蓋范圍。最近幾年，第3方邊界掃描工具的集成流行于板級產(chǎn)品測試設備，如內電路測試器。往往這樣的集成，比獨立應用的邊界掃描系統優(yōu)越性并不多。某些方案靠組合邊界掃描和ATE資源
- 關(guān)鍵字： ATE 邊界掃描 UUT
邊界掃描解決的測試問(wèn)題(06-100)
- 邊界掃描測試技術(shù)正在變熱。從1990年開(kāi)始，它是針對解決基于物理接觸技術(shù)(如針床和浮動(dòng)探針系統)的傳統板測試的有限接入問(wèn)題。IEEE1149.1邊界掃描應用擴展已超出JTAG原來(lái)成員的想象。 現在有不少的相關(guān)IEEE標準，如1149.4、1149.6、1532和5001,加上兩個(gè)主要的起初標準IJTAG(現在是IEEEP1687和SJTAG)。 ·IJTAG(I指內部)用測試接入端口(TAP)做為進(jìn)入系統芯片(SoC)或類(lèi)似器件內部測試和調試儀器的主要通路形式。 &mi
- 關(guān)鍵字： 邊界掃描 IEEE
AEROFLEX 推出5800系列自動(dòng)測試機 已完全集成邊界掃描功能(JTAG)
- AEROFLEX已向業(yè)界推出帶有集成邊界掃描功能的多功能，多配制的5800系列自動(dòng)測試機。這款機器的特點(diǎn)是把業(yè)界知名的JTAG供應商GOEPEL所提供的邊界掃描功能集成到基AEROFLEX 的PXI 平臺中。為客戶(hù)提供更高的測試覆蓋率。 5800新增的邊界掃描功能可以使用戶(hù)在產(chǎn)品的整個(gè)壽命周期內對具有結構化的器件，板級的器件進(jìn)行測試。通過(guò)把GOEPEL SCANFLEX的硬件和5800數字測試卡集成起來(lái)可以為用戶(hù)提供更高測試覆蓋率的集成測試方案。因為邊界掃描的優(yōu)點(diǎn)不僅在于可以提高測試覆蓋
- 關(guān)鍵字： 邊界掃描
邊界掃描介紹
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