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邊界掃描
邊界掃描 文章 進(jìn)入邊界掃描技術(shù)社區
基于邊界掃描技術(shù)的電路板可測性設計分析
- 引 言 現代電子技術(shù)的高速發(fā)展對傳統的電路測試技術(shù)提出了新的挑戰。器件封裝的小型化、表面貼裝(SMT)技術(shù)的應用，以及由于板器件密度的加大而出現的多層印制板技術(shù)使得電路節點(diǎn)的物理可訪(fǎng)問(wèn)性逐步減低，原來(lái)借助于針床的在線(xiàn)測試(ICT)的局限性日益增大。電路和系統可測試性的急劇降低導致測試費用占電路和系統總費用的比重越來(lái)越高。人們已意識到，單靠改善測試方法來(lái)實(shí)現電路的測試及故障診斷是遠遠不夠的。要從根本上解決問(wèn)題，提高電路的可觀(guān)測性和可控制性，在電路系統設計之初就要充分考慮測試及故障診斷的要求，即進(jìn)行可測性設
- 關(guān)鍵字： 模擬技術(shù) 電源技術(shù) 邊界掃描 電路板 表面貼裝 PCB 電路板
基于邊界掃描技術(shù)的數字系統測試研究
- 當今，微電子技術(shù)已經(jīng)進(jìn)入超大規模集成電路(VLSI)時(shí)代。隨著(zhù)芯片電路的小型化及表面封裝技術(shù)(SMT)和電路板組裝技術(shù)的發(fā)展，使得傳統測試技術(shù)面臨著(zhù)巨大的挑戰。在這種情況下，為了提高電路和系統的可測試性，聯(lián)合測試行動(dòng)小組(JTAG)于1987年提出了一種新的電路板測試方法--邊界掃描測試，并于1990年被IEEE接納，形成了IEEE1149．1標準，也稱(chēng)為JTAG標準[1]。這種技術(shù)以全新的"虛擬探針"代替傳統的"物理探針"來(lái)提高電路和系統的可測性。由于JTAG標準的通用性很好，現在許多IC公司都提供了支
- 關(guān)鍵字： 邊界掃描 測量 測試 數字系統
邊界掃描介紹
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