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ieee1149
ieee1149 文章 進(jìn)入ieee1149技術(shù)社區
基于JTAG的調試器、接口及控制器等經(jīng)典設計匯總
- JTAG(JointTestActionGroup，聯(lián)合測試行動(dòng)組)是一種國際標準測試協(xié)議(IEEE1149.1兼容)。標準的JTAG接口是4線(xiàn)——TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時(shí)鐘、數據輸入和數據輸出線(xiàn)。JTAG的主要功能有兩種，一類(lèi)用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問(wèn)題，另一類(lèi)用于Debug，對各類(lèi)芯片以及其外圍設備進(jìn)行調試。本文介紹基于JTAG的調試器及接口設計，供大家參考。 基于Flash和JTAG接口的FPGA多配置系統 本文選用大容
- 關(guān)鍵字： CPLD IEEE1149.1 CPU
基于IEEE1149．4的測試方法研究
- 根據混合信號邊界掃描測試的工作機制，提出了符合1149．4標準的測試方法，并用本研究室開(kāi)發(fā)的混合信號邊界掃描測 ...
- 關(guān)鍵字： IEEE1149．4 測試方法
基于CPLD的IEEE1149.1 USB下載電纜設計
- 引言隨著(zhù)片上系統(SoC，SystemonChip)時(shí)代的到來(lái)，包括復雜可編程邏輯器件(CPLD，ComplexProgrammab...
- 關(guān)鍵字： FPGA CPLD USB下載電纜 IEEE1149.1
嵌入式邊界掃描(05-100)
- 邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級測試方法,新的開(kāi)發(fā)使此技術(shù)吸引著(zhù)嵌入式和系統級測試以及系統內編程操作的注意。隨著(zhù)邊界掃描步入其第2個(gè)十年,新的使人興奮的前景即將出現。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 IEEE1149.1
邊界掃描測試技術(shù)(04-100)
- 最近出現的系統級接口器件，為設計人員把用于制造測試的邊界掃描測試從板級擴展到系統級提供了靈活條件。 擴展到系統級的基礎結構是提供單點(diǎn)接入到多掃描鏈，以支持隔離的診斷能力。這可以用于CPLD和FPGA系統內配置的最佳化，以及編程閃存時(shí)存儲器讀/寫(xiě)周期的最佳化。 它也支持板到板內連測試(用于背投內連失效診斷)到端口連接器引腳級。另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是在產(chǎn)品裝運前提供系統測試，這包括固件檢驗和簡(jiǎn)化固件更新。 擴展邊界掃描到系統級提供執行嵌入式測試結構(即器件級BIST)的基礎結構，這可在EPGA、A
- 關(guān)鍵字： 嵌入式 IEEE1149.1
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