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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 系統級

為IoT設備的能耗操碎心——論智能設備的系統級電源管理

  •   Jaya Kathuria Bindra? (Cypress公司 嵌入式應用事業(yè)部與解決方案開(kāi)發(fā) 應用經(jīng)理)  Nidhin M S? (Cypress公司 應用工程師)  摘? 要:探討包含外設和調節器在內的系統級功耗控制?! £P(guān)鍵詞:IoT;能耗;系統級;電源管理  靈活的?;╣ranular)電源模式,能以低功耗模式工作且獨立于CPU的專(zhuān)用外設,以及可編程的模擬和數字邏輯,有助于優(yōu)化Cypress公司的可編程片上系統(PSoC)的功耗。但在系統級還有更多外設連接到PSoC,這些外設不僅會(huì )消耗電
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整合系統級和芯片級 恩智浦NXP聯(lián)姻飛思卡爾改變市場(chǎng)格局

  • 從2015年12月7日開(kāi)始,飛思卡爾半導體品牌正式停止使用,這意味著(zhù)從今天開(kāi)始,所有與飛思卡爾相關(guān)的大學(xué)生智能車(chē)項目、汽車(chē)電子、消費電子、工業(yè)乃至網(wǎng)
  • 關(guān)鍵字: 系統級  芯片級  恩智浦  飛思卡爾  

系統級語(yǔ)言SystemVerilog和SystemC的融合

  • SystemVerilog和SystemC不久前依然被視為相互排斥的兩種環(huán)境,而現在可以相互協(xié)作,并為實(shí)現設計和驗證方法提供平滑流暢的系統。
  • 關(guān)鍵字: SystemVerilog  SystemC  驗證  系統級  

SystemC與SystemVerilog的比較

  • 就 SystemC 和 SystemVerilog 這兩種語(yǔ)言而言, SystemC 是C++在硬件支持方面的擴展,而 SystemVerilog 則繼承了 Verilog,并對 Verilog 在面向對象和驗證能力方面進(jìn)行了擴展。
  • 關(guān)鍵字: SystemVerilog  面向對象  系統級  

ADI欲以一己之力實(shí)現“圍殺”

  •   當前,對于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)工程師來(lái)說(shuō),壓力越來(lái)越大,主要在于三方面。第一,要面臨產(chǎn)品設計跨學(xué)科的壓力,在實(shí)現某些功能時(shí),要求工程師掌握其它學(xué)科(如醫學(xué)、生物、汽車(chē)等)的專(zhuān)業(yè)知識;第二,產(chǎn)品上市時(shí)間的壓力;第三,設計風(fēng)險管理的壓力,設計開(kāi)發(fā)完成后需要大量的驗證工作來(lái)保證產(chǎn)品能夠正常運行。   ADI公司給出了一組數據,在中國,ADI信息資源中,參考設計的利用率為69%,明顯高于世界其它國家和地區,應用筆記和數據手冊的利用率分別為45%和58%,明顯低于世界其它國家和地區。也就是說(shuō),為減緩這三大壓力,解決所面臨
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復雜的移動(dòng)終端產(chǎn)品系統級電源管理設計方法

LED照明電路和系統級別優(yōu)化分析

  • 半導體廠(chǎng)商也在紛紛涉足LED照明業(yè)務(wù)。LED的電源電路需要驅動(dòng)器IC,很多半導體廠(chǎng)商都推出了多樣化產(chǎn)品。在各廠(chǎng)商競相提高驅動(dòng)器IC的驅動(dòng)能力及效率并實(shí)現更多功能的形勢下,美國國家半導體(National Semiconductor)不
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應對百萬(wàn)門(mén)級系統級芯片驗證挑戰的可擴展解決方案

  • 功能驗證是電子設計人員目前面臨的主要挑戰,無(wú)論是設計團隊還是驗證團隊,都將超過(guò)50%的時(shí)間用在糾錯上,因此這一領(lǐng)域的技術(shù)進(jìn)展將對縮短產(chǎn)品上市時(shí)間產(chǎn)生重大影響。本文探討基于斷言的技術(shù)和改進(jìn)的糾錯方法,以及為
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解決多總線(xiàn)系統級芯片測試問(wèn)題的多域方法

  • 多總線(xiàn)IC設計的迅速涌現將使測試過(guò)程更為復雜,對于基于多時(shí)鐘域和高速總線(xiàn)的復雜IC設計,傳統的ATE方法缺乏必要的多域支持和足夠的性能以確??焖俚?測試開(kāi)發(fā)和高效能。本文提出在測試復雜的多域IC過(guò)程中,可以使用
  • 關(guān)鍵字: 多總線(xiàn)  系統級  方法  芯片測試    

SER的傾向和含意 系統級的含意和重要性

  • 軟誤差率(SER)問(wèn)題是于上個(gè)世紀70年代后期作為一項存儲器數據課題而受到人們的廣泛關(guān)注的,當時(shí)DRAM開(kāi)始呈現出隨機故障的征兆。隨著(zhù)工藝幾何尺寸的不斷縮小,引起失調所需的臨界電荷的減少速度要比存儲單元中的電荷聚
  • 關(guān)鍵字: SER  系統級    

淺談芯片(IC)及系統級保護功能

  • 對于設計師而言,在新產(chǎn)品發(fā)布到之前,預測其現場(chǎng)可靠性是非常困難的。但一旦發(fā)生未預期的嚴重現場(chǎng)故障,則說(shuō)明設計師的設計是失敗的。然而,即使沒(méi)有發(fā)生任何現場(chǎng)故障,仍需要回答以下問(wèn)題:設計師是否對產(chǎn)品進(jìn)行了
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綜合儀器方法解決棘手的系統級測試

  • 當今的電子器件和產(chǎn)品在以比以往更快的速度發(fā)展,在許多商業(yè)應用中,從設計到生產(chǎn)的生命周期縮短到僅有6個(gè)月。另外,設備內含和拓撲正從單一向多功能器件轉化進(jìn)而涉及整個(gè)子系統和系統,并常常作為單一方案(例如智能
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適合中國市場(chǎng)的英飛凌車(chē)身電子系統級解決方案

  • 隨著(zhù)汽車(chē)市場(chǎng)的激烈競爭,人們對汽車(chē)駕乘舒適性和個(gè)性化的不斷追求,以往許多只有高級車(chē)輛才具有的功能,目前正在加速進(jìn)入中檔乃至低端車(chē)輛。而這些功能中絕大部分都與車(chē)身電子相關(guān)聯(lián),包括自動(dòng)靈巧的車(chē)門(mén)區域控制、
  • 關(guān)鍵字: 中國市場(chǎng)  英飛凌  車(chē)身電子  系統級    

用于系統級芯片集成的各種處理技術(shù)方案評估

  • 帶有多個(gè)處理單元的SoC器件目前是產(chǎn)品設計鏈上的重要一環(huán)。本文綜合各種因素評估了不同處理單元的優(yōu)缺點(diǎn),并通過(guò)衛星無(wú)線(xiàn)電接收器的設計實(shí)例幫助開(kāi)發(fā)人員理解SoC所涉及處理任務(wù)之間的復雜平衡并有效掌握系統功能的劃
  • 關(guān)鍵字: 系統級  處理技術(shù)  方案  芯片集成    

汽車(chē)電子的系統級電磁兼容性分析

  • 0引言隨著(zhù)電子技術(shù)的不斷發(fā)展,新技術(shù)越來(lái)越多的應用到汽車(chē)領(lǐng)域,因此各個(gè)電子裝置和電子控制系統必...
  • 關(guān)鍵字: 汽車(chē)電子  系統級  電磁兼容性  
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系統級介紹

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