用于測試微型高集成元器件的平臺方案,能夠對處在生產(chǎn)階段的醫療設備進(jìn)行測試的測試平臺，有助于公司管理電子元器件的成本、接入和覆蓋范圍。不管各家公司有沒(méi)有在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段對產(chǎn)品進(jìn)行診斷，也不管它們在生產(chǎn)過(guò)程中有沒(méi)有確保產(chǎn)品質(zhì)量，但它們都免不了
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測試 集成 方案 元器件
下一代LTE 移動(dòng)通訊產(chǎn)品有望成為新的全球標準。但是，因為在初始階段LTE 的服務(wù)范圍有限，所以L(fǎng)TE 智能手機還必須支持其他現有的2G 和3G 通訊技術(shù)，例如W-CDMA、GSM、CDMA2000 等。因此，在LTE 和2G/3G 移動(dòng)系統之間
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移動(dòng) 連接 測試 設計 Cell 手機 多模 LTE 智能 成本
設計復用使芯片設計的效率大為提高，為了跟上設計的步伐，測試也必須采用類(lèi)似的復用技術(shù)。本文以飛利浦半導體的PNX8525 Nexperia數字視頻平臺(DVP)為例，介紹系統芯片的測試復用和調試策略。飛利浦半導體將設計復用策
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數字視頻 可復用 測試 策略
HDD中需精心設計的鏈路是位于前置放大器和讀/寫(xiě)磁頭組件之間的互連。該互連是確保HDD以多倍Gb/s的速率讀寫(xiě)大量數據關(guān)鍵組件，但是，諸如交調失真、過(guò)沖和下沖等影響常會(huì )降低互連的性能，本文簡(jiǎn)要介紹如何利用時(shí)域反射
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測量 磁盤(pán) 測試 驅動(dòng)器
互連中的信號完整性損耗對于數千兆赫茲高度復雜的SoC來(lái)說(shuō)是非常關(guān)鍵的問(wèn)題，因此經(jīng)常在設計和測試中采用一些特殊的方法來(lái)解決這樣的問(wèn)題。本文介紹如何利用片上機制拓展JTAG標準使其包含互連的信號完整性測試，從而利
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邊界掃描 測試 系統級芯片 互連
隨著(zhù)汽車(chē)工業(yè)的發(fā)展和進(jìn)步，人們對汽車(chē)的動(dòng)力性、經(jīng)濟性、安全性及排放等方面提出了更高的要求，傳統的機械式控制系統已經(jīng)遠遠不能滿(mǎn)足這些需要。電子化控制系統以其高精度、高速度、控制靈活、穩定可靠等特點(diǎn)逐漸取
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燃料電池 汽車(chē) 車(chē)控制器 測試
以測試驗證服務(wù)起家、時(shí)至今日并已成長(cháng)至業(yè)界龍頭地位的百佳泰(Allion Labs, Inc)，即將邁向嶄新的里程碑。為提供客戶(hù)更高質(zhì)量與更具前瞻性的技術(shù)服務(wù)(Engineering Service)，百佳泰自跨入2012年起便積極轉型，深化技術(shù)層次，其轉型策略主要包括以下重點(diǎn)項目：
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泰克 測試
安立公司宣布MD8430A LTE基站仿真器和Signalion的SORBAS 移動(dòng)終端模擬器已成功完成了 LTE Advanced載波聚合的互操作性測試 。在2012美國無(wú)線(xiàn)通信展CTIA上，安立公司展示了這個(gè)測試，表明安立公司擁有世界第一個(gè)實(shí)現“全?！陛d波聚合的能力。
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Anritsu 安立 測試 載波聚合
通過(guò)整合安立公司的快速測試設計(RTD)的圖形腳本軟件和帶有RADVISION的ProLab IMS/VoLTE測試套件的MD8430A LTE網(wǎng)絡(luò )模擬器，安立公司(Anritsu)和Radvision在CTLA展上全面的展示了VoLTE設備測試能力。該套全新的VoLTE設備測試方案在安立公司展臺上正式亮相。
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Anritsu 安立 測試 MD8430A
隨著(zhù)SoC設計向存儲器比例大于邏輯部分比例的方向發(fā)展，高質(zhì)量的存儲器測試策略顯得尤為重要。存儲器內置自測試(BIST)技術(shù)以合理的面積開(kāi)銷(xiāo)來(lái)對單個(gè)嵌入式存儲器進(jìn)行徹底的測試，可提高DPM、產(chǎn)品質(zhì)量及良品率，因而正
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測試 標準 嵌入式存儲器
在最新的一項市場(chǎng)調查中，研究人員預計：到2015年，每年將有超過(guò)10億臺IEEE 802.11ac 無(wú)線(xiàn)通信設備投入使用。這是一個(gè)相當驚人的數字，特別是考慮到802.11ac尚未成為官方標準的前提下。所以你可能會(huì )問(wèn)：“什么是802.11ac協(xié)議，它跟當前的Wi-Fi有何區別?”
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NI 測試 802.11ac
安捷倫科技公司(NYSE：A)日前宣布推出四款 X 系列信號發(fā)生器，可提供無(wú)與倫比的相位噪聲、輸出功率、ACPR、EVM 以及帶寬。借助這些功能，新型 Agilent MXG 和 EXG 產(chǎn)品(提供模擬和矢量型號)支持元器件和接收機的開(kāi)發(fā)，可以消除干擾、加快數據吞吐量并提高雷達、軍事通信和消費類(lèi)無(wú)線(xiàn)技術(shù)等應用中的信號質(zhì)量
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安捷倫 測試 信號發(fā)生器 MXG
近日，于美國拉斯維加斯召開(kāi)的世界最大規模網(wǎng)絡(luò )產(chǎn)品商展Interop Las Vegas 2012，10項Best of Interop獎項已各有歸屬，NEC成為最大贏(yíng)家，摘得管理監控和測試類(lèi)以及Best of Interop全場(chǎng)特別獎兩項桂冠。
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NEC 測試 UNIVERGE
大批量半導體芯片制造商必須解決以下這道難題，即如何經(jīng)濟高效地測試嵌入在大型數字系統級芯片設計中的多個(gè)多通道高速I(mǎi)/O接口(如PCI Express、HyperTransport和 Infiniband)。雖然結合了閉環(huán)操作的片上內置自測試(BI
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測試 向量 方法
當第一批電路板樣板放在硬件工程師桌面的時(shí)候，在測試時(shí)他會(huì )感到非常困擾。工程師耗費幾個(gè)星期的時(shí)間設計電路圖和布板，現在電路板做出來(lái)了，上面也安裝好了元器件并拿在手上，現在必須確定它能否工作。工程師插上板
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JTAG BGA 邊界掃描 測試
測試介紹
中文名稱(chēng)：
測試
英文名稱(chēng)：
test
定義1：
對在受控條件下運動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。
應用學(xué)科：
航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科)
定義2：
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗。
應用學(xué)科：
通信科技(一級學(xué)科);運行、維護與管理(二級學(xué)科)
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