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基于復用的SOC測試技術(shù)

  • 基于復用的SOC測試技術(shù),1 引言90年代國際上出現的SOC概念，以系統為中心、基于IP模塊多層次、高度復用的設計思想受到普遍重視和廣泛應用。SOC的高集成度和復雜度使得SOC測試面臨挑戰，傳統的基于整個(gè)電路的測試方法不再適用。對于IP模塊和S
  • 關(guān)鍵字： 技術(shù)  測試  SOC  復用  基于  

ic是什么意思

  • IC，即集成電路是采用半導體制作工藝，在一塊較小的單晶硅片上制作上許多晶體管及電阻器、電容器等元器件，并按照 ...
  • 關(guān)鍵字： IC  測試  

以軟件為核心的測試系統設計

  • 如今，伴隨著(zhù)新技術(shù)的不斷涌現和各行業(yè)新需求的不斷增加，更多差異化產(chǎn)品投放市場(chǎng)的步伐也在不斷加快，這些產(chǎn)品不但集成了更多功能，而且還必須縮減開(kāi)發(fā)周期，以便在與同類(lèi)產(chǎn)品的競爭中獲得優(yōu)勢。與此同時(shí)，各企業(yè)也
  • 關(guān)鍵字： 軟件  核心  測試  系統設計    

選擇測試和測量系統時(shí)注意事項

  • 在可用的測試和測量硬件和軟件范圍內進(jìn)行選擇，對初次用戶(hù)和有經(jīng)驗的用戶(hù)來(lái)說(shuō)，都一樣難辦，這是可以理解的。技術(shù)的進(jìn)步使測量和測試方法的發(fā)展呈指數方式加快，給用戶(hù)提供難以想象的強大系統功能。測試和測量設備跨
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針對納米器件的脈沖I-V測試小技巧

  • 在對納米器件進(jìn)行電流-電壓（I-V）脈沖特征分析時(shí)通常需要測量非常小的電壓或電流，因為其中需要分別加載很小的電流或電壓去控制功耗或者減少焦耳熱效應。這里，低電平測量技術(shù)不僅對于器件的I-V特征分析而且對于高電
  • 關(guān)鍵字： I-V  納米器件  脈沖  測試    

為發(fā)射器或組件測試選擇合適的分析儀

  • 目前，市場(chǎng)上有許多可供選擇的分析儀，有些具備非常特殊的專(zhuān)業(yè)用途，有些則提供了較多的通用射頻測量能力；有些被稱(chēng)為頻譜分析儀，有些則被稱(chēng)為信號分析儀。這些分析儀都是用來(lái)測量和顯示信號頻率與幅度之間的關(guān)系的
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測試測量關(guān)鍵基礎之示波器（一）

  • 一、示波器不可不知的問(wèn)題　　Q1: 在高速串行測試時(shí)，對測試所需示波器有什么樣的要求?哪幾個(gè)指標是最關(guān)鍵的 ...
  • 關(guān)鍵字： 測試  測量  示波器  

測試測量設計實(shí)例（一）

  • 一、簡(jiǎn)易多波形信號發(fā)生器電路設計　　信號發(fā)生器在電子實(shí)驗中作為信號源，通常用得多的是正弦波、三角波、 ...
  • 關(guān)鍵字： 測試  測量設計  

IxLoad在WAP網(wǎng)關(guān)系統測試中的應用

  • 1 引言移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)用戶(hù)在過(guò)去的幾年中高速增長(cháng)，據統計目前全球范圍內移動(dòng)寬帶用戶(hù)數已經(jīng)超過(guò)了有線(xiàn)寬帶用戶(hù)數（540M，480M），權威機構預測這個(gè)數字在未來(lái)的5年內將會(huì )達到1.7B。同時(shí)，移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)的業(yè)務(wù)流量也呈現了爆
  • 關(guān)鍵字： IxLoad  WAP  網(wǎng)關(guān)系統  測試    

DDR3測試的挑戰及解決方法

  • 前言作為DDR2的繼任者，根據JEDEC標準, 目前DDR3的數據速率跨度從800Mbps開(kāi)始直至1.6Gbps。在帶給用戶(hù)更快性能體驗的同時(shí), DDR3卻能保持較低的功耗，相比DDR2減少約20%。雖然2008年整個(gè)DRAM市場(chǎng)低迷，DDR3的出貨量遠
  • 關(guān)鍵字： DDR3  測試  方法    

解析在布線(xiàn)系統測試中遇到的三大疑問(wèn)

  • 　現在由于需要支持10G以太網(wǎng)的測試，各個(gè)標準正在對儀器需要的精度進(jìn)行討論，基本只有達到IV精度的儀器才能支持10G以太網(wǎng)的測試?！　〉?，現在不論是TIA,ISO還是IEEE,都還沒(méi)有對IV精度應該達到什么樣的標準最后定
  • 關(guān)鍵字： 布線(xiàn)系統  測試    

SoC的發(fā)展將使測試與測量設備嵌入芯片

  • 復雜 IC 不僅吸引了更多系統，而且還吞食著(zhù)設計者用于建立、評估與校準芯片的測試設備。要 點(diǎn)芯片設計者正開(kāi)始在自己的復雜 IC上設計測試與測量?jì)x器。在IC中設計測試儀器的潮流開(kāi)始于CPU核心與總線(xiàn)的數字調試硬件?，F
  • 關(guān)鍵字： SoC  發(fā)展  測試  測量設備    

十款主流車(chē)型碰撞測試兒童乘員保護評級

  • 又到六一，大家的目光自然又投向了那些祖國的花朵身上。隨著(zhù)消費者對于汽車(chē)安全的日益重視，對兒童的保護已成為衡量一輛車(chē)安全與否的重要因素之一。歐洲的EURONCAP試驗、美國的NHTSA(美國公路交通安全局)和IIHS(美國
  • 關(guān)鍵字： 測試  保護  評級    

改進(jìn)電路設計規程提高可測試性

  • 隨著(zhù)微型化程度不斷提高，元件和布線(xiàn)技術(shù)也取得巨大發(fā)展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導體之間的絕緣間距縮小到0.5mm，這些僅是其中的兩個(gè)例子。電子元件的布線(xiàn)設計方式，對以后制作流程中的測試能否很
  • 關(guān)鍵字： 電路設計  測試    

綜合儀器方法解決棘手的系統級測試

  • 當今的電子器件和產(chǎn)品在以比以往更快的速度發(fā)展，在許多商業(yè)應用中，從設計到生產(chǎn)的生命周期縮短到僅有6個(gè)月。另外，設備內含和拓撲正從單一向多功能器件轉化進(jìn)而涉及整個(gè)子系統和系統，并常常作為單一方案(例如智能
  • 關(guān)鍵字： 儀器  方法  測試  系統級    
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測試介紹

　　中文名稱(chēng)： 　　測試 　　英文名稱(chēng)： 　　test 　　定義1： 　　對在受控條件下運動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測。 　　應用學(xué)科： 　　航空科技(一級學(xué)科);航空器維修工程(二級學(xué)科) 　　定義2： 　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗。 　　應用學(xué)科： 　　通信科技(一級學(xué)科);運行、維護與管理(二級學(xué)科) [ 查看詳細 ]
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