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測試測量
測試測量 文章 進(jìn)入測試測量技術(shù)社區
測試系統開(kāi)關(guān)技術(shù)(05-100)
- 設計完善的開(kāi)關(guān)系統至少應具備3個(gè)子系統：計算機控制與處理、測量?jì)x表和開(kāi)關(guān)。只要再增加DUTC(被測設備)電源和DUT負載就構成完整的功能測試設備。無(wú)可爭辯的是,開(kāi)關(guān)子系統是測試系統的心臟,因為所有其它子系統是測試系統的心臟,因為所有其它子系統都要與它接口。因此,對它有一個(gè)全面的、正確的了解是十分必要的。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 開(kāi)關(guān)系統 P580
JTAG測試(05-100)
- 現在,邊界掃描技術(shù)可用于以器件為中心方式的測試中,使得在開(kāi)發(fā)、調試和生產(chǎn)測試環(huán)境中采用JTAG(聯(lián)合測試行動(dòng)組)測試技術(shù)。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 JTAG 聯(lián)合測試行動(dòng)組 XJTAG
邊界掃描與處理器仿真測試(05-100)
- 當前,PCB是越來(lái)越復雜,不言而喻,想要獲得滿(mǎn)意的測試覆蓋范圍也更困難了。而且每種測試方法都有其固有的局限性。于是,測試工程師們不得不另辟蹊徑,將幾種技術(shù)組合起來(lái)以達到他們所要求的測試覆蓋范圍。這正是IEEE 1149.1邊界掃描(俗稱(chēng)JTAG)和微處理器仿真測試所追求的。邊界掃描和處理器基仿真測試有各自的應用領(lǐng)域,每種技術(shù)都能達到某種程度的測試覆蓋范圍。然而將兩種技術(shù)無(wú)縫地組合在一起,就有可能達到更高的總測試覆蓋范圍,是任何一種單獨技術(shù)無(wú)法比擬的。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 邊界掃描 處理器
嵌入式邊界掃描(05-100)
- 邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級測試方法,新的開(kāi)發(fā)使此技術(shù)吸引著(zhù)嵌入式和系統級測試以及系統內編程操作的注意。隨著(zhù)邊界掃描步入其第2個(gè)十年,新的使人興奮的前景即將出現。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 IEEE1149.1
新一代開(kāi)放式儀器接口標準LXI(05-100)
- 在推動(dòng)電子測量?jì)x器技術(shù)發(fā)展過(guò)程中,從70年代初至2000年代初的三十多年中,先后出現GPIB(通用儀器總線(xiàn),IEEE488標準)、VXI(VME總線(xiàn)的儀器擴展,IEEE1515標準)和PXI(PCI總線(xiàn)的儀器擴展)三種開(kāi)放式儀器總線(xiàn),2005年9月LXI聯(lián)盟發(fā)布LXI(LAN的儀器擴展)標準1.0版本,標志著(zhù)測量?jì)x器的新一代開(kāi)放總線(xiàn)標準的到來(lái)。LXI標準繼承前面三種開(kāi)放式總線(xiàn)的優(yōu)點(diǎn),在局域網(wǎng)標準(IEEE802.3)基礎上增加測量?jì)x器系統所需的功能,擴展成為性能強大的結構靈活的開(kāi)放式平臺,LXI聯(lián)盟發(fā)
- 關(guān)鍵字： 測試測量 LXI
下一代自動(dòng)測試系統與合成儀器的發(fā)展(05-100)
- 合成儀器是有望革新測試產(chǎn)品的新型測試系統結構體系,業(yè)已被業(yè)內人士逐漸認同。 合成儀器這個(gè)術(shù)語(yǔ)首先是美國國防部(DoD)下一代自動(dòng)測試系統(NxTest)集成產(chǎn)品組使用的,用來(lái)描述該研制組竭力主張的新型測試結構體系。2002年4月,DoC自動(dòng)測試系統(ATS)執行代理辦公室(EAO)正式成立NxTest IPT,由海、陸、空三軍代表組成。主要目標有兩個(gè)：降低DoD ATS的采購和支撐成本;改進(jìn)軍事服務(wù)“ATS功能”的內、外合作。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 自動(dòng)測試系統 合成儀器
NI發(fā)布2009年測試與測量發(fā)展趨勢
- 軟件定義的儀器系統將是本年度最重要的儀器發(fā)展趨勢，用以提升性能和降低成本 2009年1月，如今全球經(jīng)濟現狀對于預算成本有著(zhù)嚴格的限制，測試工程師現今面臨的挑戰將是如何尋找更高效的測試方法。美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI），作為全球測試測量行業(yè)的領(lǐng)導者，指出2009年將極大改進(jìn)測試測量系統效率的三大趨勢——軟件定義的儀器系統，并行處理技術(shù)以及無(wú)線(xiàn)和半導體測試新方法。它們將幫助工程師在減少測試總成本的條件下，開(kāi)發(fā)更快、更靈活的自動(dòng)化測
- 關(guān)鍵字： NI 測試測量
測試測量介紹
電子測試測量?jì)x器：示波器（數字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調頻調幅、音頻、射頻）、頻率計、電源、臺式萬(wàn)用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量?jì)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機、光萬(wàn)用表、光源、光電話(huà)、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無(wú)線(xiàn)電綜合測試儀、數字電纜分析測試
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