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測試測量
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NIDays 2008全球圖形化系統設計盛會(huì )中國站圓滿(mǎn)落幕
- 2008年11月——美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）2008年度 “NIDays全球圖形化系統設計盛會(huì )”中國站于11月18日在上海國際會(huì )議中心圓滿(mǎn)落幕。600余位工程師、11家國內外知名測試測量企業(yè)以及20多家行業(yè)媒體到會(huì )。圍繞“工程師的奧林匹克——綠色應用，科技共享”的主題，本次NIDays技術(shù)盛會(huì )通過(guò)5大專(zhuān)題、18場(chǎng)技術(shù)講座，逾40種案例演繹與新品展示等，向參會(huì )
- 關(guān)鍵字： NIDays 測試測量 LabVIEW
安捷倫科技在 LTE 全球峰會(huì )展示適用于LTE整個(gè)開(kāi)發(fā)周期的測試解決方案
- 安捷倫科技公司在 全球峰會(huì )（LTE World Summit）上展示了LTE 測試解決方案，并對這個(gè)專(zhuān)門(mén)設計的、強大和可擴展的進(jìn)行演示，展示了在 LTE 用戶(hù)設備開(kāi)發(fā)周期（從早期協(xié)議開(kāi)發(fā)到一致性測試）各個(gè)環(huán)節的測試功能。 安捷倫科技副總裁兼安捷倫歐洲、中東地區和非洲市場(chǎng)銷(xiāo)售總經(jīng)理 Benoit Neel表示，“安捷倫是測量行業(yè)的領(lǐng)導者，可為整個(gè) LTE 開(kāi)發(fā)周期提供解決方案。我們已經(jīng)開(kāi)發(fā)了一些率先面市的 LTE 測試產(chǎn)品，確保成功部署 LTE，使之滿(mǎn)足快速上市的目標。&r
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測試測量介紹
電子測試測量?jì)x器：示波器（數字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調頻調幅、音頻、射頻）、頻率計、電源、臺式萬(wàn)用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量?jì)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機、光萬(wàn)用表、光源、光電話(huà)、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無(wú)線(xiàn)電綜合測試儀、數字電纜分析測試
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