PSRR：關(guān)于開(kāi)環(huán)閉環(huán)D類(lèi)放大器的真實(shí)故事

　　結論

　　本文中，我們回顧了測量PSRR的傳統方法，并說(shuō)明了其無(wú)法在BTLD類(lèi)放大器中測量電源紋波影響的原因。BTL輸出結構的固有抵消效果，加上測量期間缺少音頻信號，從而產(chǎn)生一個(gè)虛假讀數。這是該規范的嚴重缺點(diǎn)，因為電源噪聲抑制性能在選擇一個(gè)D類(lèi)放大器時(shí)是極其重要的，特別是在觀(guān)察數字輸入(I2S)閉環(huán)和開(kāi)環(huán)放大器之間的性能差異時(shí)。要想獲得更為精確的電源噪聲抑制圖像，您需要在輸入端注入一個(gè)1kHz音頻信號并在電源上注入噪聲來(lái)研究IMD和THD+N性能。最后，我們介紹了閉環(huán)D類(lèi)放大器是如何能夠對電源噪聲進(jìn)行補償的，而開(kāi)環(huán)放大器卻不能做到這一點(diǎn)。在競爭激烈的消費類(lèi)電子產(chǎn)品市場(chǎng)中，成本最為關(guān)鍵，閉環(huán)架構可以降低系統成本是一個(gè)非常重要的設計考慮因素。

　　參考文獻：

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