PSRR：關(guān)于開(kāi)環(huán)閉環(huán)D類(lèi)放大器的真實(shí)故事
作者：Michael Firth Yang Boon Quek 德州儀器 (TI) 高性能模擬產(chǎn)品部
時(shí)間：2009-11-10
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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但是就音頻質(zhì)量而言，IMD并非是一種能夠給您諸多定性方法的簡(jiǎn)單的測量方法。一種選擇是進(jìn)行相同的實(shí)驗，但現在卻是對THD+N變量曲線(xiàn)進(jìn)行測量，這也正是我們要在后面兩個(gè)測量方法中做的。利用一個(gè)1kHz數字音頻信號和500mVpp電源紋波對THD+N進(jìn)行測量。電源紋波頻率在50Hz到1kHz范圍內變化。
本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/99722.htm圖2中，觀(guān)察不同電源紋波頻率下開(kāi)環(huán)部分的THD+N掃描。紅線(xiàn)表示電源沒(méi)有紋波的放大器性能，其代表理想狀況。其它曲線(xiàn)代表50Hz到1kHz之間變化的紋波頻率。請注意，紋波頻率增加時(shí)，失真影響的頻率帶寬也同時(shí)增加。請注意，開(kāi)環(huán)性能在穩定電源環(huán)境中較好，但是這會(huì )增加成本，并且會(huì )在當今這個(gè)消費類(lèi)電子產(chǎn)品激烈競爭的世界中處于不利地位。
觀(guān)察圖3所示的相同THD+N掃描，但現在針對的是閉環(huán)放大器。反饋功能將抑制互調失真，因此您沒(méi)有看到任何紋波噪聲對音頻性能的影響。
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