Tektronix、Altera和FS2技術(shù)合作

Tektronix TLA邏輯分析儀、Altera Quartus II設計軟件5.1和FS2 FPGAView軟件提供完整的調試包

Tektronix有限公司（NYSE：TEK）、Altera（NASDAQ：ALTR）公司和First Silicon Solutions（FS2）近日發(fā)布了FPGAView?——FS2為Tektronix TLA邏輯分析儀提供的軟件包，可對Altera? FPGA進(jìn)行實(shí)時(shí)調試。采用FPGAView，設計工程師能夠迅速方便的測量其Altera FPGA設計內部的信號，不必重新編譯設計便可以選擇探測哪一組內部信號。

FS2副總裁兼總經(jīng)理Rick Leatherman說(shuō)：“我們與Tektronix和Altera合作，幫助用戶(hù)在設計Altera FPGA時(shí)提高其效能，縮短調試時(shí)間。通過(guò)充分利用我們的調試知識產(chǎn)權、探測技術(shù)和PC軟件專(zhuān)門(mén)技術(shù)來(lái)生成FPGAView，我們?yōu)樵O計人員提供的工具幫助他們迅速方便的進(jìn)行信號測量，而不必重新編譯設計，這實(shí)際上節省了時(shí)間和金錢(qián)?！?

FPGAView軟件包安裝在Tektronix邏輯分析儀上，由Altera’s Quartus? II設計軟件5.1引入的邏輯分析儀接口功能提供支持。邏輯分析儀接口功能通過(guò)用戶(hù)配置復用器將大量的內部信號映射到少量的輸出引腳上。Tektronix邏輯分析儀由JTAG端口連接至FPGA，FPGAView控制哪些內部FPGA信號映射至輸出引腳，進(jìn)行實(shí)時(shí)顯示和調試。與其他調試方法相比，設計人員將會(huì )發(fā)現FPGAView、Altera邏輯分析儀接口功能和Tektronix邏輯分析儀組合方便易用、對系統的干擾較小。

Tektronix邏輯分析儀生產(chǎn)線(xiàn)副總裁David Bennett說(shuō)：“隨著(zhù)FPGA密度和復雜性的不斷提高，設計人員正在尋求易于使用、效率更高的手段來(lái)調試器件內部節點(diǎn)。Tektronix邏輯分析儀這一新的調試方案不但使設計團隊能夠查看其Altera FPGA設計的內部運轉情況，還可以將這些內部信號與電路板上的其他信號進(jìn)行關(guān)聯(lián)?！?

Altera產(chǎn)品和公司營(yíng)銷(xiāo)副總裁Danny Biran說(shuō)：“隨著(zhù)FPGA設計的復雜化，以及縮短設計周期壓力的增大，具備迅速調試FPGA的能力變得越來(lái)越關(guān)鍵，推動(dòng)了對FPGAView等解決方案的需求。設計人員可以利用Tektronix邏輯分析儀和FPGAView自動(dòng)調試過(guò)程的高級功能來(lái)迅速方便的完成其設計，達到產(chǎn)品面市的目標?！?
FPGAView適用于所有的Tektronix TLA邏輯分析儀。此外，FPGAView可采用Altera的ByteBlaster?和USB-Blaster?編程電纜進(jìn)行工作，而不必向邏輯分析儀手動(dòng)輸入信號名稱(chēng)。