彩色濾光片實(shí)現OLED彩色化的瑕疵分析*

　　·兩者的發(fā)光層的結構有所區別：一個(gè)是RGB并列蒸鍍，一個(gè)B+O疊加蒸鍍。然而使用的這些有機材料都是經(jīng)過(guò)測試合格的同一家供應商提供，且通過(guò)了各自的壽命穩定性測試，并沒(méi)有發(fā)現類(lèi)似的黑點(diǎn)瑕疵情況?？梢曰九懦鲈撛?。

　　·兩者使用的基板有所區別：一個(gè)是鍍有金屬電極和ITO薄膜基板，一個(gè)是CF鍍上ITO薄膜的基板。

　　在隨后對這兩種不同基板進(jìn)行表面粗糙度的AFM測試中，發(fā)現了引起黑點(diǎn)瑕疵的主要原因(圖4，圖5)。

　　在A(yíng)FM- SPA-400的測試下，可以觀(guān)察到，在同樣的4mm×4mm的區域內，CF基板表面的粗糙度是ITO基板表面粗糙度的5倍;而在2mm×2mm的區域內，可以更明顯的觀(guān)察到CF基板表面凹凸不平的起伏，其尖峰甚至可以達到40~50nm。所有發(fā)光的有機薄膜層都蒸鍍在ITO上，由于其較差的傳導率，一般有機薄膜層的厚度大約為100nm。在基板表面遍布著(zhù)有機薄膜厚度一半的尖峰(Spike)，其表面的形態(tài)會(huì )直接影響到有機層的表面結構。那么會(huì )導致OLED器件的陽(yáng)極ITO和陰極Al之間很容易出現不穩定的界面，這樣的有機材料和電極之間界面或者有機層和有機層之間界面會(huì )降低器件結構的穩定，也是形成壞點(diǎn)和性能低下的一個(gè)因素。

　　對這兩塊基板的光電參數的測試也同樣驗證了所存在的尖峰對于OLED器件的性能有著(zhù)很大的影響。器件完成后的I-V測試，用來(lái)測試基于基板是不同材質(zhì)的CF和ITO基板上的器件，而且其結構也不同，他們的I-L沒(méi)有辦法作比較。但CF基板有著(zhù)比ITO的基板更高的電流級別。我們認為這是由于CF基板中類(lèi)似尖峰的表面有比一般平整的ITO上制作的樣品更多注入空穴的效果。