泰克推出第三代經(jīng)過(guò)驗證的DDR分析軟件產(chǎn)品

　　全球領(lǐng)先的測試、測量和監測儀器提供商--泰克公司日前宣布，為DPO/DSA70000B系列和DPO7000系列示波器推出第三代經(jīng)過(guò)驗證的DDR分析軟件產(chǎn)品(DDRA選件)。泰克DDR測試解決方案支持DDR、DDR2、DDR3、LP-DDR和GDDR3的全部速度，同時(shí)覆蓋了物理層和數字域。泰克公司還為DDR3存儲器設計推出一套新的擁有Nexus Technology技術(shù)的球柵陣列(BGA)元件內插器(Interposers)，改善了連接能力。泰克系列邏輯分析儀、示波器和探測系統共同構成了DDR設計和測試工程師們所需的關(guān)鍵測試解決方案的核心。

　　DDR3標準支持800MT/s(每秒百萬(wàn)次傳輸)到2133 MT/s的數據速率，相應的時(shí)鐘頻率分別為400 MHz到1066 MHz，是DDR2技術(shù)的兩倍。DDR3特別適合于高性能應用，如文件服務(wù)器、影視點(diǎn)播、編碼和解碼、游戲和3-D可視化。

　　泰克DPO/DSA70000B系列和DPO7000系列示波器的DDR 分析軟件 (DDRA選件)增加了業(yè)內同類(lèi)測試解決方案上沒(méi)有的關(guān)鍵規范驗證測量功能。JEDEC DDR2和DDR3規范(JESD79-3C, JESD79-2E)規定，測量的通過(guò)/失敗極限，如建立時(shí)間和保持時(shí)間應根據相關(guān)信號測得的轉換速率來(lái)作降低?，F在， DDRA選件不僅提供了所需的轉換速率測量功能，還能夠計算額定值減少量，自動(dòng)調節通過(guò)/失敗極限。DDRA及多種完善的探測解決方案相結合，包括日前推出的Nexus Technology公司的BGA內插器，為從物理層角度驗證和調試DDR設計提供了最完整的解決方案。

　　用于示波器和邏輯分析儀的最新BGA元件內插器采用創(chuàng )新的插座式設計，可以簡(jiǎn)便安裝在客戶(hù)電路板上，并能夠輕松改變存儲器元件，進(jìn)行檢定/余量測試，而不需要把電路板送到返修室，從而避免了中斷時(shí)間，有效縮短開(kāi)發(fā)周期。內插器的設計通過(guò)在距BGA球非常近的每條信號線(xiàn)上均采用嵌入式100歐姆電阻器，可提供無(wú)可比擬的信號保真度。在與泰克P7500系列 Tri-Mode探頭及Nexus產(chǎn)品或TLA7000系列邏輯分析儀專(zhuān)用的新型焊接探頭前端一起使用時(shí)，內插器便成為探測系統的一部分，可以以高達1600MT/s及更高的數據速率準確地采集信號。

　　“隨著(zhù)DDR3存儲器設計的尺寸不斷縮小、數據速率不斷提高，信號接入和探測已經(jīng)成為每個(gè)存儲器設計人員的一項關(guān)鍵任務(wù)。” Nexus Technology公司總裁Robert Shelsky說(shuō)，“最新推出的存儲器元件內插器在安裝和使用的簡(jiǎn)便性方面為設計工程師提供了最佳的整體體驗。新內插器有助于加快DDR3存儲器元件的模擬檢定、數字調試和協(xié)議檢驗速度，幫助工程師更快地將自己的設計推向市場(chǎng)。”

　　存儲器系統性能的提升，導致了設計復雜程度的不斷提高，因而需要使用杰出的驗證和測試工具。泰克由示波器、邏輯分析儀、探頭和配套軟件組成的業(yè)內領(lǐng)先的DDR測試套件，為工程師提供了一套全新的產(chǎn)品系列，涵蓋了業(yè)內最優(yōu)秀的功能，幫助其開(kāi)發(fā)運用最新DDR技術(shù)的下一代產(chǎn)品。