泰克提供最精確的超高速USB測試解決方案

　　泰克公司日前宣布，為超高速 USB (USB 3.0)設備的檢定、調試和自動(dòng)化一致性測試提供一套完善的新工具組。泰克本次在DPO/DSA70000B示波器上最新推出的USB-TX選件為驗證USB 3.0發(fā)射機提供了自動(dòng)的一鍵式測試解決方案，為工程師帶來(lái)了更高效的方法，加快產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期。此外，泰克公司還推出了一整套USB 3.0測試夾具，使工程師可以執行更精確的發(fā)射機、接收機和電纜測試。

　　受來(lái)自更快數據傳輸速度的驅使，USB 3.0的性能較當前USB解決方案提高了10倍，但同時(shí)也給系統和電路設計人員帶來(lái)了多重挑戰。增加的帶寬對關(guān)鍵信號傳輸和信號保真度提出了更高的要求，因而需要異常準確、功能多樣的測試解決方案。當業(yè)內其它解決方案只是根據USB-IF測試規范提供標準化測量時(shí)，泰克的USB-TX選項則支持所有測量，包括標準化測試和參考性測試，如擴頻時(shí)鐘(SSC)、轉換、電壓電平等等?？蛻?hù)完全可以信賴(lài)其設計驗證過(guò)程。

　　其它解決方案只限于特定標準化一致性測試，而泰克USB-TX則提供了全面而完善的一系列檢定、調試和一致性測試工具。加上唯一能夠以最近距離探測芯片的插頭式測試夾具，泰克USB3.0測試解決方案可以最真實(shí)地反映信號。

　　“我們得以提前試用泰克為超高速 USB最新推出的測試解決方案，它為Fresco Logic的USB 3.0芯片設計工藝帶來(lái)的生產(chǎn)效率上的提高令人激動(dòng)。”Fresco Logic公司首席技術(shù)官Bob McVay說(shuō)，“AWG7000可以執行接收機容限測試，并能夠迅速從發(fā)射機一致性測試環(huán)境轉到調試。事實(shí)證明，AWG7000可以節約大量時(shí)間。”

　　高速串行標準自動(dòng)化框架

　　選項USB-TX基于TekExpressä框架，該框架是專(zhuān)為自動(dòng)一鍵式測試高速串行數據標準而開(kāi)發(fā)的。TekExpress模塊基于標準機構指定和發(fā)布的測試要求和實(shí)現方法(MOI)，所有測試流程均自動(dòng)完成，客戶(hù)只需選擇所需的測試，就可以獲得包括通過(guò)/失敗和余量結果的完整報告。除新推出的USB 3.0解決方案外，泰克目前還為SATA和DisplayPort提供了自動(dòng)測試模塊。

　　“TekExpress幫助工程師們消除了高速串行數據測試工作中的臆測。在當前環(huán)境中，客戶(hù)要處理多種標準，成為所有領(lǐng)域的專(zhuān)家，這一點(diǎn)極具挑戰性。”泰克公司技術(shù)解決方案部總經(jīng)理Ian Valentine說(shuō)，“TekExpress提供了客戶(hù)所需的專(zhuān)業(yè)技術(shù)，并使得他們能夠專(zhuān)注于早日將設計投向市場(chǎng)上。”

　　完整的發(fā)射機、接收機和電纜測試解決方案

　　USB將加入其它高速串行標準，如速率達8 Gb/s 的PCI Express和6 Gb/s的SATA ，成為要求更高的技術(shù)之一，從而需要先進(jìn)的測量?jì)x器，如泰克最新推出的業(yè)內領(lǐng)先的DPO/DSA70000B示波器。泰克實(shí)時(shí)示波器擁有高達20GHz的帶寬，提供了業(yè)內最優(yōu)秀的信號保真度、最低的噪底和最高的有效比特數(ENOB)，為高要求的一致性測試和調試測試提供了更大的余量和保真度。對于接收機測試來(lái)說(shuō)，泰克AWG7000B任意波形發(fā)生器是唯一可以在一臺儀器中生成所有要求信號的解決方案。同時(shí)，泰克還通過(guò)其DSA8200采樣示波器提供了電纜和信道測量解決方案。