TI將展示超高速USB 3.0傳輸芯片
Texas Instruments將在近日在東京舉行的USB Developers Conference上展示5Gbit/s傳輸測試芯片。據悉該技術(shù)可為新興的USB 3.0接口技術(shù)提高速度。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/94409.htm該測試芯片專(zhuān)為USB 3.0設計,可在超過(guò)4米的USB 3.0傳輸線(xiàn)上驅動(dòng)及接收信號,并保持數據的完整性。
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Texas Instruments將在近日在東京舉行的USB Developers Conference上展示5Gbit/s傳輸測試芯片。據悉該技術(shù)可為新興的USB 3.0接口技術(shù)提高速度。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/94409.htm該測試芯片專(zhuān)為USB 3.0設計,可在超過(guò)4米的USB 3.0傳輸線(xiàn)上驅動(dòng)及接收信號,并保持數據的完整性。
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