吉時(shí)利2009科研測試設備現場(chǎng)體驗巡展在京啟動(dòng)

　　美國俄亥俄州克里夫蘭，2009年3月18日訊：吉時(shí)利儀器公司(NYSE：KEI)，作為新興測量解決方案的領(lǐng)導者，今日宣布將在中國啟動(dòng)“吉時(shí)利2009中國科研測試設備現場(chǎng)體驗巡回展示”，專(zhuān)門(mén)為高校和研究機構搭建學(xué)、研和具體實(shí)踐操作及面對面交流的平臺。首場(chǎng)活動(dòng)將于3月31日下午在北京麗亭華苑酒店三層鴻運廳舉行，詳情請參見(jiàn)http://www.keithley.cn/edm/9/seminar/beijing/pr/ 。

　　本次活動(dòng)中，吉時(shí)利將以涵蓋微弱信號/低電平測試、半導體測試及IV、射頻測試等三大領(lǐng)域的多款測試測量儀器，現場(chǎng)提供大量的產(chǎn)品演示、精彩的技術(shù)講解和免費的技術(shù)咨詢(xún)。與會(huì )者不但能了解到最新的測試測量技術(shù)，更能即時(shí)解決在日常教學(xué)、生產(chǎn)、科研及工作中遇到的測試問(wèn)題，還可以親手操作，現場(chǎng)咨詢(xún)遇到的技術(shù)難題。

　　微弱信號/低電平測試解決方案

　　六十余年來(lái)，吉時(shí)利在微弱信號測試和源產(chǎn)生方面一直處于世界領(lǐng)先水平，包括低電流/高阻測量、低電壓/低電阻測量等解決方案，提供電壓、電流、電阻、溫度、電容以及電荷等微弱電信號的測試，可用于材料研究實(shí)驗室的導電測試以研發(fā)新的納米材料、原型和工藝過(guò)程，及工業(yè)界生產(chǎn)線(xiàn)測試。低電壓測量?jì)x器、低電流測量?jì)x器、開(kāi)關(guān)和源，特別適用于光電器件、顯示器、汽車(chē)電子、軍事/航天等領(lǐng)域的有源和無(wú)源器件的高準確度測量。

　　此次活動(dòng)，所用演示儀器包括具有代表性的皮安表、靜電計、源測量單元等解決方案，如6430型亞fA遠程源表、6517A型靜電計、6514型靜電計、6485型皮安表、6487型皮安表/電壓源、2502型雙通道皮安表、6220型直流電流源、6221型交流和直流電流源、2182A型納伏表、2001/2002數字多用表等。

　　半導體測試及IV解決方案

　　憑借擁有無(wú)可匹敵的靈敏度和自動(dòng)化測試的特性參數分析及測試系統，吉時(shí)利成為半導體測試解決方案的領(lǐng)導者。吉時(shí)利的半導體測試方案具有多功能、可升級、可擴展等特點(diǎn)，包括自動(dòng)參數測試系統，晶片可靠性(WLR)系統和I-V/C-V測試系統等，專(zhuān)注于幫助客戶(hù)應對不斷變化的新材料、新工藝和新結構的挑戰?？捎糜诓牧涎芯?、器件特性分析、可靠性測試和晶圓生產(chǎn)工藝的監控。

　　吉時(shí)利在本次活動(dòng)中將演示4200型半導體特性分析系統(4200-SCS系統、4200-CVU)、自動(dòng)特性分析組合(ACS)以及2635和2636型數字源表。4200-SCS系統以一套緊密集成的特征分析方案取代了多個(gè)分離的電子測試工具，非常適合于半導體技術(shù)研究、工藝開(kāi)發(fā)、可靠性實(shí)驗室/材料與器件研究實(shí)驗室的材料研究，也適合于所有需要臺式直流或脈沖式測試儀器的場(chǎng)合。4200-CVU將C-V測試選件集成到4200型分析系統中，使用戶(hù)能夠在同一平臺上完成直流、脈沖和C-V的測量。自動(dòng)特性分析組合(ACS) 用于搭建集成化的測試平臺，可根據用戶(hù)的測試需求量身定制，提供可配置的靈活測試方案。本部分還將結合數字源表演示吉時(shí)利獨有的測試腳本處理器(TSP) 技術(shù)。

　　射頻測試解決方案

　　吉時(shí)利提供了全套的射頻測試與測量解決方案，適用于手機、傳呼機、基站以及數字交換系統的測試，并能夠滿(mǎn)足最新的 WLAN , WiMAX, TD-SCDMA, WCDMA等對SISO 和MIMO 測試的需求，可用于產(chǎn)品設計、生產(chǎn)和QA/QC實(shí)驗室。借助先進(jìn)的矢量信號分析儀、矢量信號發(fā)生器以及MIMO射頻測試系統等創(chuàng )新產(chǎn)品，吉時(shí)利為高速發(fā)展的無(wú)線(xiàn)測試領(lǐng)域提供最新的測量手段。利用SignalMeister軟件，工程師都可以通過(guò)基于框圖式的圖形用戶(hù)界面快速而方便地創(chuàng )建并分析信號。