R&S總裁強調LTE終端認證測試不容忽視
2月18日,在巴塞羅納的2009年移動(dòng)通信世界大會(huì )期間,羅德與施瓦茨公司(R&S)總裁兼首席運營(yíng)官萊赫先生參加了由中國移動(dòng),沃達豐,Verizon無(wú)線(xiàn)主辦的“全球LTE產(chǎn)業(yè)峰會(huì )”。作為測試儀表廠(chǎng)家的唯一代表,萊赫先生做了“LTE FDD和TDD(TD-LTE)終端認證及測試解決方案“的公開(kāi)演講。他首先回顧了終端認證測試在保證GSM/WCDMA成功運營(yíng)過(guò)程中的經(jīng)驗,強調了終端認證測試應成為L(cháng)TE未來(lái)成功發(fā)展的重要基礎,介紹了R&S公司在LTE國際標準化中所做出的貢獻,尤其是在3GPP, GCF, LSTI, NGMN等組織發(fā)揮的積極作用。同時(shí)討論了LTE成功商用過(guò)程中還需要進(jìn)一步完善的工作。詳細介紹了R&S公司領(lǐng)導LTE的測試解決方案,以及公司將在LTE未來(lái)發(fā)展中的產(chǎn)品規劃。這一發(fā)言充分顯示了R&S公司對LTE發(fā)展的突出貢獻,以及對LTE未來(lái)發(fā)展的信心。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/92066.htm來(lái)自全球超過(guò)200名LTE產(chǎn)業(yè)界的高層領(lǐng)導參加了這次會(huì )議。在與會(huì )發(fā)言當中,充分展示了全球最大運營(yíng)商對LTE發(fā)展及試驗的承諾和清楚的發(fā)展路標,以及未來(lái)LTE FDD和TDD單芯片的終端前景。關(guān)鍵的完整產(chǎn)業(yè)鏈的發(fā)展,具有眾多廠(chǎng)商和運營(yíng)商支持的良好產(chǎn)業(yè)生態(tài)前景。發(fā)言同時(shí)充分表達了全球終端認證的重要基礎性作用。
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