威盛電子對高速串行數據進(jìn)性測試

俄勒岡州比佛頓，2005年9月29日——世界領(lǐng)先的測試，測量和監測儀器供應商泰克公 司（NYSE：TEK），今天宣布芯片技術(shù)和平臺解決方案的領(lǐng)先開(kāi)發(fā)商威盛電子份有限 公司已經(jīng)選擇泰克的數字系統分析工具來(lái)開(kāi)發(fā)其基于串行數據標準（例如第二代 PCI-Express接口和SATA  III）的數字產(chǎn)品。完整的泰克解決方案由TLA7000邏輯分析 儀 和超高性能TDS6000示波器組成，這一方案將使威盛的工程師們更圓滿(mǎn)完成設計和驗證 任務(wù)，進(jìn)行全面的協(xié)同操作性測試工作，并同時(shí)對基于PCI-Express接口和SATA  III規 格的數字產(chǎn)品執行一致性測試。 
 
因為其測試的需要，威盛選擇了新的泰克TLA7012和TLA7016邏輯分析儀，12GHz的 TDS6124C示波器和世界上最快的實(shí)時(shí)示波器－15 GHz的  TDS6154C。TLA7000系列邏輯 分 析儀包括了iLink(tm)工具包，這一工具完美地把邏輯分析器和一個(gè)示波器整合到一 起，從而提供對數字和模擬信號的實(shí)時(shí)觀(guān)察，并從根本上加快多路信號調試的工作。 
 
“威盛科技通過(guò)對未來(lái)科技發(fā)展的預判以及率先應用這些技術(shù)來(lái)保持其在行業(yè)中的領(lǐng) 先 地位，這些技術(shù)被包括在分立硅元件應用或在大范圍內整合到核心邏輯芯片上?！?nbsp; 威 盛電子股份有限公司的產(chǎn)品營(yíng)銷(xiāo)副總裁林哲偉先生說(shuō)，“高速的串行數據總線(xiàn)例如第 二 代PCI-Express接口和SATA III為設計和一致性測量的提出了新的挑戰。泰克的 TLA7000 邏輯分析儀和TDS6000示波器的結合支持了我們在各個(gè)階段的測量要求，這些階段包括 設計、驗證、一致性測量和調試等，并且能使我們的工程師們更具信心地對高速串行 設計進(jìn)行測試和測量?！?nbsp;
“威盛電子有著(zhù)著(zhù)名的創(chuàng )新史，我們很高興他們再次選擇泰克的測試解決方案來(lái)動(dòng)
他 們下一代產(chǎn)品的研發(fā)，”泰克亞太區銷(xiāo)售和營(yíng)運副總裁Bob 
Agnes說(shuō)，“這些超高性能 的泰克儀器將使威盛的工程師們迅速又高效的解決在驗證和一致性測試中遇到的問(wèn) 題， 在確保世界級水平的產(chǎn)品品質(zhì)和可靠性的同時(shí)，減少產(chǎn)品推向市場(chǎng)的時(shí)間?！?/p>本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/8913.htm