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威盛電子對高速串行數據進(jìn)性測試
- 俄勒岡州比佛頓,2005年9月29日——世界領(lǐng)先的測試,測量和監測儀器供應商泰克公 司(NYSE:TEK),今天宣布芯片技術(shù)和平臺解決方案的領(lǐng)先開(kāi)發(fā)商威盛電子份有限 公司已經(jīng)選擇泰克的數字系統分析工具來(lái)開(kāi)發(fā)其基于串行數據標準(例如第二代 PCI-Express接口和SATA III)的數字產(chǎn)品。完整的泰克解決方案由TLA7000邏輯分析 儀 和超高性能TDS6000示波器組成,這一方案將使威盛的工程師們更圓滿(mǎn)完成設計和驗證 任務(wù),進(jìn)行全面的協(xié)同操作性測試工作,并同時(shí)對基于PCI-Express
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