吉時(shí)利集成最新C-V模塊及軟件的4200-SCS系統

　　吉時(shí)利儀器公司(NYSE:KEI)，宣布為其功能強大的4200-SCS半導體特性分析系統新增一套C-V測量功能—— 4200-CVU。 4200-CVU能以測量模塊的形式插入 4200-SCS的任意可用儀器插槽中，能在10KHz到10MHz的頻率范圍內快速而方便地測量飛法(fF)和納法(nF)級電容。在 4200-CVU的創(chuàng )新設計中采用當前最先進(jìn)的高性能電路，有8項專(zhuān)利正在申請中。該設備具有直觀(guān)的點(diǎn)擊式配置界面，線(xiàn)纜連接簡(jiǎn)單，內置的元件模型能夠使用戶(hù)直接獲得有效的C-V測量結果。無(wú)論用戶(hù)是否具有相關(guān)測量經(jīng)驗，都能使用該儀器實(shí)現專(zhuān)業(yè)級的C-V測量。

　　4200-CVU附帶最完整的測試庫，極大提高了測量效率。如果與吉時(shí)利 4200-LS-LC-12結合使用將實(shí)現更高測量效率。 4200-LS-LC-12是帶有電纜和適配器的專(zhuān)用開(kāi)關(guān)矩陣卡，通過(guò)單針探測能實(shí)現高度集成的C-V/I-V測試。4200-PROBER-KIT為可選模塊，使用該模塊能輕松將 4200-SCS與各種廣泛使用的探頭相連，最終幫助用戶(hù)如I-V測試一樣輕松配置和執行功能全面的C-V測試。

　　廣泛的應用支持

　　通過(guò)對4200-SCS系列產(chǎn)品功能的進(jìn)一步增強，吉時(shí)利繼續保持在C-V測量領(lǐng)域領(lǐng)先地位，僅4200這一種半導體測量?jì)x器就能滿(mǎn)足非常廣泛的測量應用需求，其中涵蓋了種類(lèi)豐富的探測器、器件類(lèi)型、制造工藝以及包括脈沖I-V在內的測量方法學(xué)。 4200-CVU及其可選模塊可解決其他特征分析系統無(wú)法解決的問(wèn)題，例如無(wú)法提供完整的C-V/I-V/脈沖，或者用戶(hù)接口和軟件庫支持不足。此外，該系統靈活而強大的測試執行引擎能夠十分方便地在同一測試序列中整合C-V、I-V和脈沖測試。因此，4200-SCS能夠憑借其單一的、緊密集成的特征分析解決方案替代多種電路測試工具。