2008年復旦-諾發(fā)國際銅互連及相關(guān)技術(shù)研討會(huì )最佳研究生論文競賽正式展開(kāi)
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Best Graduates Paper Contest
最佳研究生論文競賽
論文截止日期:2008年2月28號
復旦-諾發(fā)國際銅互連及相關(guān)技術(shù)研討會(huì )將于2008年舉辦第一屆最佳研究生論文競賽。該會(huì )議是由復旦-諾發(fā)互連研究中心舉辦的一年一次的國際會(huì )議,致力于為半導體工藝、先進(jìn)材料研究和銅互連技術(shù)的大學(xué)生、研究人員以及工業(yè)界工程師提供一個(gè)關(guān)于半導體新技術(shù)的交流討論平臺,并提供了與世界一流半導體技術(shù)專(zhuān)家交流學(xué)習的機會(huì )。
本次最佳研究生論文競賽的參賽對象為:中國大陸地區的高校及科研院所的在校研究生。參賽領(lǐng)域包括:
1,半導體制造和互連工藝中的新技術(shù)(Novel technology for semiconductor processing and interconnect)
2,Cu/Low k 集成技術(shù) (Cu/Low k Integration)
3,面向45nm及以下技術(shù)結點(diǎn)的PVD/CVD/ALD擴散阻擋層和銅籽晶層 (PVD/CVD/ALD barrier and seed layers for copper for 45nm and beyond)
4,化學(xué)機械拋光材料和工藝技術(shù)(CMP material and process technology)
5,干法工藝(溝槽結構和雙鑲嵌工藝,干法刻蝕工藝,等離子體造成的損傷,等) (Dry Processing (Trenches & Damascene structures, dry cleaning processes, plasma induced damage, etc.)
6,先進(jìn)介質(zhì)材料(低介電常數介質(zhì),高介電常數介質(zhì),抗反射薄膜等)以及薄膜淀積工藝進(jìn)展(Advanced Dielectric materials (low k, high k, ARCs, etc.) and deposition processes development)
7,先進(jìn)電鍍技術(shù)(Advanced electrofill technology)
8,金屬化的可靠性研究(Reliability of metallization)
9,先進(jìn)圖像轉移技術(shù)(Advanced patterning process)
論文競賽組織者非常歡迎來(lái)自互連技術(shù)的所有領(lǐng)域的優(yōu)秀文章。最佳研究生論文競賽評委會(huì )將由2008年受邀的報告者以及來(lái)自學(xué)術(shù)界和諾發(fā)系統有限公司的專(zhuān)業(yè)人員組成。
論文要求以電子格式提交,內容長(cháng)度為三頁(yè)A4紙,包括所有的說(shuō)明和圖表。文章必須為未公開(kāi)發(fā)表的原創(chuàng )性的文章。提交的文章如果已經(jīng)發(fā)表過(guò)、或在其它會(huì )議報告過(guò)將不會(huì )被接受。作者的聯(lián)系信息統一寫(xiě)在文章的第一頁(yè),內容包括姓名,機構,以及省市。文章必須用英文書(shū)寫(xiě)。最佳論文競賽的論文格式參考IITC會(huì )議的格式,電子模板將在會(huì )議競賽網(wǎng)頁(yè)上登出。我們將在2008年3月發(fā)布文章是否被接收的通知,被接受的文章將在復旦-諾發(fā)國際互連研討會(huì )上進(jìn)行報告。
入選文章的作者將給予相應獎勵:
一等獎 1名;人民幣5000元;
二等獎 2名;人民幣3000元,
三等獎 3名;人民幣1000元。
鼓勵獎:若干。
請將文章在2008年2月之前以Email形式發(fā)送給:
諾發(fā)系統半導體設備(上海)有限公司
Helen Xu,Email: helen.xu@novellus.com
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