用C51系列單片機設計物體分級設備的測量光幕
摘要:首先介紹了光幕測量高度的原理,給出了高度測量光幕的一種實(shí)現方法,分析了由該方法設計的系統結構和主要性能。從而徹底解決了相鄰通路間的干擾,提高了測量精度。
1 引言
光幕是電子測量系統中應用比較多的一種設備。利用光幕可以測量恒速傳送帶上的物體高度、長(cháng)度或寬度等一系列數據,以便為后面的電子系統提供相應的參數。本文給出了一種利用單片機實(shí)現物體高度測量的光幕測量方法。
2 光幕測量物體高度的基本原理
圖1所示是一個(gè)用普通光幕測量物體高度的測試原理結構示意圖。圖中,光幕的一邊等間距安裝有多個(gè)紅外發(fā)射管,另一邊相應的有相同數量同樣排列的紅外接收管,每一個(gè)紅外發(fā)射管都對應有一個(gè)相應的紅外接收管,且安裝在同一條直線(xiàn)上。當同一條直線(xiàn)上的紅外發(fā)射管、紅外接收管之間沒(méi)有障礙物時(shí),紅外發(fā)射管發(fā)出的調制信號(光信號)能順利到達紅外接收管。紅外接收管接收到調制信號后,相應的電路輸出低電平,而在有障礙物的情況下,紅外發(fā)射管發(fā)出的調制信號(光信號)不能順利到達紅外接收管,這時(shí)該紅外接收管接收不到調制信號,相應的電路輸出為高電平。當光幕中沒(méi)有物體通過(guò)時(shí),所有紅外發(fā)射管發(fā)出的調制信號(光信號)都能順利到達另一側的相應紅外接收管,從而使內部電路全部輸出低電平。這樣,通過(guò)對內部電路狀態(tài)進(jìn)行分析就可以得出物體的高度信息。由于上下相鄰光路可能會(huì )相互干擾,因此,選取的紅外發(fā)光管的發(fā)射角度要小于15
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