新型科利登GlobalScan-I系統定位復雜設計和成品率問(wèn)題

科利登系統有限公司(納斯達克代碼：CMOS，世界半導體行業(yè)領(lǐng)先的提供從設計到生產(chǎn)全套測試解決方案的供應商)日前宣布：突出GlobalScan-I系統－用于器件物理分析和定位工藝性能成品率問(wèn)題的新型集成電路診斷系統。GlobalScan-I能夠鑒別出通常被測試失效分析和調試方法遺漏的失效源，這一特點(diǎn)可以實(shí)現快速的設計修正，從而降低掩模重加工成本并縮短產(chǎn)品進(jìn)入量產(chǎn)時(shí)間。
科利登董事會(huì )主席兼首席執行官Graham Siddall博士說(shuō)：“現代集成電路呈現廣泛的失效模式，從結構化失效到間歇的或敏感的缺陷，可能的根本原因會(huì )有很多。通過(guò)隔離與設計或制造工藝無(wú)關(guān)的問(wèn)題，用戶(hù)能夠通過(guò)提高產(chǎn)品性能和縮短產(chǎn)品面市時(shí)間獲得顯著(zhù)的競爭優(yōu)勢?！?
專(zhuān)利的光學(xué)、掃描技術(shù)和軟件設計使GlobalScan-I更高效同時(shí)與目前市場(chǎng)上其它失效分析系統相比更穩固。與傳統的激光掃描顯微鏡 (LSM)系統不同，GlobalScan-I支持多種物鏡選件，采用亞微米圖像疊加方法的精密定點(diǎn)和步進(jìn)掃描模式和實(shí)時(shí)的集成CAD導航技術(shù)。物鏡的選擇包括用于倒貼片和線(xiàn)綁定封裝芯片的兩個(gè)固體浸潤物鏡系統和用于較難探測結構條件下的長(cháng)工作距離 (LWD)物鏡。此外 GlobalScan-I 還具有一個(gè)倒向腔體（inverted-column ）設計，用于與生產(chǎn)測試設備對接。
該系統與科利登的EmiScope系統（業(yè)界領(lǐng)先的IC調試探測系統）構建于同一平臺上，可以根據需要直接升級使其具有和EmiScope相同的功能。將EmiScope技術(shù)結合到GlobalScan-I系統中允許用戶(hù)通過(guò)重新裝配，在整體隔離技術(shù)和節點(diǎn)級信號探測間切換系統功能。