科利登設備用于高速串行總線(xiàn)測試

     科利登系統有限公司日前宣布：科利登已經(jīng)有超過(guò)150套的3.2Gbps數字測試設備在Sapphire?系統上被它全球十大主要客戶(hù)所采用，這些客戶(hù)有著(zhù)名的fabless設計公司，測試承包商及IDM領(lǐng)導廠(chǎng)商。科利登D-3208高性能設備可用于多種應用中的產(chǎn)品特征分析及量產(chǎn)測試，包括HyperTransport，PCI Express和最新的DDRx等。而且，D3208上不僅能對串行總線(xiàn)進(jìn)行分析和測試，也能用于并行總線(xiàn)，而其它很多競爭產(chǎn)品都只能應用于單一的總線(xiàn)模式。

    科利登負責全球運營(yíng)及SPG部(SoC Production Group)高級副總裁Jean-Luc Pelissier說(shuō)：“從產(chǎn)品的特征分析到最終的封裝測試，千兆級的信號完整性需求，低噪聲和皮秒級的抖動(dòng)控制和高精度測試都超出了傳統ATE所能達到的性能范圍。D-3208能幫助客戶(hù)應對當今抖動(dòng)測試的挑戰。事實(shí)上，它們已經(jīng)實(shí)現了比競爭機型更高的測量精度和性能?！?

    D-3208數字測試設備依靠真正的差分通道提高測試過(guò)程中的信號完整性。它包含可編程的jitter injection來(lái)測量抖動(dòng)容限，這是當今那些包含了高速串行總線(xiàn)的高性能SoC器件的一個(gè)關(guān)鍵測試參數。D-3208能提供嵌入時(shí)鐘和源同步時(shí)鐘兩種測試方法。它能提供全面的基于協(xié)議的功能測試來(lái)應對高速串行總線(xiàn)中的固有的非確定性測試。

    D-3208與其它的Sapphire設備無(wú)縫地整合在一起，能為高速差分器件的測試通道提供高達3.2Gbps的測試解決方案，同時(shí)能使用傳統或者源同步的方式進(jìn)行采樣。這些測試通道能在測試程序中進(jìn)行配置，可以定義為16對1.6Gps的輸入或輸出通道或者2組8對3.2Gbps的輸入或輸出通道，進(jìn)一步地提高了該設備的靈活性和性?xún)r(jià)比。

為了應對測試中碰到的一些極具挑戰的問(wèn)題，D-3208還擁有on-the-fly時(shí)序計算和糾錯功能，它能糾正一階(時(shí)鐘偏斜)，二階(線(xiàn)性和邊沿類(lèi)型)和三階錯誤源(邊沿臨界和數據相關(guān))到空前的0.6ps數字精度。它能提供極大的線(xiàn)性度和+/- 30ps的邊沿放置精度。這一不可匹敵的高性能進(jìn)一步提升了Sapphire系統的優(yōu)勢，幫助客戶(hù)提高特征分析的結果和生產(chǎn)的良率。


    關(guān)于Sapphire
    Sapphire是基于NPower?結構和XTOS?軟件的新一代ATE系統。與傳統的大型測試儀完全不同，Sapphire可提供極大靈活性的配置，并具有從DC到幾GHz的數字和模擬測試能力，支持結構測試和功能測試，完全封裝的儀器選件可以自由的放置在測試頭的任何一個(gè)插槽。由于設計時(shí)就充分考慮了簡(jiǎn)單性和低成本，Sapphire最終能達到高集成，小體積和低功耗。它的高帶寬總線(xiàn)可以在各儀器之間進(jìn)行復雜的通信和精確的同步，進(jìn)而提高各種配置下的性能。Sapphire能夠輕易地滿(mǎn)足一個(gè)大的性能范圍的要求，既可用于高性能器件的特征分析到又可用做低成本的產(chǎn)品測試，從而滿(mǎn)足IDM，fabless設計公司以及測試服務(wù)承包商等的各種需要。