如何測量全球最快的功率開(kāi)關(guān)
穩壓器和DC-DC電源內的硅功率器件不久將會(huì )被GaN FET代替。與硅MOSFET相比,其開(kāi)關(guān)速度要快得多,且RDS(on)更低。這將能增強電源的電源效率,為大家帶來(lái)益處。如果您正在設計帶有GaN器件的電源電路,您需要掌握該器件的開(kāi)關(guān)速度。為測量這一速度,示波器、探頭和互連的速度必須足夠快,以盡量減少其對測量產(chǎn)生的影響。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/270512.htm關(guān)于器件性能,我最常被問(wèn)到的問(wèn)題就是“它們究竟有多快?”通常我會(huì )回答是:它們非???,但實(shí)際上我并不知道具體有多快。為探明真相,我使用33GHz實(shí)時(shí)示波器和高速傳輸線(xiàn)探頭對其進(jìn)行了測量。我將探討影響器件速度的設計限制因素及其未來(lái)的發(fā)展前景。經(jīng)過(guò)這些測量,我相信我們將很快能設計出開(kāi)關(guān)速度達到250MHz的電源。
圖1顯示了用來(lái)進(jìn)行測量的兩個(gè)評估板。這兩個(gè)評估板都配備了一個(gè)柵極穩壓器、一個(gè)驅動(dòng)器、一個(gè)脈沖調節器和兩個(gè)eGaN開(kāi)關(guān)。右側的電路板是一個(gè)完整的DC-DC轉換器,其含有一個(gè)Gen4單片半橋(兩者在同一晶圓上開(kāi)關(guān)),并含有一個(gè)L-C輸出濾波器。左邊的評估板在半橋配置上采用了單獨的Gen3 eGaN器件,沒(méi)有L-C輸出濾波器。在這兩種情況下,外部脈沖發(fā)生器通過(guò)焊接到測試板脈寬調制(PWM)輸入的BNC連接器來(lái)提供PWM信號。在輸入電壓為5V和12V的情況下,我在各評估板上測量了開(kāi)關(guān)上升時(shí)間。

圖1:這里僅在左側的電路板上配備了半橋配置,右側的電路板配備了完整的DC-DC轉換器。香蕉插座可將測試板連接至電子負載。通過(guò)BNC連接器可連接至外部脈沖發(fā)生器。
儀器和探頭要求
為確保儀器和探頭不會(huì )對測量造成重大影響,我們可以假設,能夠用和方根法把探頭、示波器和半橋的上升時(shí)間加起來(lái)。盡管這種方法并不總是正確,但我們在最初估計中可假設這一關(guān)系成立。
測得的半橋上升時(shí)間包括示波器的上升時(shí)間和探頭的上升時(shí)間,為:

因此,對于這兩個(gè)例子,如果我們希望測量結果低于5%或10%,則示波器和探頭的上升時(shí)間需分別低于FET上升時(shí)間的32%或46%.換句話(huà)說(shuō),儀器的上升時(shí)間應分別比FET上升時(shí)間快3.1或2.2倍。
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