PCB印制電路板信號損耗測試技術(shù)

2.2 有效帶寬法

有效帶寬法（Effective Bandwidth,簡(jiǎn)稱(chēng)EBW）從嚴格意義來(lái)說(shuō)是一個(gè)定性的傳輸線(xiàn)損耗α的測量，無(wú)法提供定量的插入損耗值，但是提供一個(gè)稱(chēng)之為EBW的參數。有效帶寬 法是通過(guò)TDR將特定上升時(shí)間的階躍信號發(fā)射到傳輸線(xiàn)上，測量TDR儀器和被測件連接后的上升時(shí)間的最大斜率，確定為損耗因子，單位MV/s.更確切地 說(shuō)，它確定的是一個(gè)相對的總損耗因子，可以用來(lái)識別損耗在面與面或層與層之間傳輸線(xiàn)的變化.由于最大斜率可以直接從儀器測得，有效帶寬法常用于印制 電路板的批量生產(chǎn)測試。EBW測試示意圖如圖4所示。

2.3 根脈沖能量法

根脈沖能量法（Root ImPulse Energy,簡(jiǎn)稱(chēng)RIE）通常使用TDR儀器分別獲得參考損耗線(xiàn)與測試傳輸線(xiàn)的TDR波形，然后對TDR波形進(jìn)行信號處理。RIE測試流程如圖5所示：

2.4 短脈沖傳播法

短脈沖傳播法（Short Pulse Propagation,簡(jiǎn)稱(chēng)SPP）測試原理為利用測量?jì)蓷l不同長(cháng)度的傳輸線(xiàn)，如30 mm和100 mm,通過(guò)測量這兩個(gè)傳輸線(xiàn)線(xiàn)長(cháng)之間的差異來(lái)提取參數衰減系數 和相位常數 ,如圖6所示。使用這種方法可以將連接器、線(xiàn)纜、探針和示波器精度的影響降到最小。若使用高性能的TDR儀器和IFN（Impulse Forming Network），測試頻率可高達40 GHz.

2.5 單端TDR差分插入損耗法

單端TDR差分插入損耗法（Single-Ended TDRto Differential Insertion Loss,簡(jiǎn)稱(chēng)SET2DIL）有別于采用4端口VNA的差分插損測試，該方法使用兩端口TDR儀器，將TDR階躍響應發(fā)射到差分傳輸線(xiàn)上，差分傳輸線(xiàn)末 端短接，如圖7所示。SET2DIL法測量典型的測量頻率范圍為2 GHz ~ 12 GHz,測量準確度主要受測試電纜的時(shí)延不一致和被測件阻抗不匹配的影響。SET2DIL法優(yōu)勢在于無(wú)需使用昂貴的4端口VNA及其校準件，被測件的傳輸 線(xiàn)的長(cháng)度僅為VNA方法的一半，校準件結構簡(jiǎn)單，校準耗時(shí)也大幅度降低，非常適合用于PCB制造的批量測試，如圖8所示。