基于A(yíng)DLINK的IC半自動(dòng)測試系統

　　系統工作流程

　　系統工作流程描述如圖3。

　　操作人員啟動(dòng)系統后，系統開(kāi)始自檢，發(fā)現故障，則系統復位并自動(dòng)斷電。首先是各功能模塊的初始化，接下來(lái)是由上位機PXI-3800往各個(gè)下位機發(fā)送動(dòng)作指令，接受指令后CPCI-7434模塊輸出對應的電平信號控制繼電器完成測試電路中信號傳輸通道的切換，CPCI-6208模塊輸出對應的模擬信號經(jīng)由功放模塊放大后作為測試電路需要的電壓源及電流源。與此同時(shí)SMX-2042執行相應的測試動(dòng)作，如果需要，高低溫系統會(huì )提供相應的環(huán)境溫度。經(jīng)過(guò)一定延時(shí)，系統開(kāi)始采集數據，其中包括SMX-2042的測試結果及溫度傳感器反饋的芯片真實(shí)環(huán)境溫度。采集的數據實(shí)時(shí)地顯示到輸出終端并保存到非易失性存儲器中。此時(shí)系統會(huì )自動(dòng)檢查是否還有待執行的指令，如有則轉入下一輪循環(huán)，否則系

統復位、結束。

　　系統優(yōu)缺點(diǎn)分析

　　優(yōu)點(diǎn)：
　　1．成本低。通常搭建一套標準配置的測試系統僅需要約30萬(wàn)人民幣，成本優(yōu)勢非常明顯。
　　2．測試精度高。依靠輔助電路，它的測試精度可以達到：電壓mV級，電流nA級，電阻mΩ級，滿(mǎn)足當前大多數產(chǎn)品的測試精度要求。
　　3．易于開(kāi)發(fā)、維護和升級。由于陵華計算機已經(jīng)提供了功能強大的數據采集、處理模塊，因此測試系統的硬件設計極大地簡(jiǎn)化了。而且該系統采用Labview圖形化開(kāi)發(fā)環(huán)境，設計者無(wú)須編程經(jīng)驗也可編寫(xiě)出高效的測試程序。該系統采用PXI工業(yè)總線(xiàn)，用戶(hù)可方便升級。

　　缺點(diǎn)：
　　1． 測試速度低，不適用于大批量測試。由于系統沒(méi)有配置機械化上料機構，而是采用操作工人手動(dòng)上料的方式，對操作工人的防靜電保護及操作技能要求較高，測試時(shí)間相對較長(cháng)。 Labview軟件編譯環(huán)境也是影響測試時(shí)間的原因之一，相比Visual C++編寫(xiě)的程序，執行時(shí)間要長(cháng)很多。
　　2． 抗干擾能力差。由于系統沒(méi)有達到高度集成，有一部分電路缺少屏蔽保護，干擾信號尤其是噪聲極可能成為系統誤差的主要來(lái)源，因此采取有效的抗干擾措施將非常重要。

　　本文應用凌華工業(yè)計算機搭建IC半自動(dòng)測試平臺，可對當前大部分半導體產(chǎn)品進(jìn)行小批量測試，相比傳統測試系統，它大大地降低了成本，保證了產(chǎn)品測試精度，此外，還具有維護簡(jiǎn)單，容易升級的優(yōu)點(diǎn)，為IC測試開(kāi)發(fā)人員提供了可靠的設計依據。

參考文獻
[1]《2005~2006中國集成電路產(chǎn)業(yè)研究報告》，水清木華研究中心，2006.8
[2]莊嘉明，《PXI——用于制造測試的工業(yè)標準平臺》，致茂電子，2003.12
[3]PXISelectionGuid, ADLINK