面向有挑戰性功能塊的時(shí)序收斂技術(shù)

第IV章：多輪Fix Cell

布局是一個(gè)融合過(guò)程。運行的布局輪次越多，可獲得融合度就越好，但這是以時(shí)間和磁盤(pán)空間為代價(jià)的。設計師不僅可嘗試多運行幾輪以獲得最佳結果，同時(shí)還可擁有有關(guān)“如何運行每輪fix Cell”的不同選項。本章將探討3種每輪fix cell運行的方式并比較時(shí)序和擁塞。選項有：
1.使用fix cell階段中‘-iteration #’選項
2.直接在之前fix cell數據庫上重新運行fix cell
3.采用之前fix cell網(wǎng)表，基于修復時(shí)間、修復計劃和修復單元開(kāi)始重新運行。

第1種方法是最直接方法，易于運行。第2種方法需要明確大部分fix cell快照以便能在未來(lái)運行中跳過(guò)細節步驟。第3種方法需花更多時(shí)間和精力；但如果fix cell期間網(wǎng)表變化很大，那么第3種方法效果最好。

我們選擇了幾個(gè)功能塊來(lái)測試這些方法，表2是幾個(gè)功能塊的數據。從時(shí)序角度來(lái)看，結果并不傾向于中意其中任何一種方法；從擁塞角度來(lái)看，第2種方法在絕大部分案例中勝出。

‘擁塞’項目系指fix cell 數據庫中‘report congestion $m’的總數。第2種方法可更好處理?yè)砣麩狳c(diǎn)。請比較圖8中擁塞地圖，結果更一目了然：

在實(shí)際項目中，設計師需要權衡考慮每輪的運行時(shí)間及可獲得的改善。你嘗試得輪次越多，你可獲得的效果就越好，但設計進(jìn)度毫無(wú)疑問(wèn)會(huì )被延遲。對于容易功能塊，設計師可通過(guò)單輪fix cell摸索著(zhù)運行每個(gè)步驟，不需要考慮時(shí)序/擁塞問(wèn)題；對于關(guān)鍵功能塊，2~3輪的fix cell將可帶來(lái)明顯的擁塞和時(shí)序改善。

對于一些特殊案例，設計師可能要在全局布局后fix cell期間添加大量邏輯。而這些邏輯可能有糟糕的擁塞問(wèn)題，第2輪的增量全局布局并不能很好地處理這個(gè)問(wèn)題。在這種情況下，第3種方法是3種方法中唯一能起作用的方法。

如果采用第2種方法，設計師需要考慮‘需保留什么快照’‘需清除什么快照’；而且一些步驟可能只運行一次，在其它輪的fix cell中將不再運行。

當資源成本在可接受范圍內時(shí)，設計師應嘗試對設計進(jìn)行多輪的fix cell，它可與新平面布局試驗同步進(jìn)行；與調整平面布局對比，它所消耗的人力幾乎可以忽略不計。在這些方法中，從擁塞角度來(lái)看，我們建議你直接在之前數據庫上運行fix cell；若在特殊案例中，設計師應嘗試第3種方法。

第V章：采用線(xiàn)路延時(shí)解決多角點(diǎn)下時(shí)序沖突

在許多設計中，設計師常在一些時(shí)序路徑上設置大的建立容限和保持容限以避免意料之外情況下時(shí)序失效，但它可能會(huì )給時(shí)序收斂帶來(lái)麻煩，特別是在深亞微米工藝中更是如此。采用單元尺寸調整、緩沖區插入/去除等常規方法有時(shí)不能同時(shí)清理最佳情況（bc）角點(diǎn)中保持時(shí)序和最差情況（wc）角點(diǎn)中建立時(shí)序。這種沖突會(huì )反復發(fā)生，使得時(shí)序無(wú)法融合。

我們常規的時(shí)序修復方法主要針對的是標準單元。而在深亞微米工藝中，不同時(shí)序角點(diǎn)的標準單元延時(shí)有很大差異。表3顯示了測試電路的wc和bc角點(diǎn)中標準單元和金屬線(xiàn)路的延時(shí)差異比較：