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應用于深亞微米存儲器的電荷泵設計

作者: 時(shí)間:2011-09-30 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò ) 收藏
因只讀的基本存儲單元只進(jìn)行一次編程,編程后的數據能長(cháng)時(shí)間保存,且在編程時(shí)需要流過(guò)mA級以上的電流,所以只讀編程時(shí)通常采用外加編程高壓,內部的。在設計此類(lèi)時(shí),擊穿電壓和體效應的影響成為嚴重的問(wèn)題。我們設計了一款用以在中傳遞外部編程高壓。這種電荷泵利用高壓NMOS器件提高了耐壓特性并保證了正常工作,且增加了襯底偏置以縮短電荷泵的穩定時(shí)間。

  電荷泵電路結構和工作原理

  1 常壓MOS管電荷泵

  圖1所示是初步提出的電荷泵電路原理圖,其中所有的器件均為常壓器件。

  

應用于深亞微米存儲器的電荷泵設計

  圖1 常壓MOS管構成的電荷泵原理圖

  初始化過(guò)程中,clear信號為低電平。此時(shí)N5管打開(kāi),將節點(diǎn)4清零;由于N4柵極始終接高電平,N4管打開(kāi),將節點(diǎn)3清零。

  初始化結束后電荷泵進(jìn)入工作狀態(tài)。Vp為外加編程高壓,clear信號保持高電平,clk信號為固定周期的方波信號。N4柵極恒為高電平,因此會(huì )將clear信號的高電平傳輸到節點(diǎn)3,節點(diǎn)3的初始電壓為V3.0=VDD-VTH4。節點(diǎn)5為與clk信號周期相同、相位反相的方波信號。以下依據節點(diǎn)5信號的變化具體分析電荷泵的工作原理。

  第1周期,節點(diǎn)5首先維持半個(gè)周期的高電平。根據電荷分享原理,此時(shí)節點(diǎn)2的電壓由電容C1和Cs的分壓決定(其中Cs為節點(diǎn)2的寄生電容),電壓可表示為:

  V2,1=C*VDD/(C1+CS) (1)

  因N2管為飽和接法,節點(diǎn)3的電壓被鉗位,表達式為:

  V3,1=V2,1-VTH2=C1VDD/(C1+CS)-VTH2 (2)

  隨后節點(diǎn)5轉為低電平,節點(diǎn)2電壓逐漸下降。由于沒(méi)有泄放通路,電壓會(huì )在節點(diǎn)3一直保持下去,并且由于C1遠大于節點(diǎn)2的寄生電容,使得半個(gè)高電平周期后節點(diǎn)3的電壓足以使N1管打開(kāi)。N1管的開(kāi)啟使得節點(diǎn)2的電位不會(huì )持續下降,而是會(huì )被鉗位到電壓值。

  V’2,1=V2,1-VTH2-VTH1=C1VDD/(C1+CS)-VTH2-VTH1 (3)

  這個(gè)便是第一周期過(guò)后節點(diǎn)2上形成的電壓值。

  第二個(gè)周期,同樣的節點(diǎn)5會(huì )經(jīng)歷高電平和低電平各半個(gè)周期。這一過(guò)程仍然會(huì )在節點(diǎn)3和節點(diǎn)2上積累電荷。與第一周期類(lèi)似的推導可得到以下一組表達式:

  V2,2=V’2,1+C1VDD/(C1+CS) (4)

  V3,2=V2,2-VTH2 (5)

  V’2,2=V3,2-VTH2=V2,2-VTH2-VTH1=V’2,1+C1VDD/(C1+CS)-VTH2-VTH1 (6)

  比較公式(3)和公式(6)可發(fā)現,每一周期節點(diǎn)2上增加的電壓為:

  ΔV=C1VDD/(C1+CS)-VTH2-VTH1 (7)

  依次類(lèi)推,第i個(gè)周期節點(diǎn)5維持高電平時(shí),節點(diǎn)2和節點(diǎn)3的電壓為:

  V2,i=C1VDD/(C1+CS)+(i+1)[C1VDD/(C1+CS)-VTH2-VTH1] (8)

  V3,i=C1VDD/(C1+CS)-VTH2+(i-1)[(C1+CS)-VTH2-VTH1] (9)

  V’2,i=i[C1VDD/(C1+CS)-VTH2-VTH1] (10)

  V3不會(huì )持續升高,當到達一定值時(shí)會(huì )通過(guò)N1、N3被Vp鉗位,此時(shí)電荷泵進(jìn)入穩態(tài)且Vp能完整傳遞到編程節點(diǎn)4。但在進(jìn)入穩態(tài)之前,V2和V3會(huì )在高電平半周達到大于Vp的電壓峰值,隨后在低電平半周穩定。

2 高壓MOS電荷泵

  理論上分析電荷泵可以正常工作。然而一些潛在的問(wèn)題可能會(huì )引發(fā)電路的不正常工作。

  首先,隨著(zhù)工藝尺寸的縮小,電路所用的電源電壓VDD,能承受的柵源擊穿電壓BVGS、源漏穿通電壓BVDS,漏PN結擊穿電壓BVDB都降低。若在電荷泵工作過(guò)程中,V2和V3升高到高于其中一種擊穿電壓,則會(huì )使得器件和電路面臨燒毀或無(wú)法正常工作的危險。

  其次,考慮體效應的影響器件的閾值電壓在不斷變化。因V2和V3不斷升高,即N1、N2管源極電位不斷升高,考慮襯底偏置效應后器件的閾值電壓由下式給出:

  

應用于深亞微米存儲器的電荷泵設計

(11)

  

應用于深亞微米存儲器的電荷泵設計

(12)

  則隨著(zhù)震蕩周期數的增加,VTH2,i和VTH1,i的值不斷增大,在V2和V3達到峰值時(shí)體效應影響最為嚴重。這使得一個(gè)周期內V2和V3提升的電壓值越來(lái)越小,導致電荷泵到達穩定狀態(tài)所需經(jīng)歷的周期數增加。更嚴重的情況是,考慮在電荷泵上升且還未達到穩態(tài)的過(guò)程中,因VTH2,i和VTH1,i變大,如果在某個(gè)周期時(shí)使得公式(13)成立:

  C1VDD/(C1+CS)-VTH2,i-VTH1,i0 (13)

  則每個(gè)周期內V2抬升的電壓無(wú)法維持兩個(gè)閾值損失,導致Vp無(wú)法傳到編程節點(diǎn)4。

  基于以上討論,對初始提出的電路進(jìn)行改進(jìn),改進(jìn)后如圖2所示。圖2中將4個(gè)需要承受峰值高壓的器件用高壓管代替普通管,以保證電路在V2、V3的尖峰電平下正常工作。高壓器件的選擇視各制造工藝而定,仿真所基于的工藝提供了性能優(yōu)良的高壓器件,使成功提升了電路的耐壓。對于不同工藝可相應從其提供的器件類(lèi)型中選擇器件,并配合編程電壓的設置來(lái)完成耐壓的增強。將N1、N2的襯底電位單獨接出并加上合適的電位以減弱體效應的影響。這樣做的代價(jià)是需要額外加入產(chǎn)生這個(gè)襯底電位的電路。根據需求不同,可以產(chǎn)生固定襯底電位或隨源襯電壓變化的跟隨襯底電位。

  

應用于深亞微米存儲器的電荷泵設計

  圖2 高壓MOS器件構成電荷泵電路結構圖

  仿真結果

  高壓管實(shí)現的電荷泵電路基于TSMC 0.18μm工藝進(jìn)行仿真驗證。設置不同的襯底電位將得出不同的仿真結果。

  如圖3所示為襯底接地的電路仿真波形圖。電源電壓3.3V,時(shí)鐘周期106ns,外加編程高壓7.5V,電荷泵在500ns后開(kāi)始工作。從仿真結果可以看出,V2和V3的峰值電壓在10V左右,比穩態(tài)高出2.5V。對于正常工作在3.3V電源電壓下的常壓普通管而言,峰值電壓必然會(huì )帶來(lái)不可忽視的危害。此外可得出,電荷泵工作11個(gè)時(shí)鐘周期后在1.7μs達到7.5V的穩態(tài)值。進(jìn)入穩態(tài)之后,僅存在0.2V的紋波,滿(mǎn)足穩定編程要求。

  

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  圖3 襯底接地電位的仿真波形圖

  

應用于深亞微米存儲器的電荷泵設計

  圖4 襯底接2V電壓的仿真波形圖

  襯底接2V電壓的仿真結果如圖4所示,其余信號與圖3中相同。與圖3相比,峰值電壓相等,但電荷泵的工作時(shí)間明顯縮短。數據顯示,電荷泵工作9個(gè)周期后近似在1.5μs達到7.5V的穩態(tài)值。由此證明,體效應對電路影響較大,加合適的襯底電位可明顯較弱其不良影響。



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