高頻鎖相環(huán)的可測性設計
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提出了測試方案，并給出了相應的測試電路。并對采用該方案進(jìn)行測試的高速鎖相環(huán)在增加測試電路前后電路的仿真結果進(jìn)行了比較。結果表明，本文所提出的高頻鎖相環(huán)測試方案對鎖相環(huán)本身的功能影響很小。參考文獻
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