芯子干枯 文章 進(jìn)入芯子干枯技術(shù)社區

電解電容芯子干枯失效的可靠性研究及應用

• 針對電解電容使用過(guò)程中用戶(hù)反饋電解電容壓力閥出現開(kāi)裂現象，經(jīng)對大量失效電解電容分析，確認是電解電容單體失效導致。結合失效樣品的失效現象、失效原因及失效機理分析，分析結果表明：電解電容遇到較大紋波電流引起發(fā)熱，使電解液的粘度逐漸增大且等效串聯(lián)電阻增大，發(fā)熱量增加沖破防爆閥最終促使芯子干枯。經(jīng)過(guò)對電解電容結構分析、關(guān)鍵參數分析、模擬實(shí)驗驗證，確認電解電容在電解液、橡膠塞材質(zhì)及尺寸、導針結構方面存在匹配性及性能參數問(wèn)題，最終通過(guò)提升電液參數及密封性能進(jìn)行把關(guān)，從器件本身提高單體器件的可靠性。
• 關(guān)鍵字： 電解電容  壓力閥  開(kāi)裂  芯子干枯  202110