羅德與施瓦茨聯(lián)合六幺四科技推出400G光模塊測試方案

5G通信和大數據中心等系統對數據流量需求大幅攀升，帶動(dòng)了對數據傳輸的更高需求，400G將是新一代數據中心和骨干網(wǎng)建設的大勢所趨。400G光模塊是400Gbps系統的核心部件，其主要功能是光電轉換：在發(fā)送端將電信號轉變成光信號，再通過(guò)光纖進(jìn)行傳送，到了接收端再將光信號轉變成電信號。400G光模塊芯片則是形成400G光模塊的基礎，是400Gbps系統競爭的關(guān)鍵制高點(diǎn)。

光模塊芯片的頻域測試，是測量和評估光模塊芯片頻域帶寬、3dB截止頻率、反射、差分參數、群延時(shí)、二階互調、三階交調等特性的關(guān)鍵測試步驟，是晶片在片測試、器件封裝測試等工藝流程中的必須工序。羅德與施瓦茨（Rohde & Schwarz）和六幺四科技（Newkey Photonics）合作開(kāi)發(fā)和推出的400G光模塊芯片頻域測試方案ZNA-GOCA，將羅德與施瓦茨的矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀ZNA67和六幺四科技的光電底座GOCA67進(jìn)行硬件和軟件集成，形成一套精確、穩定、高效的光模塊芯片頻域測試方案。

多家光通信產(chǎn)業(yè)引領(lǐng)企業(yè)用戶(hù)已選用羅德與施瓦茨和六幺四科技開(kāi)發(fā)的ZNA-GOCA方案為其400G光模塊芯片的研發(fā)測試和生產(chǎn)測試線(xiàn)的頻域測試方案。同時(shí)，面向未來(lái)800Gbps光通信系統的110GHz頻域和測試方案也已完成用戶(hù)驗證。

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試方案

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試方案采用“微波光子技術(shù)”，突破了傳統方法對測量分辨率和相位精確度的限制，實(shí)現微波頻譜掃描向光波光譜掃描的映射，配合電-光、光-電和光-光校準技術(shù)，實(shí)現大帶寬、高精度、高分辨率的元器件頻譜響應測試。在頻率分辨率、幅度分辨率、相位精確度和動(dòng)態(tài)范圍等關(guān)鍵參數上，均實(shí)現大幅度提升。

GOCAS光模塊芯片頻域測試軟件界面

ZNA-GOCA光模塊芯片頻域測試的測試對象包括：（1）電光器件。如強度調制器（馬赫增德?tīng)栒{制器）、幅度調制器、電吸收調制器、直調激光器、光發(fā)射模塊或鏈路等；（2）光電器件。如PIN光電二極管、雪崩光電二極管（APD）、單行載流子光電二極管（UTC PD）、光接收模塊或鏈路等；（3）光光器件。如光纖、光纖光柵、光集成微環(huán)/盤(pán)/球、高非線(xiàn)性光纖、可調光延時(shí)線(xiàn)、可調光濾波器、微波光子鏈路等?？蓽y參數包括：S參數，3dB截止頻率，群延時(shí)，差分和共模參數等。

典型測試結果如下：

I.光-電器件（待測件：50GHz高速光電探測器）

Ⅱ.電-光器件（待測件：50Gbps高速電光調制器）

Ⅲ.光-光器件測量（待測件：光微環(huán)芯片）