ROHM開(kāi)發(fā)出4引腳封裝的SiC MOSFET “SCT3xxx xR

全球知名半導體制造商ROHM（總部位于日本京都），開(kāi)發(fā)出6款溝槽柵結構^※1）SiC MOSFET “SCT3xxx xR系列”產(chǎn)品（650V／1200V耐壓），非常適用于要求高效率的服務(wù)器用電源、太陽(yáng)能逆變器及電動(dòng)汽車(chē)的充電站等。

此次新開(kāi)發(fā)的系列產(chǎn)品采用4引腳封裝（TO-247-4L），可充分地發(fā)揮出SiC MOSFET本身的高速開(kāi)關(guān)性能。與以往3引腳封裝（TO-247N）相比，開(kāi)關(guān)損耗可降低約35％，非常有助于進(jìn)一步降低各種設備的功耗。

另外，羅姆也已開(kāi)始供應SiC MOSFET評估板“P02SCT3040KR-EVK-001”，該評估板中配置有非常適用于SiC元器件的驅動(dòng)的ROHM柵極驅動(dòng)器IC（BM6101FV-C）、各種電源IC及分立產(chǎn)品，可為客戶(hù)提供輕松進(jìn)行元器件評估的解決方案。

本系列產(chǎn)品已于2019年8月起以月產(chǎn)50萬(wàn)個(gè)的規模逐步投入量產(chǎn)（樣品價(jià)格2,100日元起，不含稅）。生產(chǎn)基地為ROHM Apollo Co., Ltd.（日本福岡）。此外，本系列產(chǎn)品和評估板已于2019年9月起開(kāi)始網(wǎng)售，可從AMEYA360、icHub購買(mǎi)。

近年來(lái)，隨著(zhù)AI和IoT的發(fā)展與普及，對云服務(wù)的需求日益增加，與此同時(shí)，在全球范圍對數據中心的需求也隨之增長(cháng)。數據中心所使用的服務(wù)器正在向大容量、高性能方向發(fā)展，而如何降低功耗量就成為一個(gè)亟需解決的課題。另一方面，以往服務(wù)器的功率轉換電路中，主要采用的是硅（Si）元器件，如今，損耗更低的SiC元器件被寄予厚望。特別是采用了TO-247-4L封裝的SiC MOSFET，與以往封裝相比，可降低開(kāi)關(guān)損耗，因此有望應用于服務(wù)器、基站、太陽(yáng)能發(fā)電等高輸出應用中。

2015年，ROHM于全球第一家成功實(shí)現溝槽柵結構SiC MOSFET的量產(chǎn)，并一直致力于領(lǐng)先于行業(yè)的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)。此次新開(kāi)發(fā)出650V／1200V耐壓的低損耗SiC MOSFET，未來(lái)也會(huì )繼續推進(jìn)創(chuàng )新型元器件的開(kāi)發(fā)，同時(shí)提供包括非常適用于SiC驅動(dòng)的柵極驅動(dòng)器IC等在內的解決方案，為進(jìn)一步降低各種設備的功耗貢獻力量。

＜特點(diǎn)＞

采用4引腳封裝（TO-247-4L），開(kāi)關(guān)損耗降低約35％

在傳統的3引腳封裝（TO-247N）中，源極引腳的電感分量^※2）會(huì )引起柵極電壓下降，并導致開(kāi)關(guān)速度延遲。

此次，SCT3xxx xR系列所采用的4引腳封裝（TO-247-4L），可以分離電源源極引腳和驅動(dòng)器源極引腳，因此，可減少電感分量的影響。這樣，能夠充分地發(fā)揮出SiC MOSFET的高速開(kāi)關(guān)性能，尤其是可以顯著(zhù)改善導通損耗。與以往產(chǎn)品相比，導通損耗和關(guān)斷損耗合起來(lái)預計可降低約35％的損耗。

＜產(chǎn)品陣容＞

SCT3xxx xR系列是采用溝槽柵結構的SiC MOSFET。此次新推出了共6款機型，其中包括650V的3款機型和1200V的3款機型。

＜應用＞

服務(wù)器、基站、太陽(yáng)能逆變器、蓄電系統、電動(dòng)汽車(chē)的充電站等。

＜評估板信息＞

SiC MOSFET評估板“P02SCT3040KR-EVK-001”中配備了非常適用于SiC元器件驅動(dòng)的ROHM柵極驅動(dòng)器IC（BM6101FV-C）、各種電源IC及分立產(chǎn)品，可輕松進(jìn)行元器件的評估。為了提供在同一條件下的評估環(huán)境，該評估板不僅可以評估TO-247-4L封裝的產(chǎn)品，還可安裝并評估TO-247N封裝的產(chǎn)品。另外，使用該評估板，可進(jìn)行雙脈沖測試、Boost電路、兩電平逆變器、同步整流型Buck電路等評估。

開(kāi)始銷(xiāo)售時(shí)間    2019年9月

評估板型號  P02SCT3040KR-EVK-001

網(wǎng)售平臺    AMEYA360、icHub

支持頁(yè)面          https://www.rohm.com.cn/power-device-support

評估板的構成

＜術(shù)語(yǔ)解說(shuō)＞

※1　溝槽柵結構

溝槽（Trench）意為凹槽。是在芯片表面形成凹槽，并在其側壁形成MOSFET柵極的結構。不存在平面型MOSFET在結構上存在的JFET電阻，比平面結構更容易實(shí)現微細化，有望實(shí)現接近SiC材料原本性能的導通電阻。

※2　電感分量

表示電流變化時(shí)由電磁感應產(chǎn)生的電動(dòng)勢大小的量。