一種用于超高速ADC的輸入信號緩沖器設計
作者 胡遠冰 電子科技大學(xué) 微電子與固體電子學(xué)院(四川 成都 610054)
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201805/380762.htm胡遠冰(1989-),男,碩士生,研究方向:模擬集成電路設計。
摘要:提出一種基于TSMC40LP工藝的輸入信號緩沖器,用于12 bit 4 GSPS ADC的緩沖器設計。本緩沖器采用開(kāi)環(huán)源隨器結構,由于工藝角和溫度變化,開(kāi)環(huán)結構的緩沖器的輸出共模將會(huì )漂移,導致比較器的輸入共模發(fā)生漂移,使得比較器的比較結果發(fā)生錯誤。采用Replica共模反饋的方式為主緩沖器提供共模,實(shí)現緩沖器的輸出共模的穩定,避免比較器因為共模變化而工作不正常。為了達到線(xiàn)性度的要求,通過(guò)疊層源隨器和電容,將輸入信號耦合到源隨器的漏端,避免了短溝道器件的溝調效應。源隨器采用深N阱器件,消除了襯底偏置效應。本源隨器提供強大的輸入信號驅動(dòng),避免多通道ADC交織時(shí),相互之間的影響。同時(shí)驅動(dòng)大的電容負載,并提供高質(zhì)量的輸入信號。后仿真得到源隨器的最小帶寬為9.7 GHz,在1 pF負載,500 MHz,800 mVpp輸入信號時(shí),SFDR為79.86 dB,滿(mǎn)足12 bit 4 GSPS ADC的要求。
0 引言
輸入信號緩沖器,可以采用閉環(huán)單位增益運放的方式實(shí)現,這也是最為常見(jiàn)的方式。對于低速ADC而言,可以不用緩沖器,或者閉環(huán)運放的方式,而超高速ADC而言,如果不采用緩沖器,通常封裝的寄生電感會(huì )使得輸入信號質(zhì)量變差。高速高帶寬應用的閉環(huán)運放穩定性是很難保證的。緩沖器將提供強大的輸入信號驅動(dòng),避免多通道ADC交織時(shí),相互之間的影響。同時(shí)驅動(dòng)大的電容負載,并提供高質(zhì)量的輸入信號。因此對于超高速ADC而言,輸入信號緩沖器是至關(guān)重要的模塊之一。源隨器作為ADC的緩沖器,其輸出阻抗低,結合ADC的采樣電容,可以達到寬帶的目的。
1 硬件設計
常見(jiàn)的源隨器主要有兩種結構:?jiǎn)喂茉措S器[1](Source follower)和超級源隨器[2](Super-source follower)。
圖1為單管源隨器電路及其小信號等效電路,通過(guò)小信號等效模型可以計算出輸入輸出增益和輸出阻抗。從其表達式也可以看出,輸入輸出增益近似為單位增益,輸出阻抗小,但是輸入輸出的線(xiàn)性度受溝道調制效應、襯偏效應(深N阱工藝不受影響)的影響,使得輸入輸出線(xiàn)性度在高頻時(shí)迅速變差。
(1)
由于MOS管的跨導較小,單管源隨器的輸出阻抗較大,要實(shí)現大帶寬較為困難,需要較大的功耗。為了進(jìn)一步減小輸出阻抗,采用負反饋方式的超級源隨器,以輸出阻抗減小環(huán)路增益的倍數。超級源隨器及其小信號等效電路[2],如圖2所示。
當輸入信號保持不變時(shí),輸出減小,使得NM1的漏端也減小,PM1的柵源電壓增大,流過(guò)PM1的電流變大,使得輸出電壓增大,實(shí)現電壓負反饋,達到穩定輸出的目的。根據KCL方程可以得到超級源隨器的增益和輸出阻抗的表達式:其中rno與rpo分別為NM1與PM1的輸出阻抗;r1與r2為電流源的輸出電阻。
(2)
假設電流源是理想電流源,與單管源隨器相比具有更大的增益,更小的輸出阻抗。但是超級源隨器仍然存在溝調效應和襯偏效應非理想因素的影響,導致高頻輸出信號的線(xiàn)性度變差。調研發(fā)現,有不少的文章都在致力于解決上述源隨器存在的非理想效應[3-6],但是效果不是很理想,不能應用于超高速ADC。
通過(guò)上述的分析,傳統的源隨器與超級源隨器結構均存在溝道調制效應和襯底偏置效應,會(huì )影響高速ADC輸入信號的線(xiàn)性度,惡化ADC的性能[7]?;谡{研分析,采用一種解決溝道調制效應和襯底偏置效應的源隨器結構[3-4],同時(shí)能夠滿(mǎn)足超高速ADC的線(xiàn)性度要求。圖3為本設計采用的適用于超高速ADC輸入信號緩沖器的基本電路結構。NM1、NM2、NM3、NM4構成源隨器的主要輸入對管。R1、C1解決高頻輸入時(shí)的源隨器線(xiàn)性度下降。R3為終端電阻,其共模電壓由共模反饋部分提供。NM5、NM6、NM7、NM8和Amp構成共模反饋。
本設計所采用的源隨器電路解決了傳統源隨器存在的非理想因素。NM1、NM2、NM3、NM4均為深N阱器件,在設計時(shí)不用考慮襯底偏置效應的影響。通過(guò)C1、NM3、NM4將輸入信號耦合到節點(diǎn)NA、NB,使得NM1、NM2的漏源電壓變化減小,減小了溝調效應的影響,提高線(xiàn)性度。傳統的設計是不含共模反饋的,對于超高速ADC應用的緩沖器設計共模反饋需要很高的帶寬,在穩定性方面是很難保證的,而且功耗非常大。為了克服輸出輸共模隨溫度和工藝的變化,提出了共模反饋的解決方案,為了滿(mǎn)足超高速ADC的應用,本設計提出了Replica的共模反饋方式,給主源隨器提供共模電壓,將源隨器按比例復制用于共模反饋,那么共模反饋部分工作在DC狀態(tài),穩定性可以很好地得到滿(mǎn)足,功耗也較低。通過(guò)共模反饋的使用,解決了因為工藝角和溫度變化使得輸出共模變化的問(wèn)題,保證后續比較器能夠正常工作。
在設計源隨器時(shí),根據ADC的指標來(lái)計算,對于12 bit 4 GSPS ADC而言,用SFDR近似SNDR計算:
(3)
要達到12位精度,SFDR=74 dB,要達到11位精度,SFDR=67.98 dB。
對于輸入buffer,以單極點(diǎn)近似有:
(4)
要求在一個(gè)周期內buffer的輸出能夠建立到0.5 LSB范圍內:
(5)
得到輸入buffer的帶寬滿(mǎn)足:
(6)
考慮工藝角和溫度變化對帶寬的影響,取BW=7 GHz。但實(shí)際的時(shí)鐘包含上升沿、下降沿以及非交疊時(shí)間,建立時(shí)間不會(huì )達到一個(gè)周期,所以建立時(shí)間會(huì )比一個(gè)時(shí)鐘周期要短,因此在設計時(shí)取帶寬BW=10 GHz。
2 前仿真驗證
完成源隨器設計后,源隨器負載電容為1.5 pF,200 mV的正弦輸入信號通過(guò)4.7 μF電容交流耦合進(jìn)入源隨器。圖4為Buffer各個(gè)Corner下的帶寬前仿真如圖4所示(SSHT最小為10.8 GHz)。
對源隨器的輸出進(jìn)行FFT分析,得到不同工藝角下源隨器輸出的線(xiàn)性度(SFDR),如表1所示。
前仿真可以看到,本次設計緩沖器,在低頻的線(xiàn)性度均在85 dB以上,1.8 GHz輸入信號時(shí),線(xiàn)性度均在71 dB以上,滿(mǎn)足12 bit 4 GSPS ADC的應用要求。
3 后仿真驗證
在該源隨器經(jīng)過(guò)前仿真驗證后,充分考慮匹配和減小寄生,進(jìn)行版圖實(shí)現,進(jìn)行寄生參數提取,完成后仿真驗證。圖5為T(mén)T Corner下源隨器輸出信號在不同輸入信號頻率時(shí),輸出信號的頻譜,從中可以得到SFDR參數,不同Corner的統計結果如表2所示,與前仿真相比,后仿真線(xiàn)性度有一定的減小,最小帶寬大于9.6 GHz。均滿(mǎn)足12 bit 4 GSPS ADC的要求。
4 結論
本次設計所提出的源隨器結構,適用于超高速ADC的輸入信號緩沖器,解決了傳統緩沖器存在的溝調效應和襯偏效應。提出了Replica的共模反饋方式,為緩沖器提供共模,解決了ADC緩沖器的輸出共模在工藝角和溫度變化后發(fā)生漂移的問(wèn)題。仿真驗證得到源隨器的低頻線(xiàn)性度均在73 dB以上,奈奎斯特頻率輸入的線(xiàn)性度均在65 dB以上,滿(mǎn)足12 bit 4 GSPS ADC設計需要。
參考文獻:
[1]M.J.Kramer,E.Janssen,K.Doris.A 14 b 35 MS/s SAR ADC Achieving 75 dB SNDR and 99 dB SFDR With Loop-Embedded Input Buffer in 40 nm CMOS[J].IEEE Journal of Solid-State Circuits.2015,12(50),:2891-2900.
[2]M.Koutani,Y.Fujimoto,M.Miyamoto.A highly linear CMOS buffer circuit with an adjustable output impedance[C].Proceedings of the IEEE 2003 Custom Integrated Circuits Conference, 2003,685-688.
[3]M.V.Campos,A.L.Fortunato,C.A.dos Reis Filho.New 12-bit source-follower track-and-hold circuit suitable for high-speed applications[C].2011 IEEE/IFIP 19th International Conference on VLSI and System-on-Chip,Hong Kong,2011, 82-85.
[4]A.M.A.Ali.A 14 Bit 1 GS/s RF Sampling Pipelined ADC With Background Calibration[J].IEEE Journal of Solid-State Circuits,2014,12(49):2857-2867.
[5]J. Matsuno, M. Hosoya, M. Furuta and T. Itakura.A 3-GS/s 5-bit Flash ADC with wideband input buffer amplifier[C].2013 International Symposium onVLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT), Hsinchu, 2013,1-4.
[6]S. W. Yoon and K. W. Kwon, A source-follower with bias current regulator for enhanced linearity[C].2015 International SoC Design Conference (ISOCC), Gyungju, 2015,243-244. [7]M.Straayer.27.5 A 4GS/s time-interleaved RF ADC in 65nm CMOS with 4GHz input bandwidth[C].2016 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC), San Francisco, CA,2016,464-465.
本文來(lái)源于《電子產(chǎn)品世界》2018年第6期第55頁(yè),歡迎您寫(xiě)論文時(shí)引用,并注明出處。
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