芯片的設計制造,大體分這三個(gè)階段
一顆高性能芯片在區區數百平方毫米的硅片上蝕刻數十億晶體管,晶體管間的間隔只有幾十納米,需要經(jīng)過(guò)幾百道不同工藝加工,而且全部都是基于精細化操作,制作上凝聚了全人類(lèi)的智慧,是當今世界上最先進(jìn)的工藝、生產(chǎn)技術(shù)、尖端機械的集中體現。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201710/365514.htm我們知道,芯片的設計制造要經(jīng)過(guò)一個(gè)非常復雜的過(guò)程,可大體分為三個(gè)階段:前端設計(邏輯代碼設計)、后端設計(布線(xiàn)過(guò)程)、投片生產(chǎn)(制芯、測試與封裝)。如圖所示:
從圖中可以看出,前端設計包括需求分析、邏輯設計與綜合,輸出門(mén)級網(wǎng)表;后端設計對原有的邏輯、時(shí)鐘、測試等進(jìn)行優(yōu)化,輸出最終版圖;投片生產(chǎn)是在特定電路布線(xiàn)方式與芯片工藝條件下將電路邏輯“畫(huà)”到硅片上的過(guò)程。
一顆高性能芯片在區區數百平方毫米的硅片上蝕刻數十億晶體管,晶體管間的間隔只有幾十納米,需要經(jīng)過(guò)幾百道不同工藝加工,而且全部都是基于精細化操作,制作上凝聚了全人類(lèi)的智慧,是當今世界上最先進(jìn)的工藝、生產(chǎn)技術(shù)、尖端機械的集中體現。在如此復雜和細微的芯片內部,除了完成所宣稱(chēng)的功能之外,在額外的電路中構建一個(gè)后門(mén),使得可以接受外部控制,一般的驗證檢測手段通常不能找出任何問(wèn)題,一般用戶(hù)也很難察覺(jué)芯片上后門(mén)的操作行為。
在芯片設計階段,對任何的代碼或版圖的改動(dòng)都是非常容易的,在芯片設計階段植入后門(mén)已屢見(jiàn)不鮮、廣為人知,但是,在制造生產(chǎn)階段,同樣也可能被有意植入后門(mén),而這一點(diǎn)則往往被人們所忽略。
據報道,2016年6月,在DARPA和國家科學(xué)基金會(huì )支持下,美國密歇根大學(xué)首次在開(kāi)源OR 1200處理器制造中植入模擬惡意電路(即硬件木馬),可進(jìn)行遠程控制和實(shí)施攻擊。如下圖所示,該硬件木馬比傳統數字電路構成的硬件木馬小2個(gè)數量級,結構小巧,難以檢測,易于實(shí)現,危害極大。該事例再次證實(shí)了芯片潛在安全風(fēng)險來(lái)源從設計階段延伸至制造階段,給芯片安全帶來(lái)新的挑戰。
應根據應用需求合理選擇工藝制程
近年來(lái),隨著(zhù)技術(shù)的不斷進(jìn)步,芯片工藝水平也得到逐步提高,較小的工藝制程能夠在同樣大小的硅片上容納更多數量的芯片,可以增加芯片的運算效率;也使得芯片功耗更小。
但是,芯片尺寸的縮小也有其物理限制,摩爾定律正在逐漸失效,當我們將晶體管縮小到 20nm左右時(shí),就會(huì )遇到量子物理中的問(wèn)題,晶體管存在漏電現象,抵消縮小芯片尺寸獲得的效益;另外,必須采用更高精度的機器進(jìn)行芯片的掩膜蝕刻,會(huì )帶來(lái)制造成本高、良品率下降等問(wèn)題。
由此可見(jiàn),芯片的工藝制程并不是越小越好,在我們推進(jìn)核心芯片自主化研制過(guò)程中,絕不能一味追求高端工藝和高性能,而是根據應用需求選擇國內成熟制造工藝,做到量力而行、夠用就好。
如何實(shí)現真正意義的自主可控
盧錫城院士指出,自主可控至少應包括三個(gè)方面的涵義:一是信息系統的軟件在設計和制造階段不會(huì )被對手插入惡意功能,導致潛藏的不安全隱患;二是無(wú)論平時(shí)、戰時(shí)都能按需提供相應軟硬件產(chǎn)品,供應保障不受制于人;三是掌握核心技術(shù),軟硬件產(chǎn)品能適應技術(shù)進(jìn)步或需求變化自主發(fā)展。
多年來(lái)實(shí)踐經(jīng)驗告訴我們,核心芯片的國產(chǎn)化是一項長(cháng)期艱苦的工作,無(wú)任何捷徑可走,依靠買(mǎi)來(lái)的技術(shù)只會(huì )讓我們的信息系統成為“房子蓋在沙堆上”,只會(huì )讓信息系統的發(fā)展永遠被別人“牽著(zhù)鼻子走”。唯有把核心技術(shù)和自主知識產(chǎn)權牢牢掌握在自己手里,堅持芯片設計、流片、生產(chǎn)全過(guò)程國產(chǎn)化,才能做到信息安全不受制于人,產(chǎn)業(yè)發(fā)展不受制于人,也才會(huì )有真正意義上的自主可控。
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