基于A(yíng)DF4106的低相噪本振設計
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作者/ 曹陽(yáng)1 ,2 1.中國電子科技集團公司第41研究所 研發(fā)1部(安徽 蚌埠 233006) 2.電子信息測試技術(shù)安徽省重點(diǎn)實(shí)驗室(安徽 蚌埠 233006)
本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/201705/359748.htm*基金項目：國家科技重大專(zhuān)項面向R12 LTE-Advanced終端綜合測試儀(編號：2016ZX03002010)
曹陽(yáng)(1989-)，男，助理工程師，研究方向：通信測量?jì)x器的研究與開(kāi)發(fā)。
摘要：為了實(shí)現低相噪的本振信號輸出，本文設計出一種基于鎖相環(huán)芯片ADF4106的低相噪本振源。通過(guò)實(shí)際調試，測試結果滿(mǎn)足設計要求，并作為第二點(diǎn)頻本振應用于一款通信測試儀器的中。
引言
低相噪本振是通信測試儀器等現代電子設備系統的核心模塊，它對電子設備系統的性能起著(zhù)決定性的作用。對于低相噪本振的設計，許多人做了大量的研究[1-4]，本文利用鎖相環(huán)芯片ADF4106設計出一種低相噪本振源，作為第二點(diǎn)頻本振應用于一款通信測試儀器中，為測試儀器提供一個(gè)5400MHz的下變頻信號。
1 方案設計
1.1 設計指標
輸出頻率：5400MHz
相位噪聲：≤-110dBc@1kHz
相位噪聲：≤-118dBc@10kHz
輸出功率范圍：10～12dBm
1.2 設計方案
本方案利用Z-COM公司的壓控振蕩器CRO5400Z產(chǎn)生5400MHz的輸出頻率，經(jīng)過(guò)功率分配后，一路通過(guò)功率調理電路后輸出給整機作為第二點(diǎn)頻本振，另一路反饋進(jìn)入具有分頻、鑒相功能的ADI公司的可編程鎖相環(huán)芯片ADF4106，與100MHz參考經(jīng)過(guò)分頻后進(jìn)行鑒相，通過(guò)環(huán)路濾波器濾波后驅動(dòng)壓控振蕩器產(chǎn)生5400MHz的輸出頻率。原理框圖如圖1所示。
2 關(guān)鍵電路設計
2.1 ADF4106電路設計
ADF4106由一個(gè)數字鑒相器PD、一個(gè)充電泵CP、一個(gè)可編程的基準分頻器、可編程的A(6位)、B(13位)計數器及一個(gè)雙模式的前置分頻器(P/P+1)組成。內部結構原理圖如圖2所示。
利用ADF4106和環(huán)路濾波器LF(Loop Filter)、壓控振蕩器VCO(Voltage Controlled Oscillator)可以構成一個(gè)鎖相環(huán)PLL(Phase Locked Loop)。根據ADF4106datasheet提供的公式：
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