基于A(yíng)DF4106的低相噪本振設計
可以得出鎖相環(huán)輸出頻率。其中,為壓控振蕩器的輸出頻率,P為雙模式前置分頻器的預設模式,B為二進(jìn)制的13位計數器預設分頻比,A為二進(jìn)制的6位計數器預設分頻比,為外部提供的參考頻率,R為參考頻率的分頻比。根據方案要求,ADF4106的各個(gè)參數設置為:P=16,B=33,A=12,R=10。三個(gè)控制寄存器初始化設置為R寄存器000028h,N寄存器002131h,F寄存器4008c2h,如表1所示。送數時(shí)序如圖3所示。
2.2 環(huán)路濾波器設計
鎖相環(huán)路濾波器電路是鎖相環(huán)電路中重要的一個(gè)部分,它的性能直接影響環(huán)路的穩定性、鎖相時(shí)間和鎖相輸出的相位噪聲、雜散指標等[5]。本方案設計中的環(huán)路濾波器是用來(lái)將ADF4106充電泵輸出的鑒相電流轉換成驅動(dòng)壓控振蕩器的控制電壓,同時(shí)抑制高頻分量。在實(shí)際的電路實(shí)現中,由于鑒相頻率在鎖相環(huán)輸出上會(huì )產(chǎn)生寄生雜散,而二階環(huán)路一般不能濾除,所以采用三階低通濾波器,提高了對雜散頻率的抑制程度。因為相對于無(wú)源環(huán)路濾波器,有源環(huán)路濾波器電路復雜程度增加,同時(shí)噪聲也相對較高,所以通常設計中都是優(yōu)先選用無(wú)源環(huán)路濾波器。本方案利用ADI公司提供的PLL仿真軟件ADIsimPLL ver3.0設計三階無(wú)源環(huán)路濾波器,如圖4所示。電容C1的作用是將ADF4106電荷泵輸出的脈沖轉化成直流電壓,電容C2和電阻R1的目的是增加環(huán)路的穩定性,電阻R2和電容C3能夠抑制干擾紋波,同時(shí)濾除由鑒相頻率帶來(lái)的雜散分量。利用仿真獲得的三階無(wú)源濾波器圖形如圖5所示,仿真結果是理想值,經(jīng)過(guò)多次實(shí)際調試獲得最佳參數。
2.3 功率調理電路設計
因為測試儀器要求第二點(diǎn)頻本振的輸出功率范圍是10~12dBm。而測得壓控振蕩器經(jīng)過(guò)功分器輸出信號的功率是0.5dBm,所以需要設計功率調理電路對第二點(diǎn)頻本振的輸出功率進(jìn)行調整。功率調理電路包括放大器和數控衰減器。本設計選用ADI公司的放大器HMC313和數控衰減器HMC425LP3,通過(guò)送數控制HMC425LP3的衰減量,測得第二點(diǎn)頻本振的輸出功率是11dBm,送給HMC425LP3的數據是3Bh。
3 測試結果
根據本方案設計的低相噪點(diǎn)頻本振經(jīng)調試后滿(mǎn)足相噪指標和功率指標要求。圖6、圖7分別是用頻譜分析儀測得的1kHz、10kHz頻偏的相位噪聲。1kHz頻偏的相位噪聲是-110.98dBc/Hz,10kHz頻偏的相位噪聲是-119.63dBc/Hz。
4 結論
本文設計了一種基于鎖相環(huán)芯片ADF4106的低相噪本振源,通過(guò)對鎖相環(huán)路濾波器的優(yōu)化設計和實(shí)際調試,測得相位噪聲滿(mǎn)足設計指標要求,通過(guò)對輸出功率調理電路的設計、調試,使得本振輸出功率為11dBm,滿(mǎn)足設計指標10~12dBm的要求。本文設計的本振源已成功用于一款通信測試儀器中。
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本文來(lái)源于《電子產(chǎn)品世界》2017年第6期第30頁(yè),歡迎您寫(xiě)論文時(shí)引用,并注明出處。
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