基于WCDMA接收機系統的低噪聲放大器設計
摘要 介紹了低噪聲放大器的基本工作原理,并對噪聲源進(jìn)行了分析。提出了采用先進(jìn)的TSMC90 nm工藝,設計了一種基于WCDMA接收機系統的全差分拓撲共源共柵型低噪聲放大器。該放大器片內集成了電感、電容。片外配置匹配網(wǎng)絡(luò )。芯片測試結果表明:電路在2 GHz工作頻率下,電壓增益達到20 dB、噪聲系數NF為1.4 dB、IIP3為-3.43 dBm。綜合各項數據表明,該低噪聲放大器具備良好的性能,可廣泛適用于通訊系統之中。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201610/308192.htm隨著(zhù)半導體技術(shù)和無(wú)線(xiàn)通訊技術(shù)的發(fā)展,無(wú)線(xiàn)移動(dòng)產(chǎn)品已得到廣泛使用。作為無(wú)線(xiàn)信息接收的最前端部件,低噪聲放大器具有其特殊的地位和作用,其性能尤其是噪聲系數幾乎決定了整個(gè)接收鏈路的噪聲性能。本文著(zhù)重從穩定性、噪聲源、線(xiàn)性度、匹配網(wǎng)路關(guān)鍵點(diǎn)進(jìn)行分析,并針對WCDMA接收機系統應用,設計了低噪聲放大器,電路采用TSMC90nmCMOS工藝。芯片測試結果表明,該低噪聲放大器,電壓增益達到20 dB、噪聲系數NF為1.4 dB、IIP3為-3.43 dBm。
1 低噪聲放大器工作原理
低噪聲放大器設計難點(diǎn)主要在于高增益、低噪聲系數、高穩定性、低功耗以及良好輸入輸出匹配網(wǎng)路等關(guān)鍵指標上的平衡。下面著(zhù)重從這些關(guān)鍵性能上,對低噪聲放大器電路進(jìn)行分析。
1.1 輸入阻抗分析
低噪聲放大器LNA輸入級結構通常為圖1所示。輸入MOS晶體管源級接電感L,柵極電感lg以及電容Cs為匹配網(wǎng)絡(luò )。從圖1電路分析得LNA輸入阻抗Zin


式中,Cgs為輸入晶體管的柵源寄生電容;gm為跨導,根據TSMC工藝技術(shù)文檔可查,此輸入管工作電流為2.65 mA,偏置電壓為2.25 V的情況下,特征頻率ωT約為30 GHz,因此可通過(guò)ls值來(lái)匹配出50 Ω純電阻,Zin的虛部則可與Cs和lg匹配,使得Z’in的虛部為零。

若不考慮諧振工作頻率而只考慮源阻抗匹配則無(wú)需lg電感,但LNA是窄帶工作,因此必須確保在工作頻率上諧振與lg作用相同。匹配網(wǎng)絡(luò )本身具有增益,在工作頻率上最好使得匹配網(wǎng)絡(luò )的增益達到最高,即匹配網(wǎng)絡(luò )諧振也必須在工作頻率上。在設計過(guò)程中可通過(guò)觀(guān)察,LNA和匹配網(wǎng)絡(luò )各自的電壓增益曲線(xiàn)來(lái)進(jìn)行驗證。根據工作頻率2 GHz和阻抗匹配確定lg為22 nH,Cs為10 pF。圖4為匹配網(wǎng)絡(luò )電壓增益。
1.2 噪聲分析
圖1匹配網(wǎng)絡(luò )下LNA的噪聲分析。其噪聲源主要有MOS管的溝道噪聲,電感lg的串聯(lián)寄生電阻和MOS管柵極多晶電阻Rg的熱噪聲,以及信號源內阻的熱噪聲。溝道噪聲

設計時(shí)需考慮匹配網(wǎng)絡(luò )上的電感lg存在寄生電阻的,即電感的Q值不可能是無(wú)窮大,所以要盡量選用Q值高的電感應用。另外,還需盡量減小MOS管的柵極多晶電阻,在畫(huà)版圖時(shí)柵極輸入線(xiàn)應盡可能短或減小連接孔電阻,而從噪聲系數表達式看,也可通過(guò)調節gdo和特征頻率來(lái)降低噪聲系數。
1.3 線(xiàn)性度分析
線(xiàn)性度是低噪聲放大器的一個(gè)重要指標,如何提高系線(xiàn)性度是設計的難點(diǎn)。圖1中輸入晶體管源極所接電感ls一方面起著(zhù)輸入阻抗匹配的作用,同時(shí)也可用以提高放大器的線(xiàn)性度,達到源極負反饋提高線(xiàn)性度的作用。輸入晶體管的電流為

從式中可看出,若電感的阻抗遠大于跨導的倒數,則電流是跨導的弱函數,而與輸入電壓可近似為線(xiàn)性關(guān)系。設計時(shí)可適當增大跨導gm,但功率不能過(guò)高,同時(shí)器件尺寸不可過(guò)大,以避免因線(xiàn)性度提高而導致其他指標變差。
1.4 增益和隔離度分析
增益是低噪聲放大器的原則性指標,如何提高其增益而不降低其他性能,是分析和設計的重點(diǎn)。圖1共源管的寄生電容Cgd等效柵到地的電容和漏到地的電容分別為C1、C2。

C2≈A×Cgd,此時(shí)的C2直接為輸出端的寄生電容,共源管的溝到電流將由C2和負載分流,負載阻抗值較大,而電容C2越大阻抗越小,從而分的電流也將越大,這也將降低增益,并將影響輸出諧振網(wǎng)絡(luò )。另外輸入和輸出可直接通過(guò)Cgd在高頻下形成信號通路,這使得逆向隔離差甚至可能輸入輸出閉環(huán)不穩定。為了避免增益損耗和逆向隔離差的問(wèn)題,可采用共源共柵結構取代共源結構的低噪聲放大器LNA。在采用共柵管連接之后由于共柵管的柵極高頻下為虛地,因此寄生Cgd形成的信號通路將避免,從而改善了逆向隔離性能且提高了穩定性。采用共柵連接C2將變小為

同時(shí)從漏往上看的阻抗變?yōu)?/p>

,這便增大了阻抗的電流增益,并將提高LNA的電壓增益。
2 整體電路設計
通過(guò)對低噪聲放大器LNA性能分析,綜合設計了一個(gè)全差分拓撲型共源共柵結構的低噪聲放大器,電路主體結構如圖3所示。電路采用全差分輸入和輸出,差分輸入一方面可提高放大器的增益,另外一方面可拓寬放大器的輸入信號動(dòng)態(tài)范圍。采用共源共柵結構即可提高增益也可增強隔離度。負載通過(guò)電感和電容組成,而并非采用電阻,目的是減小輸出級噪聲。此外,輸出還需匹配網(wǎng)絡(luò ),通過(guò)其在2 GHz頻率下諧振,產(chǎn)生一個(gè)虛擬的負載電阻。電路中采用TSMC電感為4抽頭射頻器件,有利于差分結構的對稱(chēng)使用。

3 版圖設計
整體上版圖按照對稱(chēng)緊湊進(jìn)行。同原理圖類(lèi)似,同樣是上面布局為輸出諧振電感,中間布局為電容和共源共柵放大器以及偏置電路的電阻,為了完全對稱(chēng),偏置電路電阻采用了兩個(gè)等值電阻并聯(lián),如圖1所示。接下來(lái)布局為源級電感,最下方布局為偏置電路和電流鏡的MOS晶體管,其W相同,只是finger數目不同,這有利于版圖的對稱(chēng)和緊湊。版圖連線(xiàn)上嚴格按照電流密度來(lái)設定線(xiàn)寬,高頻信號線(xiàn)采用135°折線(xiàn)連接,連接孔處盡量采用多孔連接。由于不同的金屬層的位置不同以及自身的單位長(cháng)度上寄生電阻值的差異,因此選用金屬層連接需充分考慮以上情況。金屬5和金屬6寄生電阻值小,且為頂層金屬。因此電感和電容采用以上兩層金屬連接,版圖上需盡量使差分輸入線(xiàn)的寄生電阻小,LNA版圖上充分的加大了線(xiàn)寬和減小連線(xiàn)長(cháng)度以此減小噪聲。

4 芯片測試
電路通過(guò)TSMC90nm工藝代工流片。主要測試點(diǎn)有噪聲系數、線(xiàn)性度、電壓增益等指標。線(xiàn)性度反應的是信號經(jīng)過(guò)低噪聲放大后的失真程度。其衡量指標有1 dB壓縮點(diǎn)和IIP3 dB壓縮點(diǎn)。1 dB壓縮點(diǎn)反應的是信號隨著(zhù)強度增加,低噪聲放大器對信號非線(xiàn)性放大。IIP3 dB是指信號頻率附近的干擾信號同有用信號產(chǎn)生的三階交條信號對有用信號的干擾程度。采用瞬態(tài)測試,輸入一個(gè)大小為20 mV的2 GHz正弦信號,測試輸出正弦信號的大小以測得放大器的增益。取30顆樣片分別測試并記錄其性能指標,電壓增益、噪聲系數、IIP3壓縮點(diǎn)測試結果分別如下圖所示。統計結果分析表明電路的一致性較高,滿(mǎn)足應用要求。


5 結束語(yǔ)
文中基于Tsmc0.18μmCMOS工藝,設計了一個(gè)全差分的共源共柵低噪聲放大器。在電路片內集成電感,在版圖上布局。經(jīng)樣片測試結果表明,該電路可獲得穩定的輸出性能,且一致性高。正常工作條件下,平均電壓增益達到20.4 dB,噪聲系數為1.44dB,另外IIP3為-3.43 dBm。測試數據證明,該設計具有一定的推廣性,可廣泛應用于接收機前端放大。
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