LED驅動(dòng)器的可靠性和電磁兼容性測試方案

一 　引言

隨著(zhù)人類(lèi)科技的不斷發(fā)展，我們星球的夜晚變得越來(lái)越明亮，越來(lái)越絢爛，在這些變化的背后，是不斷發(fā)展的照明技術(shù)。在照明技術(shù)的開(kāi)發(fā)及制造中使用的電 子系統和元器件改變了照明設備及系統的未來(lái)?？v觀(guān)照明技術(shù)的發(fā)展歷史，大致經(jīng)歷了四個(gè)時(shí)代的跨越式變遷，并得到了長(cháng)足的發(fā)展。早期具有代表性的是它通過(guò)二 極管和晶體管對交流電進(jìn)行整流，隨后發(fā)展為內置直流逆變產(chǎn)生高頻交流，高效驅動(dòng)T8燈具的電子熒光燈照明鎮流器。如今，設計者已不再僅僅設計電子鎮流器， 而致力于A(yíng)C-DC智能變換器的設計，有些內部還含基于微處理器構成的用以照明控制和調光的復雜控制系統。

設計者們給發(fā)光二極管—LED和陣列作光源設計的供電電源，稱(chēng)之為LED電子驅動(dòng)器。對于LED照明器件和系統而言，LED光源本身就是其電子封裝 組成的一部分。這種給LED陣列提供能源并對其進(jìn)行控制的電子驅動(dòng)器，LED陣列的規模少則由十幾個(gè)、幾十個(gè)，多則上百個(gè)甚至更多的發(fā)光二極管組成。這種 動(dòng)態(tài)的光源驅動(dòng)器設計復雜程度遠遠超過(guò)原先各種氣體放電輝光管鎮流器。這個(gè)全新的領(lǐng)域，給LED照明器件及系統設計者和制造廠(chǎng)商帶來(lái)了新的挑戰。輝光放電 管鎮流器設計只需關(guān)注鎮流器內部的電子組件設計是否合理、可行。而LED照明器件及系統設計則必須額外考慮LED光源的問(wèn)題。設計者必須考慮驅動(dòng)器會(huì )給由 若干LED芯片組成的陣列與其他電子元器件串、并或混聯(lián)構成的電路模塊帶來(lái)各種干擾。

二　電源系統的兼容性

向LED或LED陣列提供電功率是LED照明器件與系統從設計到實(shí)施，以及保證終端用戶(hù)都可靠的工作狀態(tài)，并與供電源系統有良好兼容性必須考慮的重 要問(wèn)題。電源系統包括了人們日常生活中的各種電氣基礎設施和市電電網(wǎng)公共設施。

研究表明，通常情況下，用戶(hù)具備并操作的電源設備通常會(huì )存在種種不太合理的連線(xiàn)或者接地處理錯誤。當外部公共電源設施發(fā)生普遍電流干擾時(shí)，不合理甚 至錯誤的連線(xiàn)或接地處理會(huì )加劇干擾的程度，增加用戶(hù)電子照明器件的損壞幾率，嚴重時(shí)還會(huì )造成器件的永久性破壞。LED照明器件和系統必須具有能在日常電氣 環(huán)境下正常工作的能力。典型的日常電氣環(huán)境包括室內外照明、商場(chǎng)和工廠(chǎng)等建筑內外的照明設施以及市政電線(xiàn)桿上的LED路燈、探照燈等。

電氣照明已經(jīng)成為人們白天及黑夜生活必不可少的一部分。當照明器件及系統意外失效時(shí)，商業(yè)運作、生產(chǎn)作業(yè)和日常生活都會(huì )被迫終止，如果一段時(shí)間內照 明不能恢復，人們會(huì )感到極為不便甚至不知所措。造成電氣意外故障的原因有很多種，包括雷擊、交通事故破壞電線(xiàn)桿、建設施工工人破壞地下供電設施，甚至是動(dòng) 物爬到供電變壓器及高壓電纜上所帶來(lái)的影響，這些都在日常生活中并不偶然發(fā)生的事例了。諸如此類(lèi)的事故，都會(huì )造成供電系統暫時(shí)性的故障，使得照明器件及系 統遭受電氣干擾，嚴重的還存在中斷的困擾。

目前全世界范圍內能源問(wèn)題得到了廣泛的關(guān)注，提高能效以及節約能源對于凈化我們的星球和建設綠色社會(huì )環(huán)境是極其重要的。如今，照明約占電網(wǎng)總負荷的 23%，人們都把目標制定在發(fā)展和使用高效的，能夠在用電高峰時(shí)段減少負荷量的電子照明器件上。當然，如果照明器件在沒(méi)有達到預期使用壽命之前就失效或完 全不能發(fā)光了，那么所有提高能效以及節約能源的初衷就變得毫無(wú)意義。

綜上所述，自然引出了關(guān)于討論LED照明器件和系統的可靠性及兼容性相關(guān)的重要問(wèn)題。

三　LED照明器件及系統的可靠性

首先，什么是可靠性？其定義為——產(chǎn)品在規定的條件和規定的時(shí)間內，完成規定的功能的能力。隨著(zhù)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，現代化的操作機器、工程裝備、交通 工具和各類(lèi)探索儀器的設計越來(lái)越復雜，功能越來(lái)越完善，因此這些電子、電氣產(chǎn)品的性能優(yōu)劣變得越來(lái)越明顯。于此同時(shí)，這些機器和設備等的可靠性漸漸受到了 人們廣泛的重視，這種可靠性就被稱(chēng)為系統可靠性?？煽啃缘闹笜艘笫请S著(zhù)系統越復雜而更高的，如果可靠性達不到系統指標的要求，則系統出故障的可能性愈 大、造成的損失也愈大。這些損失包括經(jīng)濟上、信譽(yù)上，甚至是造成生命安全或更嚴重的災難性等后果。譬如汽車(chē)的制動(dòng)系統的不可靠或工作失誤可導致剎車(chē)失靈， 很有可能造成重大損失甚至生命危險；重大的投票選舉時(shí)，如果采用計算機系統統計，若此時(shí)系統失效而打亂了統計結果，后果將不堪設想。因此，可以說(shuō)系統可靠 性概念的引入，對電子產(chǎn)品有著(zhù)重大的意義。

提高系統的可靠性，一方面要提高構成系統的各元件本身的可靠性，如：要提高汽車(chē)制動(dòng)的可靠性，首先要提高剎車(chē)位、控制系統等的可靠性。另一方面還要 提高系統承受誤操作的可靠性。

提高系統的可靠性的根源在于系統的設計。要使系統的元器件工作在正常狀態(tài)下，沒(méi)有過(guò)載超負荷等現象的發(fā)生，并且要有一定的余量。也可以通過(guò)設計備用 方案，使系統即使有個(gè)別元器件或設備出現故障仍能正常工作。當然備用方案的設計有可能增加系統的復雜性和成本，但是如果設計得合理，在成本的增加和使系統 的可靠性提高上有很好的性?xún)r(jià)比，是完全值得的。

四　LED照明器件及系統的兼容性

電子產(chǎn)品的兼容性問(wèn)題主要是電磁兼容性（EMC），定義為設備、系統、子系統在共同的電磁環(huán)境中能一起執行各自功能的共存狀態(tài)。即該設備、系統、子 系統不會(huì )由于受到處于同一電磁環(huán)境中其他設備的電磁發(fā)射導致或遭受不允許的性能降低，也不會(huì )使同一電磁環(huán)境中其他設備、系統、子系統因它的電磁發(fā)射而導致 或遭受不允許的性能降低。電磁兼容性包括兩方面：電磁干擾（EMI）和電磁耐受（EMS）。前者主要表現為傳導干擾和輻射干擾，傳導干擾主要是電子設備產(chǎn) 生的干擾信號通過(guò)導電介質(zhì)或公共電源線(xiàn)互相產(chǎn)生干擾；輻射干擾是指電子設備產(chǎn)生的干擾信號通過(guò)空間耦合把干擾信號傳給電網(wǎng)絡(luò )或電子設備。而后者主要指系統 對諸如靜電放電、輻射、脈沖群、雷擊、傳導等干擾的耐受能力，即抗干擾能力。電子產(chǎn)品一般劃分為民用級、工業(yè)級和軍用級產(chǎn)品，不同等級的產(chǎn)品有著(zhù)不同的標 準規定，產(chǎn)品在特定等級下滿(mǎn)足這些標準的產(chǎn)品，被稱(chēng)為具有電磁兼容性。對于如何來(lái)評判產(chǎn)品是否具有電磁兼容性？這就需要通過(guò)一系列的兼容性測試來(lái)完成了。

五　電磁兼容性測試

之前已提到過(guò)，系統的電磁兼容性測試可分為電磁干擾（EMI）和電磁耐受（EMS）兩方面，具體運用在LED照明器件及系統時(shí)的幾個(gè)重要步驟為：

1） 傳導干擾

傳導干擾是指LED照明器件本身產(chǎn)生，從而進(jìn)行導體傳輸的電磁干擾。這種測試頻率范圍一般為9KHz～30MHz，屬于低頻現象。

2） 輻射干擾

輻射干擾也是由器件自身產(chǎn)生，并通過(guò)空間傳播形成的干擾電磁波。LED照明器件由內部電路通過(guò)產(chǎn)品的電線(xiàn)電纜或結構件外殼形成對外的輻射干擾，相當 于天線(xiàn)發(fā)射效應。

3） 諧波電流干擾

產(chǎn)生諧波電流的原因之一是非線(xiàn)性的負載，諧波電流干擾將影響電源電流的波形，使其畸變，這種干擾會(huì )對電網(wǎng)造成污染，必須加以控制。

4） 靜電放電抗干擾能力

人體帶有靜電，這種現象在干燥的冬季更為嚴重，在這種環(huán)境下的摩擦很容易導致人體攜帶大量的靜電，此時(shí)如果人體觸摸LED產(chǎn)品或與其鄰近設備，會(huì )形 成直接或間接的放電，產(chǎn)生的脈沖電壓可能導致LED的擊穿損毀，因此對LED產(chǎn)品的抗靜電能力有非常高的要求。

5） 快速瞬變脈沖群干擾的抵抗能力

產(chǎn)品的繼電器開(kāi)合或開(kāi)關(guān)通斷，也會(huì )對同一電路中的其他電子器件產(chǎn)生干擾，具有脈沖成群出現、脈沖重復頻率較高及脈沖波形的上升時(shí)間短暫等特征。

6） 雷擊浪涌抗干擾能力

雷擊在電纜上形成能量很大的浪涌電壓和電流，很容易導致器件的損壞。此外，大型開(kāi)關(guān)切換瞬間也會(huì )在供電線(xiàn)路上形成浪涌電壓和電流。

7） 周波跌落抗干擾能力

電壓跌落、短時(shí)中斷和電壓變化統稱(chēng)為周波跌落。周波跌落干擾的抵抗能力指標考核了該LED照明器件是否具備工作在不穩定的電網(wǎng)中的能力。

以上測試步驟，前三項為EMI指標，后四項為EMS指標。值得注意的是，對于自整流的LED照明產(chǎn)品，測試時(shí)只需要對輸入端進(jìn)行試驗，而非自整流的 LED照明產(chǎn)品，則需要分別試驗配套的驅動(dòng)控制電路的輸入、輸出和LED產(chǎn)品的輸入端。

六　兼容性測試的經(jīng)濟效應

兼容性測試的初期成本很高，需要大量昂貴的設備來(lái)構建測試環(huán)境，即便是外發(fā)委托測試，也會(huì )產(chǎn)生許多費用，隨著(zhù)產(chǎn)品的多樣化，投入費用只會(huì )比前者更 多。除此以外，設計者們還需要對測試過(guò)程中暴露出的不合格或不理想的環(huán)節做出修改，人力、物力、財力上都會(huì )承擔一定的負擔。因此，很多制造商會(huì )對是否有必 要進(jìn)行兼容性測試這一問(wèn)題上產(chǎn)生疑慮。

然而，從長(cháng)遠來(lái)看，能夠引入兼容性測試這個(gè)概念的商家，各種好處將會(huì )在后期越來(lái)越多的得以體現。我們知道，EMC設計和EMC測試是相輔相成的。 EMC測試直接反映了EMC設計的好壞。只有在產(chǎn)品的EMC設計和研發(fā)過(guò)程中進(jìn)行EMC相容性的預測和評估，才能及早發(fā)現可能存在的電磁干擾，并采取有效 的抑制和防范措施，從而確保系統的電磁兼容性。EMC設計一個(gè)經(jīng)驗累積的過(guò)程，積累越多的經(jīng)驗，就越能減少在修改設計和補救措施上的花費。另一方面，如今 產(chǎn)品質(zhì)量的重要性逐漸被更多的人所認識，做過(guò)兼容性測試的產(chǎn)品較之沒(méi)有做過(guò)兼容性測試的產(chǎn)品在性能質(zhì)量及可靠性方面有更高的保障，這對于樹(shù)立良好的品牌形 象帶來(lái)更多的經(jīng)濟收益是至關(guān)重要的。

七　兼容性測試與LED性能標準

LED照明技術(shù)問(wèn)世以后，由于缺少固態(tài)照明（SSL）的標準使市場(chǎng)上出現了諸多混亂。不同廠(chǎng)商間測試方法和術(shù)語(yǔ)的不同使新興的LED產(chǎn)品很難與傳統 照明產(chǎn)品進(jìn)行比較，LED產(chǎn)品間也無(wú)法比較。為解決這一困境，在2008年由一些權威組織和機構聯(lián)合頒布了LM-79和LM-80標準：前者是固態(tài)照明設 備電子和光度的認可測試方法，可以計算LED產(chǎn)品的燈具效率（通過(guò)光凈光輸出量除以輸出功率計算每瓦流明量），燈具效率是測量LED產(chǎn)品性能最可靠的途 徑，通過(guò)衡量燈具性能替代曾經(jīng)依賴(lài)的傳統手段來(lái)區別燈具等級和燈具功效，這項標準為幫助建立燈具性能的精確比較提供基礎，不僅僅是固態(tài)照明產(chǎn)品同時(shí)也針對 各種光源；后者是LED光源流明衰減核定測量方法，通過(guò)對光源流明衰減方式的定義，從而對LED預期壽命進(jìn)行評估，與靠燈絲發(fā)光的光源不一樣（燈絲發(fā)光的 燈會(huì )完全失效不亮），而發(fā)光二極管通常不會(huì )這樣，LED的光會(huì )隨著(zhù)時(shí)間慢慢的減弱，這是所謂的流明衰減，這項標準是對流明衰減測試的方法制訂了一套標準。 除此以外，還有一些關(guān)于LED的性能標準，在此不一一列舉了。如今的LED照明器件及系統的兼容性測試，應該結合這些標準，從而獲取更多有關(guān)LED照明器 件及系統在日常真實(shí)的電氣環(huán)境中的使用性能知識。

八　兼容性測試環(huán)境設計的實(shí)例

在此以SJ-T2355-半導體發(fā)光二極管芯片的靜電抗干擾測試為例，簡(jiǎn)單說(shuō)明兼容性測試應該如何具體去實(shí)施，以及如何檢驗。

SJ-T2355-半導體發(fā)光二極管芯片的靜電放電敏感性測試和分類(lèi)：

1） 人體模式的靜電放電敏感性測試

　　圖1人體模式的靜電放電敏感性測試原理圖

① 雙極性脈沖發(fā)生器應該設計為避免重復充電和產(chǎn)生雙脈沖。不能靠交換A、B端點(diǎn)來(lái)獲得雙極性性能。

② 開(kāi)關(guān)SW1須在脈沖通過(guò)后關(guān)閉10ms～100ms，以確保被試插座不在充電狀態(tài)，它也應該先于下個(gè)脈沖到來(lái)前至少開(kāi)啟10ms。電阻R1和開(kāi)關(guān)串聯(lián)以確 保器件有一個(gè)慢放電，這樣就避免了一個(gè)帶電器件模式放電的可能性。

③ 圖1中評價(jià)電阻負載1為：一種截面為0.83mm2～0.21mm2鍍錫銅短路線(xiàn)，跨距適合試驗插座。負載2為：500Ω，±1%，1000V，低電感薄 膜電阻。

④ 示波器要求：最小靈敏度100mA/cm（電流傳感器），帶寬350MHz，最小寫(xiě)入速率1cm/ns。

⑤ 電流傳感器要求

——最小帶寬350MHz；

——峰值脈沖電流12A；

——上升時(shí)間小于1ns；

——能采用1.5mm直徑的實(shí)導體；

——能提供1mv/mA～5 mv/mA的輸出電壓；

⑥ 測試插座上再疊插一個(gè)插座（第二個(gè)插座疊插在主測試插座上）的情況，僅在第二個(gè)插座的波形滿(mǎn)足本標準的要求才允許；

⑦ 使用短路線(xiàn)，分別獲得各敏感度等級的電流波形，修正這些波形使滿(mǎn)足圖2的要求；

⑧ 電流脈沖應滿(mǎn)足下列特性

——脈沖上升時(shí)間tr為：5ns～25ns；

——最大允許振鈴波峰對峰值Ir必須小于Ipr的15%，脈沖起始后要求100ns內沒(méi)有明顯振鈴波；

——如圖4所示，Ipr是通過(guò)500Ω負載電阻的峰值電流，對于1000V預充電壓它應在375mA～500mA之間。對于4000V預充電電壓它 應在1.5A～2.2A。它不應小于相同靈敏度等級的早先測量得到的Ips值的63%。

　　圖2 通過(guò)短路線(xiàn)的電流脈沖

　　圖3 通過(guò)短路線(xiàn)的電流波形

　　圖4 通過(guò)500Ω電阻的電流波形

測試步驟：

靜電放電測試時(shí)要求一次至少使用三個(gè)樣本，每個(gè)樣本規定的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數都要事先進(jìn)行測試并記錄。

① 在試驗器插座上（A，B端）分別插上評價(jià)負載（短路線(xiàn)和R2）；電流探針置于B端處；按表4設置試驗器充電電壓；

② 分別引發(fā)試驗器脈沖，觀(guān)測電壓波形，要求上升時(shí)間、峰值電流和振鈴波形滿(mǎn)足要求。采用拍照或數字貯存方式記錄這些波形。

③ 在試驗器插座上換上被測器件（DUT）進(jìn)行放電試驗，通常按表4從最低電壓檔開(kāi)始，每個(gè)被測器件應采用一個(gè)正向和一個(gè)反向脈沖試驗，允許脈沖之間至少間隔 0.3s時(shí)間。

④ 在室溫下測試樣本的所有靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數。如果要求多個(gè)溫度，首先從最低溫度開(kāi)始。

⑤ 如果所有三個(gè)樣本都通過(guò)規定數據的參數測試，則再用表4中更高一擋電壓試驗。記錄通過(guò)的最高電壓檔。

⑥ 如果有一個(gè)或多個(gè)樣本失效，重新用三個(gè)新的樣本，以降低一擋表4中電壓進(jìn)行試驗。如果繼續有失效，再降低一擋，如果還有失效，則停止試驗。

⑦ 按表4進(jìn)行分級。

2） 機器模式的靜電放電敏感性測試

　　圖5　機器模式的靜電放電敏感性測試原理圖

① 雙極性脈沖發(fā)生器應該設計為避免重復充電和產(chǎn)生雙脈沖。不能靠交換A、B端點(diǎn)來(lái)獲得雙極性性能。

② 開(kāi)關(guān)SW1須在脈沖通過(guò)后關(guān)閉10ms～100ms，以確保被試插座不在充電狀態(tài)，它也應該先于下個(gè)脈沖到來(lái)前至少開(kāi)啟10ms。電阻R1和開(kāi)關(guān)串聯(lián)以確 保器件有一個(gè)慢放電，這樣就避免了一個(gè)帶電器件模式放電的可能性。

③ 圖5中評價(jià)電阻負載1為：一種截面為0.83mm2～0.21mm2鍍錫銅短路線(xiàn)，長(cháng)度不大于75mm。負載2為：500Ω，±1%，1000V。

④ 電流傳感器要求

——最小帶寬350MHz；

——峰值脈沖電流15A；

——上升時(shí)間小于1ns；

——能采用1.5mm直徑的實(shí)導體；

——能提供1mv/mA～5 mv/mA的輸出電壓；

⑤ 測試插座上再疊插一個(gè)插座（第二個(gè)插座疊插在主測試插座上）的情況，僅在第二個(gè)插座的波形滿(mǎn)足本標準的要求才允許；

　　圖6 通過(guò)短路線(xiàn)的400V電壓放電電流波形

　　圖7　通過(guò)500Ω電阻的400V電壓放電電流波形

測試步驟：

機器模式靜電放電測試時(shí)要求一次測試至少使用三個(gè)樣本，每個(gè)樣本規定的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數都要事先進(jìn)行測試并記錄。

① 在試驗器插座上（A，B端）插上短路線(xiàn)，分別施加100V、200V、400V電壓，電流探針置于B端處；記錄正和負的波形，修正波形使其滿(mǎn)足圖6的要 求。

② 使用500Ω電阻，加電壓±400V，記錄并修正波形使其滿(mǎn)足圖7的要求。

③ 按表7確定靜電放電測試起始電壓。

④ 加三個(gè)正的和負的脈沖到每個(gè)被測試樣本，脈沖之間的間隔至少要1s。

⑤ 在室溫下測試樣本的所有靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數。如果要求多個(gè)溫度，首先從最低溫度開(kāi)始。

⑥ 如果所有三個(gè)樣本都通過(guò)規定數據的參數測試，則再用表7中更高一擋電壓試驗。記錄通過(guò)的最高電壓檔，并按表7將被測器件分類(lèi)。

⑦ 如果有一個(gè)或多個(gè)樣本失效，重新用三個(gè)新的樣本，以降低一擋表7中電壓進(jìn)行試驗。如果繼續有失效，再降低一擋，如果還有失效，則停止試驗。

以上列舉的兩項為L(cháng)ED兼容性測試的一部分內容。

九　系統可靠性建模

可靠性模型指的是系統可靠性邏輯框圖及其數學(xué)模型。原理圖表示系統中各部分之間的物理關(guān)系。而可靠性邏輯圖則表示系統中各部分之間的功能關(guān)系，即用 簡(jiǎn)明扼要的直觀(guān)方法表現能使系統完成任務(wù)的各種串聯(lián)、并聯(lián)和旁聯(lián)方框的組合。

了解系統中各個(gè)部分的功能和它們相互之間的聯(lián)系以及對整個(gè)系統的作用和影響對建立系統的可靠性數學(xué)模型、完成系統的可靠性設計、分配和預測都具有重 要意義。借助于可靠性邏輯圖可以精確地表示出各個(gè)功能單元在系統中的作用和相互之間的關(guān)系。雖然根據原理圖也可以繪制出可靠性邏輯圖，但并不能將它們二者 等同起來(lái)。

邏輯圖和原理圖在聯(lián)系形式和方框聯(lián)系數目上都不一定相同，有時(shí)在原理圖中是串聯(lián)的，而在邏輯圖中卻是并聯(lián)的；有時(shí)原理圖中只需一個(gè)方框即可表示，而 在可靠性邏輯圖中卻需要兩個(gè)或幾個(gè)方框才能表示出來(lái)。隨著(zhù)系統設計工作的進(jìn)展，必須繪制一系列的可靠性邏輯框圖，這些框圖要逐漸細分下去，按級展開(kāi)。

當我們知道了組件中各單元的可靠性指標（如可靠度、故障率或MTBF等）即可由下一級的邏輯框圖及數學(xué)模型計算上一級的可靠性指標，這樣逐級向上 推，直到算出系統的可靠性指標。這就是利用系統可靠性模型及已知的單元可靠性指標預計或估計系統可靠性指標的過(guò)程。

兼容性的測試結果通常和可靠性建模有著(zhù)密切關(guān)系，兼容性測試結果可以輸入數據用于建立LED照明器件及系統的可靠性模型。如今，LED照明器件及系 統的制造商可以采用工具來(lái)預測或研究整個(gè)LED產(chǎn)品的可靠性，包括每個(gè)內部及外部因素是如何影響產(chǎn)品的可靠性的。

十　結束語(yǔ)

在電子產(chǎn)品設計上，過(guò)去人們著(zhù)重于技術(shù)指標和功能研究，但日益發(fā)展的電子產(chǎn)品和復雜的電磁環(huán)境中，電子產(chǎn)品相互的干擾和受干擾情況已經(jīng)是無(wú)法避免的 事實(shí)。如何搞好產(chǎn)品的電磁兼容性，提升自身的抗干擾能力和減少對外的干擾能力，是如今設計者們所面臨的一個(gè)重大問(wèn)題。

對于LED照明領(lǐng)域來(lái)看，LED市場(chǎng)的發(fā)展還處于起步階段，各項標準不非常完整和成熟的同時(shí)，也有著(zhù)巨大的發(fā)展空間。LED燈具越來(lái)越廣泛的被應 用，其取代傳統照明燈具的趨勢已經(jīng)十分明顯，此時(shí)更應該牢牢把握LED的安全質(zhì)量和可靠性問(wèn)題，只有這樣才能讓這一領(lǐng)域得到更為健康的發(fā)展，而等待LED 照明器件及系統的制造商的，將是更為巨大的經(jīng)濟收益。