炮彈爆炸彈片平均飛行速率測試方法研究

　　根據已有的試驗統計規律，同一靶區內二彈片入靶時(shí)間間隔的最大值不會(huì )超過(guò)某一門(mén)限值Δt。據此可以把同一彈片的交點(diǎn)合并在一起，以便區分各彈片入靶時(shí)刻。如圖10，Δt₁小于門(mén)限值Δt，故該交點(diǎn)仍屬于彈片1的交點(diǎn)，而Δt₂大于門(mén)限值?駐t，則該交點(diǎn)已不屬于彈片1，而是彈片2的第一個(gè)交點(diǎn)。由于存在放電現象，在彈片入靶前的某個(gè)時(shí)刻，電平就已經(jīng)開(kāi)始上升，故此處選擇電平上升到Vcc的1/3處的時(shí)刻作為入靶時(shí)刻。

　　如前所述，由于LC振蕩引起的通道間共振，將導致某個(gè)時(shí)刻本無(wú)彈片入靶的通道也會(huì )出現與該時(shí)刻有彈片入靶的通道相類(lèi)似的波形。雖然無(wú)彈片入靶時(shí)通道的波形振幅比較小，但其振幅偶爾也會(huì )超過(guò)Vcc。為避免誤以為有彈片入靶而導致的速率計算錯誤，可在下述算法中予以清除。如圖10所示，對于每個(gè)彈片，從彈片入靶時(shí)的第一個(gè)交點(diǎn)起，向正時(shí)間方向平移時(shí)間t_m2。從該時(shí)刻起，向正時(shí)間方向取t_m2長(cháng)的時(shí)間段求波形平均電平（如圖10的），然后將該平均電平與該彈片入靶前的平均電平（如圖10的）相比較。如果電平階躍差大于某門(mén)限值，則認為該通道此時(shí)刻有彈片入靶；如果電平階躍差小于此門(mén)限，則該通道此時(shí)刻無(wú)彈片入靶。這是因為，根據試驗統計規律，某時(shí)間段內，受其他通道干擾而產(chǎn)生的通道波形，其電平階躍差不會(huì )很大。這樣就可以解決LC振蕩引起通道間共振引起的誤以為彈片入靶的計算錯誤。
3 結 論
　　本文采用PCI50612數據采集卡及合適的彈靶信號線(xiàn)組成硬件電路，并配以相應的數字信號處理技術(shù)，為某部隊靶場(chǎng)設計了一套炮彈爆炸彈片飛行速率測試系統。實(shí)驗證實(shí)，測得的平均速率為1800m/s左右,達到了良好的測試效果。該方法原理簡(jiǎn)單，硬件設計成本較低，所用算法也不復雜，可方便地用于金屬爆炸飛行物速率的測試。