支持高性能混合信號測試平臺





在下列數據流導入存儲器場(chǎng)景的標定中,使用了一個(gè)具有2 GB板載存儲空間的PXI Express雙核控制器對于每通道100M采樣點(diǎn)數的采集大小,該測試需要高達1.2 GB的PC存儲器以支持六個(gè)通道
這里,再次使用了多個(gè)具有256 MB板載存儲空間的NI PXIe-5122數字化儀,以獲取最佳結果
其結果如表2所示
表2NI PXIe-5122高速數字化儀的最大數據流導入存儲器速率
數據流導入磁盤(pán)和數據流導入內存應用之所以能夠在PXI中達到如此之高的吞吐量,其原因之一便是采用了一個(gè)高帶寬、低時(shí)延的數據總線(xiàn)――PCIe如果您將該總線(xiàn)與其它標準數據總線(xiàn)相比較,您將發(fā)現該總線(xiàn)提供了最高的吞吐量和最低的數據時(shí)延
圖6.常見(jiàn)儀器總線(xiàn)的帶寬與時(shí)延比較
這種將數據以數據流的形式導入磁盤(pán)的能力使得許多應用獲益匪淺在此,我們將詳細討論兩個(gè)常見(jiàn)應用:1)信號情報/頻譜監測和2)數字視頻測試
信號情報:中頻數據流導入磁盤(pán)
現代軍事偵察、衛星通信和頻譜監測應用,需要長(cháng)時(shí)間地將大量數據以數據流的形式導入硬盤(pán)的能力以往,這些應用只能借助構建和維護都十分昂貴的、定制的硬件來(lái)實(shí)現
然而,您現在可以利用商業(yè)現成可用(COTS)的PXI和PXI Express儀器系統,開(kāi)發(fā)面向信號情報的波形數據流導入磁盤(pán)應用
圖7通信系統測試中的數據流導入磁盤(pán)的配置
為捕獲RF信號,我們使用一個(gè)高速數字化儀以采集來(lái)自下變頻器的中頻(IF)信號該下變頻器工作于RF頻段,并使用一個(gè)或多個(gè)混頻器將RF信號轉換到一個(gè)您可以通過(guò)高速數模轉換器進(jìn)行捕獲的頻率范圍
利用NI PXIe-5122高速數字化儀的兩個(gè)采樣率為100 MS/s的通道,您可以采集到兩個(gè)IF信號,每個(gè)通道的帶寬為50 MHz
基于此,您可以采集總RF帶寬為100 MHz的信號
對于信號情報應用,典型情況下,部分頻譜以數據流的方式導入磁盤(pán)持續數分鐘或甚至數個(gè)小時(shí)一旦保存,該數據便可以通過(guò)功率譜或時(shí)頻譜進(jìn)行后續軟件處理
一些實(shí)例中,也可以通過(guò)任意波形發(fā)生器反向生成所捕獲的頻譜數據,以模擬實(shí)際環(huán)境
消費電子產(chǎn)品:數字視頻測試
另一項需要長(cháng)時(shí)間采集測試波形的應用便是數字視頻測試DVI標準支持LCD顯示器和平板等離子顯示器
新的技術(shù)需要更高的時(shí)鐘速率,因此生成和采集移動(dòng)DVI顯示圖形甚至需要更長(cháng)的波形
對于利用DVI輸出精確測試現代機頂盒時(shí),長(cháng)時(shí)間生成或采集數字視頻模式的能力變得非常關(guān)鍵例如,測試當天的機頂盒的圖像解壓縮和解碼算法,需要移動(dòng)測試模式
由于像素偏移僅在移動(dòng)圖像上發(fā)生,您必須每次持續采集數字信號傳輸達數秒或甚至數分鐘,以檢測這些位誤差
在圖8中,您可以觀(guān)察到像素偏移對數字圖像的影響
圖8傳輸錯誤導致像素偏移的發(fā)生
借助PXI Express,您可以利用現成可用的RAID硬盤(pán)驅動(dòng)器配置,持續采集DVI圖像長(cháng)達數分鐘或者甚至數小時(shí)例如,您可以配置NI PXIe-6537高速數字I/O模塊,從而以高達200 MB/s的速率持續數小時(shí)(2.5小時(shí) = 1.8 TB)實(shí)現數據流導入磁盤(pán)
因而,您可以利用現成可用的快速PXI儀器執行準確的數字視頻像素偏移測試
總結
利用PXI平臺,您可以實(shí)現:
靈活的、軟件定義的測量
模塊化儀器的集成
高數據吞吐量
憑借這些技術(shù)優(yōu)勢,PXI儀器系統使得各種應用獲益匪淺,其中包括RF與通信測量、混合信號ASIC表征、信號情報和數字視頻測試等而且,雖然PXI平臺業(yè)已提供了所有這些技術(shù)優(yōu)勢,但是PXI Express通過(guò)利用PCIe總線(xiàn)大幅提高吞吐量,顯著(zhù)改進(jìn)了該平臺的性能
因而,您可以創(chuàng )建高精度的自動(dòng)化測試系統,與以往系統相比,該系統不僅測試時(shí)間更短,而且測試能力也更為強大
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