單片機與FPGA在信號測試中的重要作用解析方案

1 引言

在學(xué)習《電子線(xiàn)路》、《信號處理》等電子類(lèi)課程時(shí)，高校學(xué)生只是從理論上理解真正的信號特征。不能真正了解或觀(guān)察測試某些信號。而幅頻特性和相頻特性是信號最基本的特征.這里提出了基于單片機和FPGA的頻率特性測試儀的設計方案，可使學(xué)生在實(shí)踐中真正觀(guān)察和測試信號的頻率特性。

2 設計方案

該系統設計采用掃頻測試法。設頻率響應為H(jω)，實(shí)系數線(xiàn)性時(shí)，不變系統在正弦信號x(n)=Acos(ω0n+ψ)的激勵下的穩態(tài)輸出為y(n)。利用三角恒等式，將輸入x(n)表示為兩個(gè)復數指數函數之和：

若輸入為exp(jω0n)，線(xiàn)性時(shí)不變系統穩態(tài)輸出為H(exp(jω0n))exp(jω0n)。根據線(xiàn)性性質(zhì)可知，輸入g(n)的響應v(n)為：

同理，輸入g*(n)的輸出為v*(n)是v(n)的復數共軛。于是輸出y(n)的表達式：

由上可知，當系統在正弦信號的激勵下，輸出響應達到穩態(tài)，這是與輸入激勵信號頻率相同的正弦波，響應信號與激勵信號幅值比為該頻率的幅頻響應值，而兩者的相位差為相頻特性值。因此采用掃頻法測量頻率特性。

以單片機和FPGA為核心，利用FPGA通過(guò)DDS合成得到且頻率由單片機控制的正弦波作為掃頻信號，將其輸入至待測網(wǎng)絡(luò )，由峰值檢波電路分別測量各掃頻信號對應的輸入網(wǎng)絡(luò )信號和輸出網(wǎng)絡(luò )信號，并由其比例關(guān)系求得待測網(wǎng)絡(luò )的幅頻特性。測量幅度的同時(shí)FPGA利用計數法測量出代表進(jìn)出網(wǎng)絡(luò )信號的相位差的脈沖數，然后送入單片機得到對應頻率點(diǎn)的相角。將各頻點(diǎn)得到的幅度特性和相位特性存入FPGA內部的RAM中，并結合鋸齒波顯示在示波器上。同時(shí)，LCD還顯示掃描頻率的初始值、終止值和步進(jìn)值。定點(diǎn)測量時(shí)，LCD顯示單個(gè)頻率點(diǎn)的幅度和相位。該系統設計框圖如圖1所示。

3 硬件電路設計

3.1 信號產(chǎn)生模塊

利用FPGA內部的DDS信號輸出掃頻信號經(jīng)D/A轉換器形成正弦信號。D/A轉換器選用DAC0800。DAC0800具有8位分辨率，輸出電流建立時(shí)間為100 ns，8位的位寬，工作電壓范圍為±4.5~±18 V。因此，經(jīng)DAC0800所形成的正弦信號有256個(gè)取樣值，完全能滿(mǎn)足系統精度要求。輸出正弦信號的最高頻率為200 kHz，100 ns的速率也滿(mǎn)足系統要求。由于DAC0800只具有從數字量到模擬電流輸出量轉換功能，因此.需增加運算放大器實(shí)現I—V轉換，其轉換電路如圖2所示。DDS信號輸出需要加低通濾波器來(lái)平滑濾波，以減少信號的諧波分量。