安捷倫工程師新著(zhù) X 參數權威書(shū)籍

　　安捷倫科技公司(NYSE：A)日前宣布出版《X 參數：非線(xiàn)性射頻與微波元器件的表征、建模和設計》，該書(shū)闡述了安捷倫突破性的非線(xiàn)性 X 參數測量、建模和仿真技術(shù)。該書(shū)由劍橋大學(xué)出版社出版，包含多個(gè)應用實(shí)例，是一本向讀者介紹 X 參數理論的權威指南。

　　該書(shū)作者為安捷倫科學(xué)家與工程師 David E. Root、Jan Verspecht、Jason Horn 和 Mihai Marcu，他們是 X 參數理論的原創(chuàng )發(fā)明人和開(kāi)發(fā)者，并且這一強大理論被應用于非線(xiàn)性射頻與微波元器件和系統。同時(shí)，該書(shū)的作者也是工業(yè)界和學(xué)術(shù)界公認的建模、仿真和測量科學(xué)領(lǐng)域的權威專(zhuān)家。

　　本書(shū)為 X 參數技術(shù)奠定了基礎，并通過(guò)實(shí)際案例為讀者提供了有用的概算方法。這些概算方法顯著(zhù)降低了非線(xiàn)性元器件和系統的測量、建模和設計復雜程度。本書(shū)還講解了如何利用 X 參數解決在非線(xiàn)性射頻與微波工程中的復雜難題。

　　此外，本書(shū)還包括實(shí)際案例分析、標準符號和表示方法的定義、詳細推導(參見(jiàn)附錄)、練習題及解答。該書(shū)內容豐富，為那些希望了解射頻與微波工程學(xué)最新發(fā)展趨勢的研究人員、工程師、科學(xué)家和學(xué)生提供了權威參考。

　　《X 參數：非線(xiàn)性射頻與微波元器件的表征、建模和設計》可經(jīng)由亞馬遜或劍橋大學(xué)出版社訂購。