5Gbps高速芯片測試技術(shù)

前言

近年來(lái)，數據的大規模傳輸要求變得越來(lái)越普及。擔任這些大量數據處理芯片的標準接口（Interface）基本上都采用的是高速差分串行傳輸方式。

高速串行數據傳送方式有以下的一些特征：

● 數Gbps的傳送數率
● 由于是高速傳送，信號振幅較小，為數百mV程度
● 小振幅的信號傳送時(shí)，為了減小噪聲的影響，都采用的是差分傳送方式
● 對各信號通道間的相位同步?jīng)]有嚴格要求

近年來(lái)對芯片的高速數據處理的要求，使得許多芯片內部都已經(jīng)搭載了高速I(mǎi)F的功能。但是，也正是由于它的高速性能造成芯片的測試變得非常的困難。對這類(lèi)高速I(mǎi)F芯片的初期評價(jià)階段，一般采用的是多種計測器的綜合評價(jià)。但是針對多管腳的高速I(mǎi)F芯片，單純利用計測器的測定，會(huì )面對許多問(wèn)題。

T6683+5G Option

為了實(shí)現精確的高速差分串行信號測試，我們開(kāi)發(fā)了可以對應最大5Gbps差分信號的ATE用高速測試選件。這次開(kāi)發(fā)的可以提供最大5Gbps的高速專(zhuān)用PE（圖1），內藏于A(yíng)TE系統中，其包括：64個(gè)高速輸入專(zhuān)用通道+ 64個(gè)高速輸出專(zhuān)用通道的Dr