MSP430單片機在測試系統中的應用
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狀態(tài)設計是根據被測對象的運動(dòng)規律確定存儲測試系統狀態(tài)組織結構的過(guò)程。它是實(shí)現功能設計的關(guān)鍵，是硬件設計的依據，也是建立基型存儲測試系統的有效手段。狀態(tài)設計可以使設計思想清晰地貫穿于設計和調試的始終，可以不同程度的簡(jiǎn)化原本復雜的設計過(guò)程。
系統的狀態(tài)轉換：系統接通電源后，單片機處于知更狀態(tài)，等待采樣開(kāi)始信號，此時(shí)系統處于超低功耗狀態(tài)，消耗的電流僅約1μA。觸發(fā)信號到來(lái)后，系統開(kāi)始循環(huán)采樣，采樣完畢，存儲器計滿(mǎn)數據后，就停止采樣進(jìn)入低功耗的等待讀數狀態(tài)。在等待讀數狀態(tài)時(shí)，接讀數端口，當單片機的I/O端口接收到計算機發(fā)送的上升沿后，就開(kāi)始向計算機發(fā)送數據，即先從存儲器中將數據讀人單片機，然后再由單片機的串口發(fā)送給計算機，發(fā)送完畢后再次進(jìn)入低功耗狀態(tài)。圖3是系統狀態(tài)圖。本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/173601.htm
5 測試結果
系統測試實(shí)驗由信號發(fā)生器給出頻率為1 Hz的正弦波，數據采集完畢后讀數情況如圖4所示。系統完全實(shí)現觸發(fā)和采樣過(guò)程。圖4是通過(guò)實(shí)驗得到的單通道測試波形圖，得到的輸出與所給的輸入信號完全一致，充分說(shuō)明此方案是可行的。
6 結束語(yǔ)
采用MSP430系列單片機設計測試系統，利用MSP430系列單片機內部提供的12 bit的A／D轉換器進(jìn)行數據采集，這種方式大大簡(jiǎn)化電路設計，并能使測量結果達到較高精度；而且由于MSP430系列單片機超低功耗的設計，使測試系統具有體積小，低功耗，抗干擾能力強，無(wú)引線(xiàn)等特點(diǎn)。
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